[發明專利]能量校正方法、裝置、設備、系統及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202011193243.3
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112415569B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發明（設計）人: 房磊;張博;肖鵬
• 申請（專利權）人: 湖北銳世數字醫學影像科技有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種能量校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

采用目標探測器和參考探測器對一個特定放射源產生的能量已知的粒子進行同步探測，采集在多個時間段內測得的多個探測結果；

在所采集的每個所述探測結果中，選取所述粒子在所述目標探測器和所述參考探測器中的閃爍晶體內完全沉積的至少一對散射事件；

根據在所選取的所有對所述散射事件中所述目標探測器實際測得的粒子能量、所述參考探測器實際測得的粒子能量以及所述粒子的真實能量對所述目標探測器進行能量校正。

2.根據權利要求1所述的能量校正方法，其特征在于，所述參考探測器為線性探測器，并且預先通過以下方式對所述參考探測器進行能量校正：

根據所述參考探測器單獨對參考放射源發出的粒子進行探測后獲得的粒子能量以及所述粒子的真實能量來確定校正參數，并且根據所述校正參數對所述參考探測器進行能量校正。

3.根據權利要求1所述的能量校正方法，其特征在于，所述參考探測器為非線性探測器，并且預先通過以下方式先對所述參考探測器進行能量校正：

根據所述參考探測器單獨對多個能量不同的參考放射源發出的粒子進行探測后獲得的多個粒子能量以及每個所述粒子的真實能量來確定校正參數，并且根據所述校正參數對所述參考探測器進行能量校正。

4.根據權利要求1所述的能量校正方法，其特征在于，針對每個所述探測結果，選取至少一對所述散射事件的步驟包括：

對所采集的所述目標探測器測得的目標探測數據和所述參考探測器測得的參考探測數據進行符合判斷，以篩選出所述目標探測數據中的時間在預設時間窗內的第一符合事件和所述參考探測數據中的時間在所述預設時間窗內的第二符合事件，其中，所述探測結果包括所述目標探測數據和所述參考探測數據；

從篩選出的所述第一符合事件和所述第二符合事件中選取滿足以下條件的所有符合事件：所述第一符合事件所對應的能量與所述第二符合事件所對應的能量之和與所述粒子的真實能量之差最小；

將所選取的每個所述第一符合事件與對應的一個所述第二符合事件確定為一對所述散射事件。

5.根據權利要求1或4所述的能量校正方法，其特征在于，對所述目標探測器進行能量校正的步驟包括：

針對每對所述散射事件，計算所述粒子的真實能量與所述參考探測器實際測得的所述粒子能量之間的差值，并且將該差值作為所述目標探測器理應測得的粒子的真實能量；

確定所述目標探測器理應測得的粒子的真實能量與實際測得的所述粒子能量之間的對應關系，以根據所述對應關系對所述目標探測器進行能量校正。

6.一種能量校正裝置，其特征在于，包括：

采集單元，其被配置為采集目標探測器和參考探測器對一個特定放射源產生的粒子進行同步探測時在多個時間段內測得的多個探測結果；

選取單元，其被配置為在所采集的每個所述探測結果中，選取所述粒子在所述目標探測器和所述參考探測器中的閃爍晶體內完全沉積的至少一對散射事件；

校正單元，其被配置為根據在所選取的所有所述散射事件中所述目標探測器實際測得的粒子能量、所述參考探測器實際測得的粒子能量以及所述特定放射源產生的粒子的真實能量對所述目標探測器進行能量校正。

7.根據權利要求6所述的能量校正裝置，其特征在于，所述選取單元具體被配置為針對每個所述探測結果執行以下操作：

對所采集的所述目標探測器測得的目標探測數據和所述參考探測器測得的參考探測數據進行符合判斷，以篩選出所述目標探測數據中的時間在預設時間窗內的第一符合事件和所述參考探測數據中的時間在所述預設時間窗內的第二符合事件，其中，所述探測結果包括所述目標探測數據和所述參考探測數據；

從篩選出的所述第一符合事件和所述第二符合事件中選取滿足以下條件的所有符合事件：所述第一符合事件所對應的能量與所述第二符合事件所對應的能量之和與所述粒子的真實能量之差最小；

將所選取的每個所述第一符合事件與對應的一個所述第二符合事件確定為一對所述散射事件。