[發(fā)明專利]一種光刻膠剝離方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011188937.8 | 申請日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN114442443A | 公開(公告)日: | 2022-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉聯(lián);彭泰彥;車東晨;吳愧;許開東;胡冬冬 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇魯汶儀器有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/42 | 分類號: | G03F7/42;H01L21/027 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 王美章 |
| 地址: | 221300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光刻 剝離 方法 | ||
本發(fā)明提出了一種光刻膠剝離方法,采用一具有光刻膠的晶圓,其包括:首先將晶圓放置于一刻蝕腔體內(nèi);刻蝕腔體內(nèi)設(shè)置一開設(shè)有多個(gè)通孔的勻氣盤;晶圓置于勻氣盤和微波源之間;然后自晶圓的上方,先后向刻蝕腔體內(nèi)通入氧氣和水,以對光刻膠的表層部分進(jìn)行軟化過程;之后將通入的氧氣和水均排出;之后自晶圓的上方,向刻蝕腔體內(nèi)通入0.2~0.5g水并同時(shí)啟動(dòng)微波源,微波源將水氣電離成離子狀態(tài),離子狀態(tài)的水氣經(jīng)勻氣盤下降至晶圓,以吸收晶圓上附著的氯離子;最后按照預(yù)設(shè)干法去膠參數(shù),進(jìn)行干法去膠,以將光刻膠的表層部分及光刻膠剝離。本發(fā)明通過設(shè)置勻氣盤、軟化過程和干法去膠過程中的參數(shù),提高了光刻膠的去膠均勻性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體行業(yè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光刻膠剝離方法。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)主流去膠方法采用濕法去膠,成本低效率高,但隨著技術(shù)不斷迭代更新,越來越多IC制造商開始采用干法式去膠,干法式去膠工藝不同于傳統(tǒng)的濕法式去膠工藝,它不需要浸泡化學(xué)溶劑,也不用烘干,去膠過程更容易控制,避免過多算上基底,提高產(chǎn)品成品率。干法式去膠又被稱為等離子去膠,其原理同等離子清洗類似,主要通過氧原子核和光刻膠在等離子體環(huán)境中發(fā)生反應(yīng)來去除光刻膠,由于光刻膠的基本成分是碳?xì)溆袡C(jī)物,在射頻或微波作用下,氧氣電離成氧原子并與光刻膠發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成一氧化碳,二氧化碳和水等,再通過泵被真空抽走,完成光刻膠的去除。
在干法去膠過程中,去膠均勻性是判斷去膠質(zhì)量的主要因素。然而傳統(tǒng)干法去膠過程中,光刻膠的去膠均勻太差,影響生產(chǎn)效率,進(jìn)而影響整個(gè)產(chǎn)品的成品率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種光刻膠剝離方法,通過設(shè)置勻氣盤、軟化過程和干法去膠過程中的參數(shù),提高了光刻膠的去膠均勻性。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種光刻膠剝離方法,采用一具有光刻膠的晶圓,包括以下步驟:
步驟01:將所述晶圓放置于一刻蝕腔體內(nèi);所述刻蝕腔體內(nèi)設(shè)置一開設(shè)有多個(gè)通孔的勻氣盤;所述晶圓置于勻氣盤和微波源之間;
步驟02:自所述晶圓的上方,先后向所述刻蝕腔體內(nèi)通入氧氣和水,以對所述光刻膠的表層部分進(jìn)行軟化過程;
步驟03:將步驟02中通入的氧氣和水均排出;
步驟04:自所述晶圓的上方,向所述刻蝕腔體內(nèi)通入0.2~0.5g水并同時(shí)啟動(dòng)所述微波源,水在下降過程中形成水氣,所述微波源將水氣電離成離子狀態(tài),離子狀態(tài)的水氣經(jīng)勻氣盤下降至所述晶圓,以吸收所述晶圓上附著的氯離子;
步驟05:按照預(yù)設(shè)干法去膠參數(shù),進(jìn)行干法去膠,以將所述光刻膠的表層部分及光刻膠剝離;其中,所述預(yù)設(shè)干法去膠參數(shù)包括氧氣的流量和氮?dú)獾牧髁?;所述氧氣和氮?dú)饩运鼍A的上方,通入所述刻蝕腔體內(nèi);
同時(shí)自所述晶圓的上方,繼續(xù)向所述刻蝕腔體內(nèi)通入0.2~0.5g水,以吸收所述晶圓上附著的氯離子。
優(yōu)選地,步驟04中,微波源的射頻功率為1000~1400W;刻蝕腔體的反應(yīng)壓力為2000~8000mtorr。
優(yōu)選地,步驟05中,所述預(yù)設(shè)干法去膠參數(shù)還包括射頻功率和刻蝕腔體的反應(yīng)壓力;微波源的射頻功率為1000-1400W;刻蝕腔體的反應(yīng)壓力為2000~8000mtorr。
優(yōu)選地,步驟05中,所述氧氣流量為2000~4000sccm、氮?dú)饬髁繛?00~800sccm。
優(yōu)選地,在步驟02中,通入的氧氣總流量為3500sccm,通入時(shí)間為30s;通入的水總量為0.6g,通入時(shí)間為30s。
優(yōu)選地,在步驟01中,所述勻氣盤由石英材料制成。
優(yōu)選地,在步驟01中,所述勻氣盤包括N圈通孔單元,其中,N≥1;所述通孔單元包括沿圓周分布的若干所述通孔;所述通孔單元的半徑不同。
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