[發明專利]兼容檢測電路及其過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測方法

在審

• 申請號: 202011183341.9
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112595951A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 李玉;聶顯權;梁劍明;潘葉江
• 申請（專利權）人: 華帝股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R19/175
• 代理公司: 深圳市合道英聯專利事務所(普通合伙) 44309
• 代理人: 廉紅果

1.一種兼容檢測電路，其特征在于，包括二極管開關模塊、光耦檢測模塊和控制模塊，所述光耦檢測模塊電連接二極管開關模塊和控制模塊，所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊，所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形以用于進行過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測。

2.根據權利要求1所述的兼容檢測電路，其特征在于，所述二極管開關模塊包括第五二極管D5、第六二極管D6、第七二極管D7、第八二極管D8和開關K2，所述第五二極管D5的陽極并聯火線和開關K2的一端，所述開關K2的另一端連接第七二極管D7的陰極，所述第七二極管D7的陽極連接第八二極管D8的陽極，所述第八二極管D8的陰極并聯零線和第六二極管D6的陽極，所述第六二極管D6的陰極連接第五二極管D5的陰極。

3.根據權利要求2所述的兼容檢測電路，其特征在于，所述光耦檢測模塊包括第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第五電容C5、第六電容C6和光電耦合器U2，所述第五電阻R5的一端連接第五二極管D5和第六二極管D6的公共連接端，所述第五電阻R5的另一端并聯第六電阻R6的一端、第五電容C5的一端和光電耦合器U2的第一引腳，所述第六電阻R6的另一端、第五電容C5的另一端和光電耦合器U2的第二引腳均連接第七二極管D7和第八二極管D8的公共連接端，所述光電耦合器U2的第四引腳并聯第七電阻R7的一端和第六電容C6的一端，所述第七電阻R7的另一端連接電源，所述第六電容C6的另一端和光電耦合器U2的第三引腳均接地。

4.根據權利要求3所述的兼容檢測電路，其特征在于，所述控制模塊的第七引腳連接第七電阻R7和第六電容C6的公共連接端，所述控制模塊的第一引腳連接電源，所述控制模塊的第六引腳接地。

5.一種應用權利要求1-4任一項所述的兼容檢測電路的過零檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊；

S2、所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形；

S3、所述控制模塊判斷是否檢測到脈沖波形的上升沿，若是，則判斷為過零點，反之，則不是過零點。

6.一種應用權利要求1-4任一項所述的兼容檢測電路的門檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊；

S2、所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形；

S3、所述控制模塊將脈沖波形的脈沖寬度與預設的脈沖寬度進行比較，進而判斷門的打開和關閉狀態。

7.根據權利要求6所述的門檢測方法，其特征在于，所述S3包括如下步驟：

S31、所述控制模塊根據二極管開關模塊的打開脈沖波形獲取第一脈沖寬度T1，所述控制模塊根據二極管開關模塊的關閉脈沖波形獲取第二脈沖寬度T2；

S32、將所述第一脈沖寬度T1與預設的第三脈沖寬度T3進行比較，若所述第一脈沖寬度T1在誤差范圍內，則判斷為開門，將所述第二脈沖寬度T2與預設的第四脈沖寬度T4進行比較，若所述第二脈沖寬度T2在誤差范圍內，則判斷為關門。

8.根據權利要求7所述的門檢測方法，其特征在于，所述S32，還包括，若所述第一脈沖寬度T1與預設的第三脈沖寬度T3的比較結果不在誤差范圍內，則不作處理，若所述第二脈沖寬度T2與預設的第四脈沖寬度T4的比較結果不在誤差范圍內，則不作處理。

9.根據權利要求7或8所述的門檢測方法，其特征在于，所述T1＝T3±5mS，所述T2＝T4±5mS。

10.一種應用權利要求1-4任一項所述的兼容檢測電路的掉地記憶檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊；

S2、所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形；

S3、所述控制模塊檢測固定周期內脈沖波形的個數，并判斷是否大于預設的脈沖個數閾值，若大于，則判斷為有電狀態，反之，則判斷為掉電狀態，在所述掉電狀態下，所述控制模塊將當前狀態進行保存，在掉電恢復再來電時，則繼續接掉電時狀態繼續工作。