[發明專利]兼容檢測電路及其過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測方法

在審

• 申請號: 202011183341.9
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112595951A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 李玉;聶顯權;梁劍明;潘葉江
• 申請（專利權）人: 華帝股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R19/175
• 代理公司: 深圳市合道英聯專利事務所(普通合伙) 44309
• 代理人: 廉紅果

本發明公開了一種兼容檢測電路及其過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測方法，其中，兼容檢測電路包括光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊，所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形以用于進行過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測。本發明的一種兼容檢測電路，通過光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊，所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形以用于進行過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測，從而只占用MCU一個AD口資源，只有一路電路，即可同時進行零檢測、門檢測和掉電記憶檢測，節省元器件，降低成本，節省PCB排布空間。

技術領域

本發明屬于地線檢測技術領域，具體涉及一種兼容檢測電路及其過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測方法。

背景技術

市場上的洗碗機、蒸烤一體機控制器在做過零檢測和門檢測時都是分開兩路電路或者兩種電路單獨進行檢測，但是，這種檢測方式需要占用兩個MCU的AD口資源，從而導致多占用MCU一個AD口資源，隨之導致產生元器件增多，成本增加，占用PCB排布空間等弊端。

發明內容

為了解決上述問題，本發明提供一種兼容檢測電路，只占用MCU一個AD口資源，只有一路電路，即可同時進行零檢測、門檢測和掉電記憶檢測，節省元器件，降低成本，節省PCB排布空間。

本發明的另一目的是提供一種過零檢測方法。

本發明的另一目的是提供一種門檢測方法。

本發明的另一目的是提供一種掉地記憶檢測方法。

本發明所采用的技術方案是：

一種兼容檢測電路，包括二極管開關模塊、光耦檢測模塊和控制模塊，所述光耦檢測模塊電連接二極管開關模塊和控制模塊，所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊，所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形以用于進行過零檢測、門檢測和掉電記憶檢測。

優選地，所述二極管開關模塊包括第五二極管D5、第六二極管D6、第七二極管D7、第八二極管D8和開關K2，所述第五二極管D5的陽極并聯火線和開關K2的一端，所述開關K2的另一端連接第七二極管D7的陰極，所述第七二極管D7的陽極連接第八二極管D8的陽極，所述第八二極管D8的陰極并聯零線和第六二極管D6的陽極，所述第六二極管D6的陰極連接第五二極管D5的陰極。

優選地，所述光耦檢測模塊包括第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第五電容C5、第六電容C6和光電耦合器U2，所述第五電阻R5的一端連接第五二極管D5和第六二極管D6的公共連接端，所述第五電阻R5的另一端并聯第六電阻R6的一端、第五電容C5的一端和光電耦合器U2的第一引腳，所述第六電阻R6的另一端、第五電容C5的另一端和光電耦合器U2的第二引腳均連接第七二極管D7和第八二極管D8的公共連接端，所述光電耦合器U2的第四引腳并聯第七電阻R7的一端和第六電容C6的一端，所述第七電阻R7的另一端連接電源，所述第六電容C6的另一端和光電耦合器U2的第三引腳均接地。

優選地，所述控制模塊的第七引腳連接第七電阻R7和第六電容C6的公共連接端，所述控制模塊的第一引腳連接電源，所述控制模塊的第六引腳接地。

本發明的另一個技術方案是這樣實現的：

一種應用所述的兼容檢測電路的過零檢測方法，包括如下步驟：

S1、所述光耦檢測模塊根據二極管開關模塊的打開和關閉輸出高、低電平至控制模塊；

S2、所述控制模塊根據光耦檢測模塊的高、低電平獲取脈沖波形；

S3、所述控制模塊判斷是否檢測到脈沖波形的上升沿，若是，則判斷為過零點，反之，則不是過零點。

本發明的另一個技術方案是這樣實現的：