[發(fā)明專利]測(cè)值針在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011180347.0 | 申請(qǐng)日： | 2020-10-29 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN112198347A | 公開（公告）日： | 2021-01-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 柯曉慶;黎育明 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 東莞市冠菱精密設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R1/067 | 分類號(hào)： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京君泊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11496 | 代理人： | 王程遠(yuǎn) |
| 地址： | 523957 廣*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測(cè)值針 | ||
1.測(cè)值針，其特征在于：包括切膜刀口(1)、接觸斜面(2)、切編帶物料刀口(3)、測(cè)值線安裝孔(4)，所述切膜刀口(1)前端設(shè)置有所述接觸斜面(2)，所述切膜刀口(1)后端設(shè)置有所述切編帶物料刀口(3)，所述切膜刀口(1)上端連接測(cè)值固定位(5)，所述測(cè)值固定位(5)上設(shè)置有所述測(cè)值線安裝孔(4)，所述切膜刀口(1)和覆膜之間設(shè)置有測(cè)值口(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)值針，其特征在于：所述切膜刀口(1)刀尖寬度為0.1至1.0，所述切編帶物料刀口(3)利邊30度至60度容易刺破及耐磨，所述測(cè)值口(6)與覆膜接觸方式為從覆膜電子元件二測(cè)面向下扎刺破覆膜向內(nèi)夾接觸電子元件測(cè)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)值針，其特征在于：所述切膜刀口(1)刀尖寬度為0.1至1.0，所述切編帶物料刀口(3)利邊30度至60度容易刺破及耐磨，所述測(cè)值口(6)與覆膜接觸方式為刀尖從電子元件上面觸點(diǎn)位向下扎刺破覆膜接觸電子元件測(cè)值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)值針，其特征在于：所述切膜刀口(1)刀尖寬度為0.1至1.0，所述接觸斜面(2)角度為5度到45度，所述切編帶物料刀口(3)利邊30度至60度容易刺破及耐磨，所述測(cè)值口(6)與覆膜接觸方式為從覆膜電子元件上面觸點(diǎn)位向下扎刺破覆膜接觸電子元件測(cè)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)值針，其特征在于：所述切膜刀口(1)后側(cè)面和所述切編帶物料刀口(3)之間設(shè)置有切膜刀角(7)，所述切膜刀口(1)和所述測(cè)值固定位(5)之間設(shè)置有避空臺(tái)階(8)，所述切膜刀口(1)刀尖寬度為0.1至1.0，所述切編帶物料刀口(3)利邊30度至60度容易刺破及耐磨，所述切膜刀角(7)為30度到120度，所述測(cè)值口(6)與覆膜接觸方式為從電子元件二測(cè)面向下扎刺破覆膜向內(nèi)夾接觸電子元件測(cè)值。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
