[發(fā)明專(zhuān)利]拋光墊、其制備方法及使用其制備半導(dǎo)體器件的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011179547.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112743450B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭恩先;尹鐘旭;尹晟勛;徐章源 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | SKC索密思株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | B24B37/24 | 分類(lèi)號(hào): | B24B37/24;B24B37/10;C08L75/04;C08J9/04;H01L21/306 |
| 代理公司: | 上海弼興律師事務(wù)所 31283 | 代理人: | 王衛(wèi)彬 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 拋光 制備 方法 使用 半導(dǎo)體器件 | ||
本發(fā)明提供了一種拋光墊、其制備方法及使用其制備半導(dǎo)體器件的方法。根據(jù)一個(gè)實(shí)施方案的拋光墊可調(diào)節(jié)存在于拋光層中的元素的含量,從而控制拋光墊與拋光顆粒之間的結(jié)合強(qiáng)度,并增加拋光顆粒和半導(dǎo)體襯底之間的結(jié)合強(qiáng)度,從而提高拋光速率。不僅可以提高拋光墊的機(jī)械性能,例如硬度、拉伸強(qiáng)度、伸長(zhǎng)率和模量,而且可以提高鎢層或氧化層的拋光速率。因此,可以使用拋光墊有效地制造高質(zhì)量的半導(dǎo)體器件。
技術(shù)領(lǐng)域
實(shí)施方案涉及用于半導(dǎo)體的化學(xué)機(jī)械平坦化(CMP)工藝中的拋光墊、其制備方法以及使用其制備半導(dǎo)體器件的方法。
背景技術(shù)
制備半導(dǎo)體的工藝中的化學(xué)機(jī)械平坦化(CMP)工藝,是指將半導(dǎo)體襯底例如晶圓固定在磁頭上,并與安裝在壓板上的拋光墊表面接觸,然后在壓板和磁頭相對(duì)移動(dòng)的同時(shí),通過(guò)供給漿料對(duì)半導(dǎo)體襯底的表面進(jìn)行化學(xué)處理,從而對(duì)半導(dǎo)體襯底上的不規(guī)則部分進(jìn)行機(jī)械平坦化的步驟。
拋光墊是在這種CMP工藝中起重要作用的必須部件。一般來(lái)說(shuō),拋光墊由聚氨酯類(lèi)樹(shù)脂構(gòu)成,其通過(guò)包含由二異氰酸酯和多元醇反應(yīng)獲得的預(yù)聚物、固化劑、發(fā)泡劑等的組合物制備而成。
氨基甲酸酯類(lèi)預(yù)聚物的性質(zhì)和物理性質(zhì)可能隨聚合時(shí)使用的二異氰酸酯化合物和多元醇的種類(lèi)和含量而變化,其物理性質(zhì)可能顯著影響CMP工藝的性能。因此,二異氰酸酯化合物和多元醇的種類(lèi)和含量是影響CMP工藝中的拋光墊性能的關(guān)鍵因素,其不僅影響聚氨基甲酸酯預(yù)聚物的物理性質(zhì),還影響拋光墊的物理性質(zhì)。
此外,由于在CMP工藝中,由上述組分制備的拋光墊的拋光層直接與半導(dǎo)體襯底的表面相互作用,因此可能會(huì)影響半導(dǎo)體襯底表面的加工質(zhì)量。特別地,CMP工藝中的拋光速率敏感地隨拋光層的成分和物理性質(zhì)而變化。
因此,為了提高CMP工藝中的拋光速率,迫切需要開(kāi)發(fā)一種通過(guò)調(diào)節(jié)拋光層的成分和物理性質(zhì),設(shè)計(jì)出具有最佳物理性質(zhì)范圍和拋光速率的拋光墊。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問(wèn)題
基于對(duì)以下認(rèn)識(shí)的持續(xù)研究的結(jié)果:在拋光墊的制備中使用的組分的種類(lèi)和含量對(duì)半導(dǎo)體襯底的表面的加工質(zhì)量有影響,這可能會(huì)敏感地改變拋光速率。研究發(fā)現(xiàn),包括拋光墊的硬度在內(nèi)的物理性質(zhì)隨著拋光層中各個(gè)元素的含量的變化而顯著變化,并且拋光墊與拋光顆粒之間的結(jié)合強(qiáng)度,以及拋光顆粒與半導(dǎo)體襯底之間的結(jié)合強(qiáng)度也會(huì)發(fā)生改變,從而對(duì)拋光速率等CMP性能產(chǎn)生影響。
因此,本實(shí)施方案的一個(gè)目的是提供一種拋光墊,通過(guò)調(diào)節(jié)拋光層中氧(O)元素的含量和氮(N)和氧(O)元素的總含量,可以顯著提高拋光速率。
本實(shí)施方案的另一個(gè)目的是提供一種拋光墊,通過(guò)調(diào)節(jié)拋光層中氮(N)元素的含量以及氮(N)、碳(C)、氧(O)和氫(H)元素的總含量,可以顯著提高其物理性質(zhì)。
本實(shí)施方案的另一個(gè)目的是提供一種制備拋光墊的方法和使用該拋光墊制備半導(dǎo)體器件的方法。
技術(shù)問(wèn)題的解決方案
根據(jù)一個(gè)實(shí)施方案,提供了一種拋光墊,其包括拋光層,所述的拋光層包括包含氨基甲酸酯類(lèi)預(yù)聚物(urethane-based?prepolymer)、固化劑和發(fā)泡劑的組合物的固化產(chǎn)物,其中,基于拋光層的總重量,所述的拋光層中氧(O)元素的含量為15%~19%(重量%),基于拋光層的總重量,所述的拋光層中氮(N)和氧(O)元素的總含量為的20%~27%(重量%)。
根據(jù)另一個(gè)實(shí)施方案,提供了一種拋光墊,其包括拋光層,所述的拋光層包括包含氨基甲酸酯類(lèi)預(yù)聚物、固化劑和發(fā)泡劑的組合物的固化產(chǎn)物,其中,基于拋光層的總重量,所述的拋光層中氮(N)元素的含量為7%以上(重量%),基于拋光層的總重量,所述的拋光層中氮(N)、碳(C)、氧(O)和氫(H)元素的總含量為90%~96%(重量%)。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于SKC索密思株式會(huì)社,未經(jīng)SKC索密思株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011179547.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





