[發明專利]一種基于缺陷分析的精準測試分析方法、裝置

有效

• 申請號: 202011174762.5
• 申請日: 2020-10-28
• 公開（公告）號: CN112463584B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 劉青杰
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 李舜江

本發明提供一種基于缺陷分析的精準測試分析方法、裝置,該方法包括如下步驟：將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點；使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數；根據遺留缺陷數、滿足功能出口條件的缺陷發現率及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值；分析缺陷功能點的關聯關系及關聯概率，計算缺陷功能點的關聯風險值；根據基礎風險值、缺陷功能點的關聯風險值，計算缺陷功能點的風險值；根據缺陷功能點的風險值選取測試用例。能有效的提升測試命中率，提升版本測試質量、效率，有效的保障產品固有的業務功能，為回歸驗證范圍確定提供支持。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，具體涉及一種基于缺陷分析的精準測試分析方法、裝置。

背景技術

當前軟件項目產品，被測系統隨著版本的疊加，功能越來越多，采用周期發布升級版本的產品，在最后的系統測試期間，往往要面對固有功能的測試保障問題。在人力、時間有限的情況下，如何精準投入到風險模塊、風險功能中，特別是產品的固有功能如何保障，那些功能自動化測試就能滿足需要，那些需要人工重點驗證，這些往往是通過測試管理者的經驗和時間倒推出來的，缺乏有效的評估支撐。

現有精準測試主要集中在建立代碼和用例之間的關聯關系，利用這種關系實現雙向回溯，智能回歸測試用例選取、覆蓋率分析、缺陷定位、測試用例聚類分析、測試用例自動生成。缺乏對缺陷的分析預測，不能定位風險點。

發明內容

針對現有精準測試主要集中在建立代碼和用例之間的關聯關系，利用這種關系實現雙向回溯，智能回歸測試用例選取、覆蓋率分析、缺陷定位、測試用例聚類分析、測試用例自動生成。缺乏對缺陷的分析預測，不能定位風險點的問題，本發明提供一種基于缺陷分析的精準測試分析方法、裝置。

本發明的技術方案是：

一方面，本發明技術方案提供一種基于缺陷分析的精準測試分析方法，包括如下步驟：

將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點；

使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數；

根據遺留缺陷數、滿足功能出口條件的缺陷發現率及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值；

分析缺陷功能點的關聯關系及關聯概率，計算缺陷功能點的關聯風險值；

根據基礎風險值、缺陷功能點的關聯風險值，計算缺陷功能點的風險值；

根據缺陷功能點的風險值選取測試用例。

進一步的，將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點的步驟之前包括：

獲取缺陷樣本數據，構造字典。

進一步的，將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點的步驟包括：

歸納出缺陷樣本數據對應的管理對象、管理對象支持的管理動作；

使用基于字典的分詞算法，正向最大匹配出每個缺陷對應的管理對象和管理動作，組成缺陷對應的業務功能表；其中業務功能表包括缺陷功能點、缺點創建時間以及缺陷級別。

進一步的，使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數的步驟包括：

根據業務功能表生成缺陷統計數據，其中，缺陷統計數據包括缺陷功能點以及缺陷功能點對應的累計DI值；

使用Gompertz缺陷分析法，分析出每個缺陷功能點趨勢曲線以及對應的累計DI值曲線；

進行缺陷功能點遺留DI值的估算，其中DI值為缺陷數的加權值。

進一步的，根據滿足功能出口條件的缺陷數及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值的步驟中，基礎風險值fo_r＝Y*(T/TR)；