[發明專利]一種基于缺陷分析的精準測試分析方法、裝置

有效

• 申請號: 202011174762.5
• 申請日: 2020-10-28
• 公開（公告）號: CN112463584B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 劉青杰
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 李舜江

1.一種基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點；

使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數；

根據遺留缺陷數、滿足功能出口條件的缺陷發現率及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值；

分析缺陷功能點的關聯關系及關聯概率，計算缺陷功能點的關聯風險值；

根據基礎風險值、缺陷功能點的關聯風險值，計算缺陷功能點的風險值；

根據缺陷功能點的風險值選取測試用例。

2.根據權利要求1所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點的步驟之前包括：

獲取缺陷樣本數據，構造字典。

3.根據權利要求2所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點的步驟包括：

歸納出缺陷樣本數據對應的管理對象、管理對象支持的管理動作；

使用基于字典的分詞算法，正向最大匹配出每個缺陷對應的管理對象和管理動作，組成缺陷對應的業務功能表；其中業務功能表包括缺陷功能點、缺點創建時間以及缺陷級別。

4.根據權利要求3所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數的步驟包括：

根據業務功能表生成缺陷統計數據，其中，缺陷統計數據包括缺陷功能點以及缺陷功能點對應的累計DI值；

使用Gompertz缺陷分析法，分析出每個缺陷功能點趨勢曲線以及對應的累計DI值曲線；

進行缺陷功能點遺留DI值的估算，其中，DI值為缺陷數的加權值。

5.根據權利要求4所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，根據遺留DI值及滿足功能出口條件的缺陷發現率及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值的步驟中，基礎風險值fo_r＝Y*(T/TR)；

其中，Y:滿足缺陷出口條件的缺陷數；

T：項目原有人力投入需要的時間；

TR：項目規劃時間。

6.根據權利要求5所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，分析關聯關系及關聯概率，計算缺陷功能點的關聯風險值的步驟包括：

將預處理出來的缺陷功能點做遍歷后處理建立每個缺陷功能點的關聯關系以及對應的關聯概率；

計算缺陷功能點的關聯風險值；其中，缺陷功能點的關聯風險值等于與該缺陷功能點有關聯關系的各個缺陷功能點的基礎風險值乘以對應的關聯概率的和。

7.根據權利要求6所述的基于缺陷分析的精準測試分析方法，其特征在于，根據基礎風險值、缺陷功能點的關聯風險值，計算缺陷功能點的風險值的步驟包括：

將基礎風險值與缺陷功能點的關聯風險值相加，得出缺陷功能點的風險值。

8.一種基于缺陷分析的精準測試分析裝置，其特征在于，包括缺陷預處理模塊、遺留缺陷風險值估算模塊、基礎風險值確定模塊，關聯業務評估模塊、綜合計算風險模塊和測試用例選取模塊；

缺陷預處理模塊，用于將缺陷樣本進行缺陷預處理，分析出缺陷功能點；

遺留缺陷風險值估算模塊，用于使用缺陷分析法計算缺陷功能點的遺留缺陷數；

基礎風險值確定模塊，用于根據遺留缺陷數及滿足功能出口條件的缺陷發現率及項目規劃的測試時間，確定基礎風險值；

關聯業務評估模塊，用于分析缺陷功能點的關聯關系及關聯概率，計算缺陷功能點的關聯風險值；

綜合計算風險模塊，用于根據基礎風險值、缺陷功能點的關聯風險值，計算缺陷功能點的風險值；

測試用例選取模塊，用于根據缺陷功能點的風險值選取測試用例。

9.根據權利要求8所述的基于缺陷分析的精準測試分析裝置，其特征在于，該裝置還包括預處理模塊；

預處理模塊，用于獲取缺陷樣本數據，構造字典。

10.根據權利要求9所述的基于缺陷分析的精準測試分析裝置，其特征在于，缺陷預處理模塊包括歸納單元、匹配單元；

歸納單元，用于歸納出缺陷樣本數據對應的管理對象、管理對象支持的管理動作；

匹配單元，用于使用基于字典的分詞算法，正向最大匹配出每個缺陷對應的管理對象和管理動作，組成缺陷對應的業務功能表；其中業務功能表包括缺陷功能點、缺點創建時間以及缺陷級別。