[發(fā)明專利]一種涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011172377.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112326669A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙輝;呂永勝;王向偉;彭銳暉;沙建軍;陳宗陽(yáng);趙博;張公韜;仇吉業(yè) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工程大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/88 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/88;G01N21/84;G01N21/01;B05B3/02 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 涂層 缺陷 檢測(cè) 標(biāo)記 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng)及方法,涉及圖像采集處理技術(shù),屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,用于檢測(cè)汽車(chē)車(chē)體表面涂層缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行標(biāo)記。該系統(tǒng)包括:照明裝置1、檢測(cè)車(chē)間支架2、待檢測(cè)車(chē)體3、軌道4、支撐底座5、軌道移動(dòng)裝置6、機(jī)械臂7、照明光源8、缺陷標(biāo)記裝置9、圖像采集裝置10、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)11。本發(fā)明可對(duì)整車(chē)表面涂層進(jìn)行缺陷檢測(cè),對(duì)涂層缺陷進(jìn)行分類(lèi),并以特定顏色的溶液進(jìn)行缺陷標(biāo)記,對(duì)涂層缺陷實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化、流水線檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像采集處理技術(shù),屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng)。
背景技術(shù)
無(wú)損檢測(cè)是指在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能,不傷害被檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部組織或外部表面形貌狀態(tài)的前提下,利用材料內(nèi)部因結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在而引起的熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,以物理或化學(xué)方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類(lèi)型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。光學(xué)成像技術(shù)是通過(guò)捕獲目標(biāo)反射的光線信息,從而在傳感器中形成目標(biāo)圖像信息,可快速獲取目標(biāo)圖像信息,并傳輸至圖像處理設(shè)備,可用于常規(guī)的物體表面缺陷檢測(cè)。
傳統(tǒng)的涂層缺陷檢測(cè)是人工方法,主要依靠人眼觀察,檢測(cè)缺陷位置及缺陷類(lèi)型;檢測(cè)效果和效率主要依賴于檢驗(yàn)人員的經(jīng)驗(yàn),主觀影響因素大,自動(dòng)化、機(jī)械化程度低。具體而言,工人勞動(dòng)強(qiáng)度大,眼睛容易疲勞,極易出現(xiàn)漏檢等現(xiàn)象,無(wú)法保證檢測(cè)質(zhì)量。并且而且人工檢測(cè)可持續(xù)周期短,效率低,不能滿足產(chǎn)品大批量生產(chǎn)的需要。機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)是非接觸無(wú)損檢測(cè),與傳統(tǒng)的檢測(cè)手段相比,不會(huì)受人為因素的影響,可實(shí)現(xiàn)流水線檢測(cè),具有不可替代的優(yōu)越性。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
基于此,本發(fā)明提出了一種涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng),基于機(jī)器視覺(jué)的涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng)旨在解決當(dāng)前涂層缺陷檢測(cè)效率低、無(wú)法標(biāo)記缺陷類(lèi)型的技術(shù)問(wèn)題。
(二)技術(shù)方案
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng),所述涂層缺陷檢測(cè)與標(biāo)記系統(tǒng)包括:照明裝置1、檢測(cè)車(chē)間支架2、待檢測(cè)車(chē)體3、軌道4、支撐底座5、軌道移動(dòng)裝置6、機(jī)械臂7、照明光源8、缺陷標(biāo)記裝置9、圖像采集裝置10、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)11。其中,照明裝置1用于提高檢測(cè)車(chē)間的亮度;檢測(cè)車(chē)間支架2用于承載照明裝置1,并提供檢測(cè)場(chǎng)所空間;待檢測(cè)車(chē)體3是指涂裝后移動(dòng)到檢測(cè)車(chē)間內(nèi)等待檢測(cè)的車(chē)體;軌道4用于軌道移動(dòng)裝置6便捷移動(dòng);支撐底座5用于承載機(jī)械臂7沿著既定的軌道進(jìn)行移動(dòng);軌道移動(dòng)裝置6用于支撐底座5沿著軌道進(jìn)行移動(dòng);機(jī)械臂7用于承載照明光源8、缺陷標(biāo)記裝置9和圖像采集裝置10;照明光源8用于提高車(chē)體表面待檢測(cè)區(qū)域的局部亮度;缺陷標(biāo)記裝置9用于對(duì)車(chē)身表面缺陷區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記;圖像采集裝置10用于采集車(chē)體表面圖像,并將圖像傳輸至計(jì)算機(jī)系統(tǒng)11;計(jì)算機(jī)系統(tǒng)11用于分析采集到的車(chē)體表面圖像是否包含缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行分類(lèi),然后判斷缺陷區(qū)是否標(biāo)記完成,根據(jù)缺陷類(lèi)型,控制缺陷標(biāo)記裝置9對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行特定顏色的溶液標(biāo)記;若未檢測(cè)到涂層缺陷或缺陷已標(biāo)記完成,則控制軌道移動(dòng)裝置和機(jī)械臂移動(dòng),采集下一處待檢測(cè)區(qū)域涂層圖像。
優(yōu)選地,所述照明裝置1包括工業(yè)視覺(jué)光源及供電設(shè)備;供電設(shè)備為對(duì)工業(yè)視覺(jué)光源供電,工業(yè)視覺(jué)光源照射于待檢測(cè)車(chē)身車(chē)體四周,以提高待檢測(cè)車(chē)體整體亮度。
優(yōu)選地,檢測(cè)車(chē)間支架2固定于地面上,以提供足夠的空間用于檢測(cè)車(chē)身車(chē)體表面缺陷,并可承載、安裝照明裝置1。
優(yōu)選地,軌道4為雙軌道,固定于地面,圍繞于待檢測(cè)車(chē)體四周。
優(yōu)選地,支撐底座5下安裝有軌道移動(dòng)裝置6,支撐底座可沿著軌道4進(jìn)行移動(dòng),并用于承載機(jī)械臂7。
優(yōu)選地,軌道移動(dòng)裝置6包括軌道滑輪、傳動(dòng)電機(jī),對(duì)傳動(dòng)電機(jī)進(jìn)行供電及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)11控制,可支撐底座5移動(dòng),控制移動(dòng)速度。
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- 同類(lèi)專利
- 專利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 標(biāo)記裝置及標(biāo)記方法
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