[發明專利]一種磁阻元件測試工裝和測試系統

在審

• 申請號: 202011164810.2
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112345806A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 李求洋;張蓬鶴;徐英輝;陳思禹;熊素琴;袁翔宇;張保亮
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 夏德政

本申請公開了一種磁阻元件的測試工裝和測試系統，測試工裝包括工裝本體和壓緊機構。工裝本體包括工作面和探針，工作面配置成承載磁阻元件，探針配置成與置于工作面的磁阻元件的引腳相對設置，并在測試時與外部測試裝置連接。壓緊機構包括壓緊面，壓緊面配置成壓緊置于工作面的磁阻元件，且使得探針與引腳接觸。通過本申請的測試工裝，在對磁阻元件進行測試時，無需將測試線路與磁阻元件進行電線連接，從而省去了接線、拆線操作，使得磁阻元件的測試操作更簡單，同時，降低了人工操作過多帶來的不穩定性，使得磁阻元件的測試結果更準確。

技術領域

本申請涉及傳感器領域，尤其涉及一種磁阻元件測試工裝和測試系統。

背景技術

傳感器作為現代科學技術的前沿技術，被認為是現代信息技術的三大支柱之一。這些年來傳感器除軍用外，用于工農業生產及日常生活的各行各業中的應用與日俱增，加之這些年來，各行業飛速發展，對傳感器的需求增大，傳感器制造業的發展很快，形成獨立的產業鏈。

其中，對于磁阻傳感器，其包括的磁阻元件在生產或者使用的過程中，需要進行性能的測試，比如說對磁阻傳感元件的工作電壓、工作電流以及能耗等項目進行測試。

申請內容

本申請提供一種磁阻元件測試工裝和測試系統，能夠使得磁阻元件的測試操作更簡單、結果更準確。

第一方面，本申請的實施例提供了一種磁阻元件的測試工裝，包括工裝本體和壓緊機構。工裝本體包括工作面和探針，工作面配置成承載磁阻元件，探針配置成與置于工作面的磁阻元件的引腳相對設置，并在測試時與外部測試裝置連接。壓緊機構包括壓緊面，壓緊面配置成壓緊置于工作面的磁阻元件，且使得探針與引腳接觸。

在其中一些實施例中，壓緊機構可翻轉地安裝在工裝本體。壓緊機構包括壓緊件，壓緊面位于壓緊件，壓緊件可繞平行于壓緊機構的翻轉軸線的轉動軸線轉動地安裝在壓緊機構。

在其中一些實施例中，壓緊面的邊沿處具有弧面，或者，壓緊面的邊沿處具有緩沖塊，緩沖塊由彈性材料制成。

在其中一些實施例中，工裝本體包括移動件，工作面位于移動件，移動件可在垂直于工作面的方向上來回運動地安裝在工裝本體，移動件具有穿孔，探針位于穿孔中，并在移動件運動時露出至穿孔的外部或收入至穿孔的內部。

在其中一些實施例中，工裝本體具有卡槽。壓緊機構包括鎖緊件，鎖緊件可繞平行于壓緊機構的翻轉軸線的轉動軸線轉動地并可彈性復位地安裝在壓緊機構，鎖緊件具有卡勾，卡勾在壓力作用下卡入至卡槽中。

在其中一些實施例中，壓緊機構的一側可翻轉地安裝在工裝本體，相對設置的另一側卡接固定在工裝本體。

第二方面，本申請的實施例提供了一種磁阻元件的測試系統，包括上述任一實施例中的測試工裝、磁場產生裝置、程控電流源裝置和性能測試裝置。磁場產生裝置配置成產生至少一個方向的磁場。程控電流源裝置配置成控制磁場的強度。性能測試裝置配置成測試位于測試工裝的磁阻元件在磁場中的性能。

在其中一些實施例中，磁場產生裝置包括第一線圈和第二線圈，第一線圈的軸線與第二線圈的軸線相垂直，并相交于一點。

在其中一些實施例中，磁場產生裝置包括第三線圈，第三線圈的軸線與第一線圈的軸線和第二線圈的軸線均垂直。

在其中一些實施例中，第三線圈的軸線與第一線圈的軸線和第二線圈的軸線相交于一點。