[發明專利]一種磁阻元件測試工裝和測試系統

在審

• 申請號: 202011164810.2
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112345806A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 李求洋;張蓬鶴;徐英輝;陳思禹;熊素琴;袁翔宇;張保亮
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 夏德政

1.一種磁阻元件的測試工裝，其特征在于，包括：

工裝本體，包括工作面和探針，所述工作面配置成承載所述磁阻元件，所述探針配置成與置于所述工作面的所述磁阻元件的引腳相對設置，并在測試時與外部測試裝置連接；和

壓緊機構，包括壓緊面，所述壓緊面配置成壓緊置于所述工作面的磁阻元件，且使得所述探針與所述引腳接觸。

2.如權利要求1所述的測試工裝，其特征在于，

所述壓緊機構可翻轉地安裝在所述工裝本體；

所述壓緊機構包括壓緊件，所述壓緊面位于所述壓緊件，所述壓緊件可繞平行于所述壓緊機構的翻轉軸線的轉動軸線轉動地安裝在所述壓緊機構。

3.如權利要求2所述的測試工裝，其特征在于，

所述壓緊面的邊沿處具有弧面，或者，所述壓緊面的邊沿處具有緩沖塊，所述緩沖塊由彈性材料制成。

4.如權利要求1所述的測試工裝，其特征在于，

所述工裝本體包括移動件，所述工作面位于所述移動件，所述移動件可在垂直于所述工作面的方向上來回運動地安裝在所述工裝本體，所述移動件具有穿孔，所述探針位于所述穿孔中，并在所述移動件運動時露出至所述穿孔的外部或收入至所述穿孔的內部。

5.如權利要求1所述的測試工裝，其特征在于，

所述工裝本體具有卡槽；

所述壓緊機構包括鎖緊件，所述鎖緊件可繞平行于所述壓緊機構的翻轉軸線的轉動軸線轉動地并可彈性復位地安裝在所述壓緊機構，所述鎖緊件具有卡勾，所述卡勾在壓力作用下卡入至所述卡槽中。

6.如權利要求1所述的測試工裝，其特征在于，

所述壓緊機構的一側可翻轉地安裝在所述工裝本體，相對設置的另一側卡接固定在所述工裝本體。

7.一種磁阻元件的測試系統，其特征在于，包括：

權利要求1-6任一所述的測試工裝；

磁場產生裝置，配置成產生至少一個方向的磁場；

程控電流源裝置，配置成控制所述磁場的強度；和

性能測試裝置，配置成測試位于所述測試工裝的所述磁阻元件在所述磁場中的性能。

8.如權利要求7所述的測試系統，其特征在于，

所述磁場產生裝置包括第一線圈和第二線圈，所述第一線圈的軸線與所述第二線圈的軸線相垂直，并相交于一點。

9.如權利要求8所述的測試系統，其特征在于，

所述磁場產生裝置包括第三線圈，所述第三線圈的軸線與所述第一線圈的軸線和所述第二線圈的軸線均垂直。

10.如權利要求9所述的測試系統，其特征在于，

所述第三線圈的軸線與所述第一線圈的軸線和所述第二線圈的軸線相交于一點。