[發明專利]基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法有效
| 申請號: | 202011157035.8 | 申請日: | 2020-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN112434261B | 公開(公告)日: | 2023-08-29 |
| 發明(設計)人: | 劉安;高惠荔;王明;楊小燕;和偉輝;郭丹妮;顏元 | 申請(專利權)人: | 中國西安衛星測控中心 |
| 主分類號: | G06F17/18 | 分類號: | G06F17/18;G01S19/20;G01S19/08 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務所 61214 | 代理人: | 涂秀清 |
| 地址: | 710043 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 衛星 測控 裝備 精度 鑒定 方法 | ||
本發明公開了基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法,具體按照以下步驟實施:1、進行精度鑒定試驗規劃,設定研制方風險、研制方風險,確定試驗圈次;2、利用跟蹤微小標校衛星上搭載的GPS,跟蹤標校應答機獲得設備測量數據,利用標校衛星數傳信號發送的GPS電文信息經地面解算后所得的標準參考數據對比,計算相應的斜距隨機差,方位角的系統差,俯仰角的系統差,3、設定斜距的隨機差、方位角的系統差和俯仰角的系統差,建立系統差和隨機差假設檢驗模型;4、計算在設定研制方風險和研制方風險下相應的檢驗統計量;5、根據步驟4得到的檢驗統計量,分別對實際計算出的斜距隨機差δsubgt;R/subgt;、方位角系統差和俯仰角系統差進行判斷,得到精度鑒定結果。
技術領域
本發明屬于航天測控設備試驗鑒定技術領域,涉及基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法。
背景技術
航天測控裝備的測量精度是重要的設備性能技術指標,跟蹤精度的試驗鑒定是裝備定型改進的基礎,對目標跟蹤和確定飛行器軌道具有重要意義。近年,微小衛星和全球導航衛星系統在軍事和民用領域得到了廣泛的應用。搭載應答機、全球定位系統(GPS)和北斗衛星導航系統(BDS)接收機的微小衛星平臺能夠容易地得到準確的位置信息,從而作為被鑒定航天測控設備的動態比較基準,對測控裝備進行性能試驗鑒定。
目前對于跟蹤精度鑒定的研究主要分為以下三種:1.利用已知測量元素的靜態目標,進行跟蹤試驗,通過調整信號功率達到門限值進行測量比較;2.利用飛機校飛的方法,包括利用無人機的精度評估技術;3.?應用自校準技術EMBET,即誤差最優彈道估計模型,可以提高在軌衛星的空間精確位置,作為比較標準實現對參試設備的測量精度自鑒定。
靜態目標跟蹤、飛機校飛的方法與航天器飛行過程的狀態相差較大,而且飛機校飛條件要求很高,裝備交付使用后精度評估多數是利用裝備場區的靜態目標(標校塔目標)進行跟蹤比較,沒有跟蹤活動目標進行性能檢查和測量精度評估。EMBET方法不依靠外來資源標準的自鑒定方法,對其軌道攝動模型和系統誤差模型都有較高要求,而且沒有外部標準其解算結果準確度難以評定,其可信性易受質疑。
對精度檢驗鑒定的具體方法主要是借鑒導彈、火炮等命中精度的評定方法,通常使用相對于目標點的圓概率偏差(CEP)的精度推斷評定方法。概率圓精度評定方法簡便易行,但測控設備跟蹤空間目標,涉及空間三維坐標變換和多維概率分布,計算模型復雜,適用范圍有限。
跟蹤精度鑒定實質是一個假設檢驗或統計推斷(決策)的問題。所謂假設檢驗問題,就是以概率形式表征的總體特征(如期望、方差、分布等)做出某種假設,然后利用觀測的樣本信息(認為是從總體中隨機抽取一個子樣)以一定的概率來推斷關于總體特征的原假設是否可信(成立)的過程。這里的總體特征就是研制任務書中規定的單一測量元素的系統誤差、隨機誤差,樣本信息是地面裝備跟蹤衛星多個圈次獲得的測量數據,與標準值比較得到的誤差數據。
假設檢驗所依據的是“小概率事件在一次試驗中難以發生”的原理,如果一次試驗結果發生,那可以斷言,原假設不成立。這種方法類似于“反證法”的思想方法,它通常包括參數假設檢驗和分布假設檢驗。裝備精度鑒定通常是屬于參數假設檢驗。這里注意的是,小概率事件并非一定是不可能發生的事件,因而統計推斷會出現一定的錯誤概率,從而產生決策風險。
目前現有的裝備精度評定方法還停留在靜態、原始直接比對的誤差統計方法,沒有考慮裝備使用方的風險,這種方法僅考慮單圈次的跟蹤結果,缺乏樣本統計量與總體分布(設計指標)的合理解釋;沒有考慮單次試驗的隨機性,統計決策不可避免存在一定的誤判風險,包括研制方風險和使用方風險;對單次超差現象解釋不可靠,同時缺乏對試驗次數(樣本量)的科學分析,只能作為航天裝備試驗鑒定的參考方法。
發明內容
本發明的目的是提供一種基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法,具有充分考慮了裝備使用方的風險,不需要對目標的先驗信息,可對是否滿足精度指標要求進行鑒定的特點。
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