[發明專利]基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法

有效

• 申請號: 202011157035.8
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN112434261B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 劉安;高惠荔;王明;楊小燕;和偉輝;郭丹妮;顏元
• 申請（專利權）人: 中國西安衛星測控中心
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G01S19/20;G01S19/08
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 涂秀清

1.基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，具體按照以下步驟實施：

步驟1、進行精度鑒定試驗規劃，設定研制方風險、研制方風險，確定試驗圈次；

步驟2、利用跟蹤微小標校衛星上搭載的GPS，跟蹤標校應答機獲得設備測量數據，利用標校衛星數傳信號發送的GPS電文信息經地面解算后所得的標準參考數據對比，得出每個時刻觀測量包括斜距、方位角、俯仰角與標準值的誤差值序列,,；根據上述誤差值序列，計算相應的斜距隨機差，方位角的系統差，俯仰角的系統差，具體計算公式如下：

（1）；

（2）；

步驟3、設定斜距的隨機差、方位角的系統差和俯仰角的系統差，建立系統差假設檢驗模型和隨機差假設檢驗模型；

所述步驟3中系統差假設檢驗模型為對總體的期望值的統計推斷，即對下式的假設進行計算判斷，做出拒絕或的結論：

（3）；

其中，為研制書規定的系統差上限，是設定的誤差界限，為原假設或零假設，為備擇假設；

所述系統差假設檢驗模型中試驗圈次n為：

（4）；

其中，為樣本標準差；

所述步驟3中隨機差假設檢驗模型為對總體的方差的統計推斷，即對下式的假設進行統計判斷，做出拒絕或的結論：

（5）；

其中，是研制書規定的隨機差上限，λ是檢出比，且；

步驟4、根據步驟3建立的系統差和隨機差假設檢驗模型，計算在設定研制方風險、研制方風險下相應的檢驗統計量；

步驟5、根據步驟4得到的檢驗統計量，分別對實際計算出的斜距隨機差、方位角系統差和俯仰角系統差進行判斷，得到精度鑒定結果。

2.根據權利要求1所述的基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，所述步驟4中系統差的檢驗統計量為T：

（6）；

其中，為樣本均值，為樣本標準差，n為試驗圈次。

3.根據權利要求1所述的基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，所述系統差的檢驗統計量T服從分布，即，在給定研制方風險概率情況下，T檢驗方法如下：

（7）；

若上式成立，則接受假設，若上式不成立，則拒絕假設。

4.根據權利要求1所述的基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，所述步驟4中隨機差的檢驗統計量為：

（8）；

其中，為樣本均值，為樣本無偏方差，由于檢驗的是總體方差，須用的樣本無偏方差。

5.根據權利要求1所述的基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，所述隨機差假設檢驗模型中試驗圈次n為：

（9）；

其中，都是正態分布的分位數，為方差的比例系數。

6.根據權利要求4所述的基于標校衛星的測控裝備精度鑒定方法，其特征在于，所述隨機差的檢驗統計量服從分布，因而隨機差的檢驗稱為檢驗，在給定研制方風險概率情況下，檢驗方法如下：

（10）；

若上式成立，則接受假設，若上式不成立，則拒絕假設。