[發明專利]一種樓層邊界檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011151753.4
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN112017199B
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 傅志剛;楊海溢;賈寧;吳則剛;周森標;彭登;陶永康;劉玉平
• 申請（專利權）人: 廣東博智林機器人有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/13;G06T3/00;G06T7/187;G06T7/62;G06K9/62
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種樓層邊界檢測方法，其特征在于，包括：

獲取水平鋼筋的點云數據，基于預先建立的所述點云數據與初始柵格圖中的柵格點的映射關系，確定所述點云數據對應的最大高度柵格圖和所述最大高度柵格圖對應的最大高度柵格掩膜圖；

基于所述最大高度柵格掩膜圖內各柵格點對應的高度值，確定基準面高度；

確定位于所述基準面高度處的豎直物體的點云數據對應的豎直物體區域掩膜圖，根據所述豎直物體區域掩膜圖和所述最大高度柵格掩膜圖，確定有效區域檢測結果，其中，所述豎直物體區域掩膜圖為包括豎直物體和虛點的掩膜圖；

對所述有效區域檢測結果進行邊界提取，將邊界提取結果進行反投影，得到反投影結果，并將所述反投影結果作為樓層邊界檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定位于所述基準面高度處的豎直物體的點云數據對應的豎直物體區域掩膜圖，包括：

根據所述最大高度柵格掩膜圖中高度大于或等于所述基準面高度處的豎直物體的點云數據確定密度閾值；

對于所述基準面高度處的豎直物體的點云數據對應的任一像素點，計算K近鄰平均距離；

根據所述K近鄰平均距離內的像素點的個數確定點云密度，將所述點云密度與所述密度閾值比較，根據密度比較結果生成所述豎直物體區域掩膜圖。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述豎直物體區域掩膜圖和所述最大高度柵格掩膜圖，確定有效區域檢測結果，包括：

根據所述豎直物體區域掩膜圖的像素值確定所述豎直物體和所述虛點形成的目標區域圖；

基于所述最大高度柵格掩膜圖和所述目標區域圖，生成所述有效區域檢測結果。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

將高度小于所述基準面高度處的點云數據對應的掩膜圖確定為無效區域掩膜圖，并將高度大于或等于所述基準面高度處的點云數據對應的掩模圖確定為薄膜區域掩膜圖。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述豎直物體區域掩膜圖和所述最大高度柵格掩膜圖，確定有效區域檢測結果，包括：

根據所述豎直物體區域掩膜圖的像素值確定所述豎直物體和虛點的目標區域圖；

基于所述最大高度柵格掩膜圖、所述目標區域圖、所述無效區域掩膜圖以及所述薄膜區域掩膜圖，確定所述有效區域檢測結果。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述將高度大于或等于所述基準面高度處的點云數據對應的掩模圖確定為薄膜區域掩膜圖，包括：

對高度大于或等于所述基準面高度處的點云數據進行聚類運算，得到聚類運算結果；

如果所述聚類運算結果只存在一個類別，且所述類別內的每個柵格對應的點云數據的最大高度與最小高度差小于預設薄膜厚度值，將高度大于或等于所述基準面高度處的點云數據對應的掩模圖確定為薄膜區域掩膜圖。

7.根據權利要求1-6任一項所述的方法，其特征在于，所述對所述有效區域檢測結果進行邊界提取，包括：

對所述有效區域檢測結果內的冗余柵格點進行剔除；

對剔除冗余柵格點后的柵格點構建初始邊界，根據所述初始邊界內的柵格點的分布，將所述初始邊界內縮，將內縮后的初始邊界作為有效區域檢測結果的邊界提取結果。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述對剔除冗余柵格點后的柵格點構建初始邊界，根據所述初始邊界內的柵格點的分布，將所述初始邊界內縮，將內縮后的初始邊界作為有效區域檢測結果的邊界提取結果，包括：

對所述剔除冗余柵格點后的有效區域檢測結果進行卷包裹計算，得到所述初始邊界；

將所述初始邊界內的當前柵格點與所述初始邊界的線段兩端點連接，構成三角形區域；

如果所述三角形區域內不存在柵格點，將所述初始邊界內的當前柵格點添加至所述初始邊界上，確定新的邊界內的下一柵格點與所述新的邊界內的線段兩端點連接，構成新的三角形區域，直至新的三角形區域內存在柵格點。