[發明專利]一種鋼直尺校準測量方法、系統、裝置及存儲介質在審
| 申請號: | 202011149563.9 | 申請日: | 2020-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN112113477A | 公開(公告)日: | 2020-12-22 |
| 發明(設計)人: | 黃楊清;蔡永洪;馬婷婷;張力玲;唐小軍;王瀟瀟 | 申請(專利權)人: | 廣州計量檢測技術研究院 |
| 主分類號: | G01B3/04 | 分類號: | G01B3/04 |
| 代理公司: | 深圳市創富知識產權代理有限公司 44367 | 代理人: | 葉燦才 |
| 地址: | 510663 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 直尺 校準 測量方法 系統 裝置 存儲 介質 | ||
本發明公開了一種鋼直尺校準測量方法、系統、裝置及存儲介質,該方法包括:將被測鋼直尺按預設規則放置在可調測量臺;獲取刻度線圖像并進行圖像處理,識別得到標準尺刻度和被測鋼直尺刻度;根據標準尺刻度和被測鋼直尺刻度得到校準位置;根據校準位置讀取被測刻度線目標位置的誤差,得到被測鋼直尺的誤差數據。該系統包括:放置模塊、圖像模塊、校準比對模塊和誤差模塊。該裝置包括存儲器以及用于執行上述鋼直尺校準測量方法的處理器。通過使用本發明,能夠避免由人為操作帶來的誤差,使得校準結果更為客觀和精確。本發明作為一種鋼直尺校準測量方法、系統、裝置及存儲介質,可廣泛應用于校準領域。
技術領域
本發明涉及校準領域,尤其涉及一種鋼直尺校準測量方法、系統、裝置及存儲介質。
背景技術
鋼直尺示值誤差的測量,原理是將鋼直尺測量點刻線示值與標準值進行比較,得到的物理差即為該測量點的示值誤差,在計量領域中,目前我國大部分計量檢定部門依然使用三等金屬標準線紋裝置來對鋼直尺示值誤差進行測量,這種測量方式屬于機械式比較測量法,其測量方法是通過標準裝置上的放大鏡進行目視觀察即估讀誤差,該測量裝置和方法受操作員以及檢定環境等因素影響,測量效率低、精度差,不利于生產生活中幾何量測量對鋼直尺刻線精度的要求。
發明內容
為了解決上述技術問題,本發明的目的是提供一種鋼直尺校準測量方法、系統、裝置及存儲介質,基于視覺識別算法完成鋼直尺校準,無需依靠人工判斷,使得校準結果較為客觀和精確。
本發明所采用的第一技術方案是:一種鋼直尺校準測量方法,包括以下步驟:
將被測鋼直尺按預設規則放置在可調測量臺;
獲取刻度線圖像并進行圖像處理,識別得到標準尺刻度和被測鋼直尺刻度;
根據標準尺刻度和被測鋼直尺刻度得到校準位置;
根據校準位置讀取被測刻度線目標位置的誤差,得到被測鋼直尺的誤差數據。
進一步,還包括:
替換被測鋼直尺并重復校準步驟。
進一步,所述將被測鋼直尺按預設規則放置在可調測量臺這一步驟,其具體包括:
將被測鋼直尺放置在可調測量臺上并進行零位對準;
驅動可調測量臺使被測鋼直尺與固定標準尺的上平面位置持平。
進一步,所述獲取刻度線圖像并進行圖像處理,識別得到標準尺刻度和被測鋼直尺刻度這一步驟,其具體包括:
基于攝像頭拍攝被測鋼直尺和標準尺的刻度線圖像,得到刻度線圖像;
對刻度線圖像進行二值化和旋轉矯正,得到處理后圖像;
根據處理后圖像,分離得到標準尺刻度和被測鋼直尺刻度。
進一步,所述對刻度線圖像進行二值化和旋轉矯正,得到處理后圖像這一步驟,其具體包括:
對刻度線圖像進行二值化處理,得到二值化后圖像;
對二值化后圖像經過開運算去除噪聲,得到去噪圖像;
根據去噪圖像的刻度線形態對去噪圖像進行旋轉矯正,得到處理后圖像。
進一步,所述根據標準尺刻度和被測鋼直尺刻度得到校準位置這一步驟,其具體包括:
將被測鋼直尺刻度與標準尺刻度重合展示,得到刻度線重合圖像;
根據刻度線重合圖像中標準尺刻度在被測尺刻度上的對應位置,得到校準位置。
進一步,所述誤差數據包括刻度線重合圖像和在預設長度標準尺與被測鋼直尺的差值。
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