[發明專利]一種PHY模式自主切換的信號測試系統

有效

• 申請號: 202011148043.6
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112511370B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 韓瑞龍
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: H04L43/50
• 分類號: H04L43/50;H04L43/0811;H04L43/10;H04L43/06
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 梁凱

1.一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于，包括：

MDIO控制模塊：用于切換待測板卡的網絡PHY的工作模式為電口模式或光口模式；

PHY芯片模塊：用于構建電口測試通道和光口測試通道，并對測試板進行信號測試；

網絡信號采集模塊：用于對電口測試通道進行驗證，獲取電口測試結果；

示波器測試模塊：用于通過光口測試通道進行驗證，獲取光口測試結果；

計算機操作終端：用于收集電口測試結果/口測試結果；

所述MDIO控制模塊包括設置于所述測試板上的第一BMC芯片和設置于所述待測板卡上的第二BMC芯片；其中，

所述第一BMC芯片包括第一MDIO端口、I2C-CPLD端口和管理串口；其中，

所述管理串口連接所述計算機操作終端；

所述第一BMC芯片還用于外界大容量FLASH存儲；

所述第二BMC芯片包括第二MDIO端口、MAC端口和MDC端口；

所述測試板上還設置有：SWITCH網絡交換器、CPLD編輯器和接口匹配電路，所述SWITCH網絡交換器的輸入端和接口匹配電路輸出端電連接；

所述第一MDIO端口與所述SWITCH網絡交換器電連接；

所述I2C-CPLD端口與所述CPLD編輯器電連接；

所述待測板卡上還設置有：SPDT?SWITCH模塊電路和PHY芯片，所述SPDT?SWITCH模塊電路的輸出端與所述PHY芯片電連接，所述SPDT?SWITCH模塊電路的輸入端還與所述CPLD編輯器電連接；其中，

所述SPDT?SWITCH模塊電路包括第一SPDT?SWITCH模塊電路和第二SPDT?SWITCH模塊電路；

MDC端口與所述SPDT?SWITCH模塊電路的輸入端電連接；其中，

所述SPDT?SWITCH模塊電路還包括SEL端口、B1端口和B2端口；

所述MAC端口與所述PHY芯片的輸入端電連接；

所述MDIO控制模塊通過所述第二BMC芯片控制所述SEL端口接地，并控制所述SPDTSWITCH模塊電路的B1端口連通所述MDIO端口和MDC端口時，所述PHY芯片的MDI接口連通，所述待測板卡的網絡PHY的工作模式為電口模式；

所述MDIO控制模塊通過所述第二BMC芯片控制所述MDC端口發出的RGMII信號轉SGMII信號，所述待測板卡的網絡PHY的工作模式為光口模式。

2.根據權利要求1所述的一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于：

所述待測板卡的網絡PHY的工作模式為電口模式時，

所述PHY芯片的MDI接口連接待測板卡的隔離電壓器，所述隔離電壓器的RJ45接口連通所述測試板的RJ45端口，所述RJ45端口接通所述接口匹配電路；其中，

所述RJ45端口還用于檢驗所述電口測試通道是否PING通，當能夠PING通時，執行電口測試，并將測試結果發送至計算機操作終端。

3.根據權利要求1所述的一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于：

所述待測板卡的網絡PHY的工作模式為光口模式時，所述PHY芯片通過SGMII信號連通所述待測板卡的高密連接器，所述高密連接器與所述示波器測試模塊的示波器連接，并進行基于所述示波器的SGMII眼圖模板測試；其中，

所述GMII眼圖模板測試用于判斷所述光口測試通道是否連通，并在所述光口測試通道連通時，執行光口測試，并將測試結果發送至計算機操作終端。

4.根據權利要求3所述的一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于：所述待測板卡的網絡PHY的工作模式為光口模式時，所述高密連接器還用于外接可插式板卡；其中，

所述可插式板卡包括業務處理板卡和外出端口；

所述可插式板卡與所述待測板卡可組成平行放置的組合插卡形態。

5.根據權利要求1所述的一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于：

所述PHY芯片模塊進行信號測試包括常規測試和DEBUG測試；

所述常規測試包括電口測試通道連通時的電口測試或光口測試通道連通的光口測試；

當所述電口測試通道和光口測試通道均不連通時，執行DEBUG測試。

6.根據權利要求5所述的一種PHY模式自主切換的信號測試系統，其特征在于：所述PHY芯片模塊執行DEBUG測試時，所述SPDT?SWITCH模塊電路的SEL端口被拉高，所述SPDTSWITCH模塊電路的B2端口與所述CPLD編輯器電連接，并根據所述電口測試通道和光口測試通道的通斷，執行DEBUG測試下的電口測試/光口測試。