[發明專利]基于射頻門的讀寫器天線調試方法及讀寫器天線調試裝置

有效

• 申請號: 202011148013.5
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112306865B
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發明（設計）人: 李德建;唐曉柯;馮曦;陳會軍;張喆;馬巖;沈紅偉
• 申請（專利權）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06K19/077
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

1.一種基于射頻門的讀寫器天線調試方法，所述讀寫器天線設置于所述射頻門內部，所述射頻門內部還設置有多個電子標簽，所述讀寫器天線連接至預先設置的讀寫器；其特征在于，所述方法包括：

所述讀寫器在預設功率范圍內以預設功率步長讀取所述多個電子標簽，獲得每個功率點下所讀到的電子標簽的標識；其中，所述讀寫器在所述預設功率范圍的最小值下讀取不到任何電子標簽，且所述讀寫器的預設實際工作功率位于所述預設功率范圍內；

根據所述每個功率點下所讀到的電子標簽的標識，獲得所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值；

根據所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值對所述讀寫器天線進行調試；

所述根據所述每個功率點下所讀到的電子標簽的標識，獲得所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值，包括：

根據所述每個功率點下所讀到的電子標簽的標識，獲得所述多個電子標簽中每個電子標簽所對應的最小讀取功率值；

根據所述讀寫器的預設實際工作功率、所述多個電子標簽中每個電子標簽所對應的最小讀取功率值和預先測試的所述多個電子標簽中每個電子標簽的標簽靈敏度，計算所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值；

采用如下公式計算所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值：

E＝P1-P2+P3

其中，E為該電子標簽所在位置的射頻能量值，P1為所述讀寫器的預設實際工作功率，P2為該電子標簽所對應的最小讀取功率值，P3為預先測試的該電子標簽的標簽靈敏度；

所述根據所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值對所述讀寫器天線進行調試，包括：

根據所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值構建射頻能量場分布圖；

根據所述射頻能量場分布圖對所述讀寫器天線進行調試；

所述根據所述射頻能量場分布圖對所述讀寫器天線進行調試，包括：

根據所述射頻能量場分布圖對所述讀寫器天線的數量、位置和朝向進行調整。

2.根據權利要求1所述的基于射頻門的讀寫器天線調試方法，其特征在于，所述根據所述多個電子標簽中每個電子標簽所在位置的射頻能量值構建射頻能量場分布圖，包括：

以所述多個電子標簽中每個電子標簽之間的相對所在位置作為節點，構建3D模型；

在每個所述節點處標注與該節點對應的電子標簽的標識，并標注與該電子標簽對應的射頻能量值；

根據每個所述節點處標注的射頻能量值更新每個所述節點的大小，獲得所述射頻能量場分布圖。

3.根據權利要求1所述的基于射頻門的讀寫器天線調試方法，其特征在于，所述多個電子標簽中每個電子標簽具有相同的標簽靈敏度；所述多個電子標簽中每個電子標簽均設置于與該電子標簽對應的標定物上，所述標定物按照矩形陣列的排列方式設置于所述射頻門內部。

4.根據權利要求1所述的基于射頻門的讀寫器天線調試方法，其特征在于，所述預設功率范圍的最大值為所述讀寫器的最大工作功率。