[發(fā)明專利]對BIOS內存故障檢測能力的測試方法、裝置及系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112241346B
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發(fā)明（設計）人: 楊彪
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227
• 代理人: 史翠

本發(fā)明公開了一種對BIOS內存故障檢測能力的測試方法、裝置及系統(tǒng)，在內存條接入待測服務器的內存保護槽以及所述內存保護槽的內存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下，模擬內存故障，進而通過判斷BIOS是否識別到該內存故障，即可判斷BIOS的內存故障檢測能力是否合格。通過連接內存保護槽的內存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳模擬內存故障，不僅可以模擬服務器上電自檢階段的比特故障，還可以模擬操作系統(tǒng)運行后的可糾正錯誤，相較于現(xiàn)有技術中通過軟件注入內存故障的方式，不僅節(jié)約了軟件故障注入工具的成本，還極大簡化了模擬內存故障的操作，降低了BIOS內存故障檢測能力測試的操作門檻，從而進一步降低了人力成本。

技術領域

本發(fā)明涉及服務器技術領域，特別是涉及一種對BIOS內存故障檢測能力的測試方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術

BIOS(Basic Input Output System，基本輸入輸出系統(tǒng))是一組固化到計算機內主板上一個ROM芯片上的程序，它保存著計算機最重要的基本輸入輸出的程序、開機后自檢程序和系統(tǒng)自啟動程序，其主要功能是為計算機提供最底層的、最直接的硬件設置和控制。內存故障監(jiān)測是BIOS出廠測試項目之一。現(xiàn)有技術中，通過軟件注入故障的方式模擬服務器的內存故障，測試BIOS是否能夠檢測到設定的內存故障，以此確定BIOS對內存故障的檢測能力是否合格。

通過軟件注入內存故障，需要用到MEI工具或ITP工具進行注入，而這兩種工具的硬件價格昂貴，且需要搭建測試環(huán)境(包括硬件連接和軟件測試環(huán)境)，操作過程復雜繁瑣，且難以實現(xiàn)在上電自檢(Power On Self Test，POST)階段的注錯，導致對BIOS內存故障檢測能力測試的不完全。

提供一種低成本的對BIOS內存故障檢測能力的測試方案，是本領域技術人員需要解決的技術問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種對BIOS內存故障檢測能力的測試方法、裝置及系統(tǒng)，用于節(jié)約測試的器械成本，同時降低操作難度，進一步降低人力成本。

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種對BIOS內存故障檢測能力的測試方法，包括：

在內存條接入待測服務器的內存保護槽以及所述內存保護槽的內存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下，模擬內存故障；

判斷所述待測服務器的BIOS是否識別到所述內存故障；

如果是，則確定所述BIOS通過內存故障檢測能力測試；

如果否，則確定所述BIOS未通過內存故障檢測能力測試。

可選的，所述在內存條接入待測服務器的內存保護槽以及所述內存保護槽的內存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下，模擬內存故障，具體為：

在所述內存條接入所述內存保護槽以及所述內存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳連接的狀態(tài)下，控制所述待測服務器上電，以模擬所述內存故障；

相應的，所述判斷所述待測服務器的BIOS是否識別到所述內存故障，具體包括：

判斷所述BIOS是否識別到與所述內存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳的連接方式對應的比特錯誤；

如果是，則確定所述BIOS識別到了所述內存故障；

如果否，則確定所述BIOS未識別到所述內存故障。

可選的，所述比特錯誤的類型具體包括：單顆粒單比特錯誤、單顆粒多比特錯誤和多顆粒多比特錯誤；

相應的，當測試所述單顆粒單比特錯誤時，將所述內存保護槽上一個所述內存數(shù)據(jù)引腳與所述接地引腳連接；

當測試所述單顆粒多比特錯誤時，將所述內存保護槽上處于同一個內存顆粒的多個所述內存數(shù)據(jù)引腳與所述接地引腳連接；