[發(fā)明專利]對(duì)BIOS內(nèi)存故障檢測(cè)能力的測(cè)試方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011147965.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112241346B | 公開(公告)日: | 2023-03-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊彪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 史翠 |
| 地址: | 250101 山東*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | bios 內(nèi)存 故障 檢測(cè) 能力 測(cè)試 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種對(duì)BIOS內(nèi)存故障檢測(cè)能力的測(cè)試方法,其特征在于,包括:
在內(nèi)存條接入待測(cè)服務(wù)器的內(nèi)存保護(hù)槽以及所述內(nèi)存保護(hù)槽的內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下,模擬內(nèi)存故障;
判斷所述待測(cè)服務(wù)器的BIOS是否識(shí)別到所述內(nèi)存故障;
如果是,則確定所述BIOS通過內(nèi)存故障檢測(cè)能力測(cè)試;
如果否,則確定所述BIOS未通過內(nèi)存故障檢測(cè)能力測(cè)試;
若模擬上電自檢階段的故障,所述在內(nèi)存條接入待測(cè)服務(wù)器的內(nèi)存保護(hù)槽以及所述內(nèi)存保護(hù)槽的內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下,模擬內(nèi)存故障,具體為:
在所述內(nèi)存條接入所述內(nèi)存保護(hù)槽以及所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳連接的狀態(tài)下,控制所述待測(cè)服務(wù)器上電,以模擬所述內(nèi)存故障;
相應(yīng)的,所述判斷所述待測(cè)服務(wù)器的BIOS是否識(shí)別到所述內(nèi)存故障,具體包括:
判斷所述BIOS是否識(shí)別到與所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳的連接方式對(duì)應(yīng)的比特錯(cuò)誤;
如果是,則確定所述BIOS識(shí)別到了所述內(nèi)存故障;
如果否,則確定所述BIOS未識(shí)別到所述內(nèi)存故障;
若模擬操作系統(tǒng)運(yùn)行階段的故障,所述在內(nèi)存條接入待測(cè)服務(wù)器的內(nèi)存保護(hù)槽以及所述內(nèi)存保護(hù)槽的內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和接地引腳連接的狀態(tài)下,模擬內(nèi)存故障,具體為:
在所述內(nèi)存條接入所述內(nèi)存保護(hù)槽、控制所述待測(cè)服務(wù)器上電至操作系統(tǒng)啟動(dòng)后將所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳連接的狀態(tài)下,模擬所述內(nèi)存故障;
相應(yīng)的,所述判斷所述待測(cè)服務(wù)器的BIOS是否識(shí)別到所述內(nèi)存故障,具體包括:
判斷所述BIOS是否識(shí)別到所述內(nèi)存條的可糾正錯(cuò)誤;
如果是,則確定所述BIOS識(shí)別到了所述內(nèi)存故障;
如果否,則確定所述BIOS未識(shí)別到所述內(nèi)存故障;
所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳和所述接地引腳具體通過切換開關(guān)連接,所述切換開關(guān)固設(shè)于所述內(nèi)存保護(hù)槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述比特錯(cuò)誤的類型具體包括:?jiǎn)晤w粒單比特錯(cuò)誤、單顆粒多比特錯(cuò)誤和多顆粒多比特錯(cuò)誤;
相應(yīng)的,當(dāng)測(cè)試所述單顆粒單比特錯(cuò)誤時(shí),將所述內(nèi)存保護(hù)槽上一個(gè)所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳與所述接地引腳連接;
當(dāng)測(cè)試所述單顆粒多比特錯(cuò)誤時(shí),將所述內(nèi)存保護(hù)槽上處于同一個(gè)內(nèi)存顆粒的多個(gè)所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳與所述接地引腳連接;
當(dāng)測(cè)試所述多顆粒多比特錯(cuò)誤時(shí),將所述內(nèi)存保護(hù)槽上分別處于多個(gè)所述內(nèi)存顆粒的所述內(nèi)存數(shù)據(jù)引腳與所述接地引腳連接。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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