[發明專利]一種新型半導體晶圓光刻涂布機吸頭在審
| 申請號: | 202011146019.9 | 申請日: | 2020-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN112363369A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發明(設計)人: | 石雪香 | 申請(專利權)人: | 東莞博文文化傳播有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/16 | 分類號: | G03F7/16 |
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| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 半導體 圓光 刻涂布機 吸頭 | ||
本發明公開了一種新型半導體晶圓光刻涂布機吸頭,其結構包括支架、控制箱、支桿、吸頭,控制箱安裝在支架頂部中心位置,支桿水平焊接在支架底面,由于少量的光刻膠易進入吸頭的排氣管中,隨著吸取次數的增加,導致排氣管內部的直徑逐漸縮小,通過滑動裝置與通過排氣管的氣體配合移動,通過推片將排氣管內壁的光刻膠推動收集,減少光刻膠大量堆積在排氣管內壁,有利于吸頭的吸力強度保持不變,減少出現晶圓吸取過程中脫離吸頭的現象,由于進膠孔的直徑有限,光刻膠通過進膠孔時,易凝固在進膠孔內部,通過進膠孔內部的滑塊與內壁配合,刮板將光刻膠清除,減少光刻膠凝固在進膠孔內部,有利于保持進膠孔暢通,加快光刻膠進膠速度。
技術領域
本發明屬于晶圓光刻顯影領域,更具體的說,尤其涉及到一種新型半導體晶圓光刻涂布機吸頭。
背景技術
采用晶圓作為半導體材料時,為了使晶圓表面形成合適的微圖形結構,對半導體硅晶圓光刻處理,先通過涂布機往晶圓表面涂布均勻的光刻膠,后通過機械手的吸頭將涂布完成的晶圓吸取帶動至光刻槽光刻;現有技術中采用吸頭對涂布完成的晶圓吸取時,由于吸頭將晶圓吸取時通過排氣管將吸頭與晶圓之間的氣體排放,光刻膠的涂布厚度較厚時,光刻膠凝固的速度減慢,當晶圓表面的光刻膠受到吸頭的吸力,少量的光刻膠易進入吸頭的排氣管中,隨著吸取次數的增加,導致排氣管內部的直徑逐漸縮小,致使吸頭的吸力強度減弱,出現晶圓吸取過程中脫離吸頭的現象。
發明內容
為了解決上述技術采用吸頭對涂布完成的晶圓吸取時,由于吸頭將晶圓吸取時通過排氣管將吸頭與晶圓之間的氣體排放,光刻膠的涂布厚度較厚時,光刻膠凝固的速度減慢,當晶圓表面的光刻膠受到吸頭的吸力,少量的光刻膠易進入吸頭的排氣管中,隨著吸取次數的增加,導致排氣管內部的直徑逐漸縮小,致使吸頭的吸力強度減弱,出現晶圓吸取過程中脫離吸頭的現象,本發明提供一種新型半導體晶圓光刻涂布機吸頭。
為了實現上述目的,本發明是通過如下的技術方案來實現:一種新型半導體晶圓光刻涂布機吸頭,其結構包括支架、控制箱、支桿、吸頭,所述控制箱安裝在支架頂部中心位置,所述支桿水平焊接在支架底面,所述吸頭固定在支桿末端底面。
所述吸頭設有排氣管、拉塊、滑動裝置,所述排氣管貫穿吸頭中部,所述滑動裝置通過拉塊與排氣管內壁活動配合。
作為本發明的進一步改進,所述滑動裝置設有支撐圈、推片、軸承、彈簧,所述支撐圈位于滑動裝置內部,所述推片通過軸承銜接在支撐圈外壁,所述彈簧夾在推片內側與支撐圈外壁之間,所述推片共設有十個,圍繞在支撐圈外壁組成圓圈狀。
作為本發明的進一步改進,所述推片設有收集板、滑板、凹槽、進膠孔,所述收集板位于推片下方,所述滑板固定在收集板上方,所述凹槽凹陷在收集板表面,所述進膠孔與凹槽相連通,所述收集板上表面為傾斜的斜面狀。
作為本發明的進一步改進,所述滑板設有支撐板、彈板、推板,所述支撐板位于滑板下方,所述彈板固定在支撐板上方,所述推板安裝在彈板上表面,所述推板為凸起的弧面狀。
作為本發明的進一步改進,所述進膠孔設有支撐桿、復位塊、限位塊、滑塊、推桿、開口,所述支撐桿位于進膠孔兩側,所述復位塊固定在進膠孔底端內壁,所述限位塊嵌固在進膠孔頂端內壁,所述滑塊設在進膠孔內部,所述推桿夾在滑塊中間,所述開口貫穿推桿中部,所述推桿為橡膠材質。
作為本發明的進一步改進,所述滑塊設有卡塊、刮板、推條,所述滑塊左側中部設有卡塊,所述刮板通過推條安裝在卡塊右側面,所述刮板右側面為凹陷的弧形狀。
有益效果
與現有技術相比,本發明具有如下有益效果:
1、由于少量的光刻膠易進入吸頭的排氣管中,隨著吸取次數的增加,導致排氣管內部的直徑逐漸縮小,通過滑動裝置與通過排氣管的氣體配合移動,通過推片將排氣管內壁的光刻膠推動收集,減少光刻膠大量堆積在排氣管內壁,有利于吸頭的吸力強度保持不變,減少出現晶圓吸取過程中脫離吸頭的現象。
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