[發(fā)明專利]芯片基板及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011140930.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112993138B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶康佳光電技術(shù)研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/62 | 分類號(hào): | H01L33/62;H01L33/44 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永強(qiáng) |
| 地址: | 402760 重慶市璧*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 及其 制作方法 | ||
1.一種芯片基板制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
提供一外延結(jié)構(gòu);所述外延結(jié)構(gòu)包括一金屬層;
將所述外延結(jié)構(gòu)具有所述金屬層的一面與一顯示背板鍵合;
對(duì)鍵合后的所述外延結(jié)構(gòu)進(jìn)行刻蝕,以形成多個(gè)互相分離的外延層;
于各所述外延層上分別形成一掩膜層,并在所述掩膜層的遮蔽下對(duì)鍵合后的所述金屬層進(jìn)行刻蝕;其中,一金屬膜層在刻蝕所述金屬層的過(guò)程中形成于所述掩膜層的側(cè)面;
將刻蝕完成后的所述顯示背板置于一底座上以對(duì)所述掩膜層側(cè)面的所述金屬膜層進(jìn)行刻蝕;其中,所述底座與所述顯示背板接觸的一面相對(duì)水平面傾斜。
2.如權(quán)利要求1所述的芯片基板制作方法,其特征在于,在對(duì)所述掩膜層側(cè)面的所述金屬膜層進(jìn)行刻蝕的過(guò)程中控制所述底座旋轉(zhuǎn)或搖擺。
3.如權(quán)利要求1所述的芯片基板制作方法,其特征在于,所述底座與所述顯示背板接觸的一面與水平面的夾角滿足條件:15°≤≤32°。
4.如權(quán)利要求1所述的芯片基板制作方法,其特征在于,形成有所述金屬膜層的側(cè)面與水平面之間的夾角α為銳角。
5.如權(quán)利要求4所述的芯片基板制作方法,其特征在于,所述夾角α滿足條件:50°≤α≤75°。
6.如權(quán)利要求1所述的芯片基板制作方法,其特征在于,所述掩膜層的層厚h滿足條件:1μm≤h≤3μm。
7.如權(quán)利要求1所述的芯片基板制作方法,其特征在于,還包括:
去除所述掩膜層,并制作鈍化層覆蓋所述顯示背板;
在所述鈍化層對(duì)應(yīng)所述外延層的位置制作電極。
8.如權(quán)利要求7所述的芯片基板制作方法,其特征在于,所述鈍化層同時(shí)覆蓋所述外延層、所述金屬層以及所述顯示背板。
9.如權(quán)利要求7所述的芯片基板制作方法,其特征在于,在所述鈍化層對(duì)應(yīng)所述外延層的位置制作電極,包括:
圖案化所述鈍化層以露出部分所述外延層;
于露出的所述外延層上沉積一導(dǎo)電材料以制作形成所述電極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





