[發(fā)明專利]3D存儲器件及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011138054.6 | 申請日: | 2020-10-22 |
| 公開(公告)號: | CN112289803A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉隆冬;張珍珍;曾最新;黃海輝;周穎 | 申請(專利權(quán))人: | 長江存儲科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L27/1157 | 分類號: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡純;岳丹丹 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種3D存儲器件的制造方法,包括:
在襯底表面形成第一蝕刻停止層;
在所述第一蝕刻停止層上形成第一絕緣疊層結(jié)構(gòu),所述第一絕緣疊層結(jié)構(gòu)包括交替堆疊的多個層間絕緣層和犧牲層;
形成貫穿所述第一絕緣疊層結(jié)構(gòu)的多個第一通道孔,其中,所述第一通道孔延伸至所述第一蝕刻停止層的表面;
沿著多個第一通道孔刻蝕去除第一蝕刻停止層從而形成多個第一溝道孔,其中,所述第一溝道孔延伸至所述襯底中,以及
在所述第一溝道孔中形成溝道柱。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造方法,其中,在形成多個第一溝道孔和在所述第一溝道孔中形成溝道柱的步驟之間,還包括:
在所述第一溝道孔中沉積第三犧牲層;
在所述第一絕緣疊層結(jié)構(gòu)的表面形成第二蝕刻停止層;
在所述第二蝕刻停止層的表面形成第二絕緣疊層結(jié)構(gòu);
形成貫穿所述第二絕緣疊層結(jié)構(gòu)的多個第三通道孔,其中,所述第三通道孔延伸至所述第二蝕刻停止層的表面;
沿著多個第三通道孔刻蝕去除第二蝕刻停止層從而形成多個第二溝道孔,其中,所述第二溝道孔暴露所述第三犧牲層的表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造方法,其中,沿著多個第一通道孔刻蝕去除第一蝕刻停止層從而形成多個第一溝道孔的步驟包括:
去除所述第一通道孔底部的所述第一蝕刻停止層,形成暴露所述襯底第二通道孔。
去除部分所述第二通道孔底部的所述襯底,形成延伸至所述襯底中第一溝道孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的制造方法,其中,所述第一蝕刻停止層和所述第二蝕刻停止層的材料為氧化鋁。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制造方法,其中,采用氣相蝕刻去除所述第一蝕刻停止層。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制造方法,其中,沿著多個第三通道孔刻蝕去除第二蝕刻停止層從而形成多個第二溝道孔的步驟之后,還包括:
去除所述第一溝道孔中的所述第三犧牲層。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造方法,其中,在所述溝道孔中形成溝道柱的步驟之后,還包括:
在所述絕緣疊層結(jié)構(gòu)中形成柵線縫隙;
經(jīng)由所述柵線縫隙將所述絕緣疊層結(jié)構(gòu)置換為柵疊層結(jié)構(gòu)。
8.一種3D存儲器件,包括:
襯底;
位于所述襯底上的第一蝕刻停止層;
位于所述第一蝕刻停止層上的第一柵疊層結(jié)構(gòu);
貫穿所述第一柵疊層結(jié)構(gòu)的柵線縫隙和多個溝道柱;
其中,采用第一蝕刻停止層控制所述多個第一溝道柱的形成過程。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的3D存儲器件,其中,還包括:
位于所述第一柵疊層結(jié)構(gòu)上的第二蝕刻停止層;
位于所述第二蝕刻停止層上的第二柵疊層結(jié)構(gòu);
貫穿所述第二柵疊層結(jié)構(gòu)的柵線縫隙和多個第二溝道柱;
其中,采用第而蝕刻停止層控制所述多個第二溝道柱的形成過程。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的3D存儲器件,其中,所述第一蝕刻停止層和所述第二蝕刻停止層的材料為氧化鋁。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的3D存儲器件,其中,所述第一蝕刻停止層作為絕緣層隔離所述襯底與所述柵疊層結(jié)構(gòu)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





