[發明專利]一種AMOLED屏體外觀視覺檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 202011137542.5
• 申請日: 2020-10-22
• 公開（公告）號: CN112285118A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 李娜;鄭躍瑜;田歡歡;李浪浪
• 申請（專利權）人: 蘇州佳智彩光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/94;G01N21/95
• 代理公司: 深圳市添源知識產權代理事務所(普通合伙) 44451
• 代理人: 黎健任

本發明涉及一種AMOLED屏體外觀視覺檢測方法及其裝置。其中方法包括以下步驟：S1.選取淺色載臺，并將待檢AMOLED屏體放置在淺色載臺上；S2.頻閃光源分別固定在待檢AMOLED屏體側上方，分別以高角度和低角度照射在待檢AMOLED屏體上；S3.在頻閃光源的反射光線方向安裝線陣相機，線陣相機接受高角度和低角度的反射光線成像；S4.線陣相機對圖像進行采集；S5.對圖像進行分析處理并得到數據處理結果；S6.根據數據處理結果判斷是否符合檢測要求，若不符合，則進一步微調頻閃光源角度，優化打光方案直至符合檢出算法需求。本發明提高了外觀檢測的準確性，同時多張照片可以并行處理，提高檢出速度。

技術領域

本發明涉及外觀檢測領域，特別涉及一種AMOLED屏體外觀視覺檢測方法及其裝置。

背景技術

對于面板顯示，特別是AMOLED平板顯示制造行業，由于產品生產工藝流程較多，制造環節復雜，生產過程中無法避免會對產品外觀造成一定的缺陷，例如劃傷、凹凸點、臟污、破損等，而屏體的外觀缺陷不僅會影響其美觀，還可能對屏體性能造成影響，因此必須要對屏體進行外觀檢測，甄選優良產品流入模組工藝段，即可節省成本，又可為工藝改善提供依據。目前絕大多數的外觀檢測是通過人工檢查的方式，此方式容易造成視覺疲勞，造成誤判，而且檢查速度慢，影響生產效率，因此基于機器視覺的外觀檢測設備開始進入，但因為AMOELD屏體結構的特殊性，例如存在AA區域非AA區，而且不同區域的材料特性、微觀結構迥異，要在一個檢測環節實現高效檢出目前尚難達到，導致視覺檢測設備并不能同時滿足每個項目的檢測要求。

發明內容

本發明針對現存問題，提供一種AMOLED屏體外觀視覺檢測方法及其裝置，旨在解決現有屏體檢測方式速度慢、效率低的問題。

本發明提供一種AMOLED屏體外觀視覺檢測方法，包括以下主要步驟：

S1.選取淺色載臺，并將待檢AMOLED屏體放置在淺色載臺上；

S2.兩個以上頻閃光源分別固定在待檢AMOLED屏體側上方，分別以高角度和低角度照射在待檢AMOLED屏體上；

S3.在頻閃光源的反射光線方向安裝線陣相機，線陣相機接受高角度、低角度的反射光線成像；

S4.按照頻閃光源的頻閃時序，利用線陣相機對圖像進行時分采集；

S5.對圖像進行分析處理并得到數據處理結果；

S6.根據數據處理結果判斷是否符合待檢AMOLED屏體在不同區域都能實施缺陷檢測的要求，若不符合，則進一步微調頻閃光源角度，優化打光方案直至符合檢出算法需求。

作為本發明的進一步改進，所述步驟S1中，淺色載臺的選取標準為待檢AMOLED屏體邊緣線路區成像清晰。

作為本發明的進一步改進，所述步驟S3具體包括：

S31.在高角度頻閃光源的反射光線方向附近安裝線陣相機，線陣相機的安裝角度以接收高角度頻閃光源的反射光線并避開接收到最亮的光為基準；

S32.低角度頻閃光源的安裝角度以線陣相機接收到的反射光線達到最亮為基準。

作為本發明的進一步改進，所述步驟S4具體包括：高角度和低角度的頻閃光源之間以設定的頻率進行交叉閃爍，光源控制器控制線陣相機分別在兩個頻閃光源照亮待檢AMOLED屏體的時間段內交替進行不間斷采集圖像，得到一張明暗相間的圖像。

作為本發明的進一步改進，所述步驟S5包括：

S51.根據線陣相機采集出明暗相間的圖像，經圖像處理將一張圖片拆分成一張明場圖像與一張暗場圖像；

S52.對兩張圖像分別進行圖像重構、二值化處理、特征提取、數據分析，最后，將數據處理結果輸出。