[發(fā)明專利]一種AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011137542.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112285118A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李娜;鄭躍瑜;田歡歡;李浪浪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州佳智彩光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/95 |
| 代理公司: | 深圳市添源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44451 | 代理人: | 黎健任 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 amoled 體外 視覺 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1.選取淺色載臺(tái),并將待檢AMOLED屏體放置在淺色載臺(tái)上;
S2.兩個(gè)以上頻閃光源分別固定在待檢AMOLED屏體側(cè)上方,分別以高角度和低角度照射在待檢AMOLED屏體上;
S3.在頻閃光源的反射光線方向安裝線陣相機(jī),線陣相機(jī)接受高角度、低角度的反射光線成像;
S4.按照頻閃光源的頻閃時(shí)序,利用線陣相機(jī)對(duì)圖像進(jìn)行時(shí)分采集;
S5.對(duì)圖像進(jìn)行分析處理并得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果;
S6.根據(jù)數(shù)據(jù)處理結(jié)果判斷是否符合待檢AMOLED屏體在不同區(qū)域都能實(shí)施缺陷檢測(cè)的要求,若不符合,則進(jìn)一步微調(diào)頻閃光源角度,優(yōu)化打光方案直至符合檢出算法需求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S1中,淺色載臺(tái)的選取標(biāo)準(zhǔn)為待檢AMOLED屏體邊緣線路區(qū)成像清晰。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S3具體包括:
S31.在高角度頻閃光源的反射光線方向附近安裝線陣相機(jī),線陣相機(jī)的安裝角度以接收高角度頻閃光源的反射光線并避開接收到最亮的光為基準(zhǔn);
S32.低角度頻閃光源的安裝角度以線陣相機(jī)接收到的反射光線達(dá)到最亮為基準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S4具體包括:高角度和低角度的頻閃光源之間以設(shè)定的頻率進(jìn)行交叉閃爍,光源控制器控制線陣相機(jī)分別在兩個(gè)頻閃光源照亮待檢AMOLED屏體的時(shí)間段內(nèi)交替進(jìn)行不間斷采集圖像,得到一張明暗相間的圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S5包括:
S51.根據(jù)線陣相機(jī)采集出明暗相間的圖像,經(jīng)圖像處理將一張圖片拆分成一張明場(chǎng)圖像與一張暗場(chǎng)圖像;
S52.對(duì)兩張圖像分別進(jìn)行圖像重構(gòu)、二值化處理、特征提取、數(shù)據(jù)分析,最后,將數(shù)據(jù)處理結(jié)果輸出。
6.一種AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)裝置,其特征在于,包括發(fā)出并反射光源的打光模塊、采集圖像的線掃成像模塊、對(duì)圖像進(jìn)行分析處理并得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果的圖像分析處理模塊,所述打光模塊包括第一頻閃光源、第二頻閃光源、放置待檢AMOLED屏體的淺色載臺(tái),所述線掃成像模塊包括線陣相機(jī),所述第一頻閃光源、第二頻閃光源分別以高角度、低角度固定在待檢AMOLED屏體側(cè)上方,所述線陣相機(jī)設(shè)置在第一頻閃光源、第二頻閃光源的反射光線方向上,所述線陣相機(jī)、淺色載臺(tái)分別連接并傳輸數(shù)據(jù)到圖像分析處理模塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一頻閃光源以高角度照射在待檢AMOLED屏體上,所述線陣相機(jī)設(shè)置在第一頻閃光源的反射光線方向上并避開接收到最亮的光,所述第二頻閃光源以低角度照射在待檢AMOLED屏體上,所述第二頻閃光源設(shè)置的角度以線陣相機(jī)接收到的反射光線達(dá)到最亮為準(zhǔn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)裝置,其特征在于,所述打光模塊包括光源控制器,所述光源控制器一端分別連接并控制第一頻閃光源、第二頻閃光源,所述光源控制器另一端連接圖像分析處理模塊。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)裝置,其特征在于,所述線掃成像模塊包括變焦鏡頭、平穩(wěn)運(yùn)動(dòng)的機(jī)械平臺(tái),所述變焦鏡頭連接在線陣相機(jī)的拍攝頭處,所述線陣相機(jī)固定在機(jī)械平臺(tái)上。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述AMOLED屏體外觀視覺檢測(cè)裝置,其特征在于,所述淺色載臺(tái)放置待測(cè)的快速移動(dòng)物體,所述第一頻閃光源、第二頻閃光源分別照射在物體移動(dòng)路徑上的一個(gè)區(qū)域,所述線陣相機(jī)接收第一頻閃光源、第二頻閃光源反射該區(qū)域的反射光線。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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