[發明專利]隨機測試用例生成方法與裝置以及電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202011133389.9
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112256572A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 楊仍才
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

本公開提供一種隨機測試用例生成方法與裝置以及電子設備和存儲介質，該方法包括：構建包括多個功能的待測功能候選池；通過對用于測試的輸入和/或輸出參數進行分組構建參數池，參數池包括多個輸入和/或輸出參數；從待測功能候選池的多個功能中選擇單個待測功能或選擇待測功能組合生成隨機測試用例，待測功能組合包括一個或多個待測功能；并且，對于單個待測功能生成測試用例，從參數池中一次或多次地隨機選擇單個待測功能所需的輸入參數，得到隨機測試用例，或者，對于待測功能組合生成測試用例，從參數池中一次或多次地隨機選擇一個或多個待測功能所需的輸入參數，得到隨機測試用例。該隨機測試用例生成方法可簡單高效地生成隨機測試用例。

技術領域

本公開的實施例涉及一種隨機測試用例生成方法與裝置以及電子設備和存儲介質。

背景技術

在硬件或軟件的功能設計完成后，都要對其進行正確性驗證。典型的功能有硬件指令，軟件函數等。功能驗證是設計驗證的最關鍵部分，只有能完成預設功能的設計才是有意義的設計。一般在確定功能設計需求后，即可確定其在何種輸入下能形成何種輸出。設計完成后，只需要驗證在給定輸入下的輸出與預期值匹配即可。

然而，由于一些功能的輸入取值太多或是輸入形式復雜多變，若要保證覆蓋所有情況，將需要海量的測試用例，這需要大量的人力，并且很容易導致測試時間過長。但減少測試用例又可能使某些輸入沒有覆蓋，導致不能暴露潛在設計問題，達不到測試的目的。對多個功能進行集成測試時，這個矛盾將更加尖銳。

因此，如何科學地生成測試用例(Test Case，指為功能準備的一組特定輸入，并配有相應的預期輸出)，是保證功能驗證的有效性和可靠性的重要內容。

發明內容

本公開的實施例提供了一種隨機測試用例生成方法與裝置以及電子設備和存儲介質，以簡單高效地生成隨機測試用例。

本公開至少一實施例提供了一種隨機測試用例生成方法，包括：

構建待測功能候選池，其中，所述待測功能候選池包括多個功能；

通過對用于測試的輸入參數和/或輸出參數進行分組，構建參數池，以使得所述參數池包括一個或多個參數分組；其中，所述參數池包括多個輸入參數和/或輸出參數；

從所述待測功能候選池的多個功能中選擇單個待測功能或選擇待測功能組合生成所述隨機測試用例，其中，所述待測功能組合包括一個或多個待測功能；并且

對于所述單個待測功能生成測試用例，從所述參數池中一次或多次地隨機選擇所述單個待測功能所需的輸入參數，以用于得到所述隨機測試用例，或者，對于所述待測功能組合生成測試用例，從所述參數池中一次或多次地隨機選擇所述一個或多個待測功能所需的輸入參數，以用于得到所述隨機測試用例。

例如，在本公開至少一實施例提供的一種隨機測試用例生成方法中，通過對用于測試的輸入參數和/或輸出參數進行分組，包括：根據輸入參數數據類型、輸出參數數據類型、輸入參數取值范圍、輸出參數取值范圍中的一種或多種，對用于所述單個待測功能或所述待測功能組合的輸入參數和/或輸出參數進行分組。

例如，在本公開至少一實施例提供的一種隨機測試用例生成方法中，所述多個參數分組包括輸入參數分組和輸出參數分組；其中，所述輸入參數分組用于提供所述單個待測功能或所述待測功能組合中一個或多個待測功能所需的輸入參數；所述輸出參數分組用于接收所述單個待測功能或所述待測功能組合的一個或多個待測功能運行所輸出的輸出參數，并且所述輸出參數分組也用于提供所述單個待測功能或所述待測功能組合中一個或多個待測功能所需的輸入參數。

例如，在本公開至少一實施例提供的一種隨機測試用例生成方法中，從所述待測功能候選池的多個功能中選擇待測功能組合生成所述隨機測試用例，包括：通過從所述待測功能候選池的多個功能中一次或多次地隨機選擇至少一項被測功能，形成包括所述一個或多個待測功能的所述待測功能組合。