[發明專利]隨機測試用例生成方法與裝置以及電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202011133389.9
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112256572A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 楊仍才
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

1.一種隨機測試用例生成方法，包括：

構建待測功能候選池，其中，所述待測功能候選池包括多個功能；

通過對用于測試的輸入參數和/或輸出參數進行分組，構建參數池，以使得所述參數池包括一個或多個參數分組；其中，所述參數池包括多個輸入參數和/或輸出參數；

從所述待測功能候選池的多個功能中選擇單個待測功能或選擇待測功能組合生成所述隨機測試用例，其中，所述待測功能組合包括一個或多個待測功能；并且

對于所述單個待測功能生成測試用例，從所述參數池中一次或多次地隨機選擇所述單個待測功能所需的輸入參數，以用于得到所述隨機測試用例，或者，對于所述待測功能組合生成測試用例，從所述參數池中一次或多次地隨機選擇所述一個或多個待測功能所需的輸入參數，以用于得到所述隨機測試用例。

2.如權利要求1所述的隨機測試用例生成方法，其中，

通過對用于測試的輸入參數和/或輸出參數進行分組，包括：

根據輸入參數數據類型、輸出參數數據類型、輸入參數取值范圍、輸出參數取值范圍中的一種或多種，對用于所述單個待測功能或所述待測功能組合的輸入參數和/或輸出參數進行分組。

3.如權利要求1所述的隨機測試用例生成方法，其中，

所述多個參數分組包括輸入參數分組和輸出參數分組；

其中，所述輸入參數分組用于提供所述單個待測功能或所述待測功能組合中一個或多個待測功能所需的輸入參數；

所述輸出參數分組用于接收所述單個待測功能或所述待測功能組合的一個或多個待測功能運行所輸出的輸出參數，并且所述輸出參數分組也用于提供所述單個待測功能或所述待測功能組合中一個或多個待測功能所需的輸入參數。

4.如權利要求1所述的隨機測試用例生成方法，其中，

從所述待測功能候選池的多個功能中選擇待測功能組合生成所述隨機測試用例，包括：

通過從所述待測功能候選池的多個功能中一次或多次地隨機選擇至少一項被測功能，形成包括所述一個或多個待測功能的所述待測功能組合。

5.如權利要求1-4任一所述的隨機測試用例生成方法，其中，

對于所述待測功能組合生成所述隨機測試用例時，構建所述參數池，包括：

構建用于所述待測功能組合的初始參數池，其中，所述初始參數池至少包括用于所述待測功能組合的一個或多個待測功能的多個輸入參數；

依次進行多次功能運行以迭代更新所述初始參數池，以得到所述參數池，其中，依次進行多次功能運行以迭代更新所述初始參數池，包括：

對于所述多次功能運行中的每一次，隨機選擇所述待測功能組合中的一個當前被選功能，從所述初始參數池當前包括的多個參數中隨機選擇所述當前被選功能所需的輸入參數，運行所述當前被選功能以得到當前輸出參數，且將所述當前輸出參數添加至所述初始參數池以供后續選擇，由此迭代更新所述初始參數池；

其中，進行所述多次功能運行，直至滿足測試終止條件。

6.如權利要求5所述的隨機測試用例生成方法，其中，

構建用于所述待測功能組合的初始參數池，包括：

對所述初始參數池進行分組，使得所述初始參數池至少包括：

初始輸入參數分組，其包括的多個初始輸入參數用作所述待測功能組合的一個或多個待測功能的多個輸入參數；

初始輸出參數分組，用于添加每一次隨機選擇的當前被選功能的當前輸出參數，以供后續選擇，由此迭代更新所述初始輸出參數分組，使得所述初始參數池迭代更新；其中，所述初始輸入參數分組和所述初始輸出參數分組是彼此不重疊的。

7.如權利要求6所述的隨機測試用例生成方法，其中，

從所述初始參數池當前包括的多個參數中隨機選擇所述當前被選功能所需的輸入參數，包括：

根據預定概率，從所述初始輸入參數分組包括的初始輸入參數和所述初始輸出參數分組包括的迭代更新中添加的輸出參數中，隨機選擇用于輸入至所述當前被選功能的參數。