[發明專利]一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法

有效

• 申請號: 202011129939.X
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112433213B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 羅京輝;張薇;丁慶;鄭長利;王曉霞
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/41;G01S7/40
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 卿誠

本發明涉及SAR數據處理技術領域，具體涉及一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法，包括：獲取DEM數據，并進行SAR影像模擬；將模擬SAR影像和原始SAR影像進行配準；對原始SAR影像進行正射校正；將經過正射校正的原始SAR影像和光學影像進行配準；進行干涉測量并對結果進行糾正。本發明通過綜合利用外部DEM數據和高精度的GCP數據，實現對原始SAR影像的正射校正，然后進行正射SAR影像和光學影像配準，得到兩者之間的偏移糾正關系，從而可以在一定程度上解決了正射SAR影像與光學影像疊加顯示時位置偏移問題，提高SAR干涉測量結果與光學影像疊加顯示精度，具有重要的實際應用價值。

技術領域

本發明涉及SAR數據處理技術領域，具體涉及一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法。

背景技術

合成孔徑雷達(SAR,Synthetic?Aperture?Radar)是一種主動式的對地觀測系統，可以全天時、全天候對地觀測，近年來隨著SAR干涉測量技術的發展，SAR干涉測量已在地形測圖、地表形變監測、獲取DEM等領域廣泛應用。實際應用中，通常將光學影像作為底圖，與SAR影像干涉測量結果(如沉降量)疊加顯示，以更加直觀的展示生產結果。然而，SAR和光學影像成像機理不同。光學影像成像采用正下視方式，利用面陣、線陣或者掃描方式來獲取影像，影像上的一點和平臺存在唯一確定的幾何關系。而SAR采用了側視方式成像，影像是后向散射的微波能量，圖像上的一點并不與平臺存在確定的對應關系，導致SAR干涉測量結果與光學影像疊加顯示存在位置偏移的問題。

SAR干涉測量結果與光學影像疊加顯示前需要對SAR影像進行正射校正。正射校正是將遙感圖像按照平行投影方式校正到參考平面上。目前SAR影像進行正射校正的方法主要有利用地面控制點(GCP,Ground?Control?Point)和DEM的正射校正、組合圖像模擬和精配準的星載SAR直接正射校正。前者一般只能解決整幅圖像的總體變形，對局部變形很難處理。后者可以擺脫對GCP的依賴，僅用DEM數據即可完成校正，易于實現對SAR影像的自動校正。然而目前普遍采用的用于正射校正的DEM數據為免費的SRTM?DEM數據，該數據獲取距今已經有20余年，且該數據分辨率不高，會在一定程度上影響SAR正射校正的精度。近年來，針對SAR影像與光學影像的異源配準技術在不斷發展，在精度方面提高也較多，可以在SAR干涉測量結果與光學影像疊加顯示前進行應用來進一步解決偏移問題。

可知現有的SAR數據處理還存在亟待改進的地方，其對SAR干涉測量結果疊加至光學影像時難以克服位置偏移的現象。必須提出一種合理的技術方案，對位置偏移的情況進行改善，以解決現有SAR數據處理干涉結果與光學影像配準精度低的問題。

發明內容

為了克服上述內容中提到的現有技術存在的缺陷，本發明提供了一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法，旨在解決SAR干涉測量結果與光學影像疊加顯示時存在位置偏移的問題。

為了實現上述目的，本發明具體采用的技術方案是：

一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法，包括：

獲取DEM數據，并進行SAR影像模擬；

將模擬SAR影像和原始SAR影像進行配準；

對原始SAR影像進行正射校正；

將經過正射校正處理的原始SAR影像和光學影像進行配準；

進行干涉測量并對結果進行糾正。

上述公開的綜合糾正方法，通過綜合利用外部DEM數據和高精度的GCP數據，實現對原始SAR影像的正射校正，最終提高SAR影像與光學影像的配準精度。