[發明專利]一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法

有效

• 申請號: 202011129939.X
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112433213B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 羅京輝;張薇;丁慶;鄭長利;王曉霞
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/41;G01S7/40
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 卿誠

1.一種SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法，其特征在于，包括：

獲取DEM數據，并進行SAR影像模擬；

將模擬SAR影像和原始SAR影像進行配準；具體包括影像粗配準和影像精配準；其中：

影像粗配準，通過人工在模擬SAR影像和原始SAR影像上選取4-6個同名特征點，采用多項式實現兩者之間粗配準；

影像精配準，通過在兩幅影像上自動選取的大量同名特征點對，實現精配準；

計算外部高精度的GCP數據在配準后的多視SAR影像中的位置，再將GCP在模擬SAR影像中的位置對應到原始SAR影像中的位置；并基于GCP和外部DEM對原始SAR影像進行正射校正，得到正射SAR影像；

將經過正射校正處理的原始SAR影像和光學影像進行配準；其中，首先對正射SAR影像和光學影像進行預處理，并在預處理后的影像中提取同名特征點，基于提取到的同名特征點對正射SAR影像和光學影像進行粗配準；進行粗配準過后，對正射SAR影像和光學影像進行精配準，得到正射SAR影像和光學影像之間的位置偏移糾正關系；

進行干涉測量并對結果進行糾正；其中，對原始SAR影像進行包括影像配準、影像重采樣、干涉圖生成、地形相位去除、干涉圖濾波、相位解纏和地理編碼在內的處理；并基于得到的SAR影像和光學影像糾正關系，對干涉測量結果進行糾正。

2.根據權利要求1所述的SAR干涉測量結果與光學影像位置偏移綜合糾正方法，其特征在于：在進行SAR影像模擬前，準備原始SAR影像及對應的DEM數據，并基于DEM數據得到模擬SAR影像。