[發(fā)明專利]一種射頻半波電壓的測(cè)量方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011129788.8
• 申請(qǐng)日: 2020-10-21
• 公開（公告）號(hào): CN112327035B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳宏剛;胡蕾蕾;張博;梁雪瑞;李鳳;甘霖飛;胡毅;羅勇;胡強(qiáng)高
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R19/00
• 分類號(hào): G01R19/00
• 代理公司: 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 張李靜;張穎玲

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N射頻半波電壓的測(cè)量方法、裝置及系統(tǒng)，所述方法包括：生成測(cè)量參數(shù)，所述測(cè)量參數(shù)包括光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)；對(duì)所述光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制處理，得到多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)；根據(jù)所述多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)和預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)，計(jì)算得到與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)誤差結(jié)果；基于所述多個(gè)誤差結(jié)果確定射頻半波電壓。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及光通信互連技術(shù)領(lǐng)域，涉及但不限于一種射頻半波電壓的測(cè)量方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

硅光子技術(shù)由于可以兼容現(xiàn)有的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS，ComplementaryMetal?Oxide?Semiconductor)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低成本，小封裝的高速光電混合集成器件，受到了越來(lái)越多的關(guān)注。其中，在數(shù)據(jù)中心光互連應(yīng)用場(chǎng)景中，硅光調(diào)制器作為實(shí)現(xiàn)光信號(hào)高速調(diào)制的核心光器件，已經(jīng)實(shí)現(xiàn)小規(guī)模化的商用。

硅材料的等離子色散效應(yīng)包括電折射和電吸收兩種效應(yīng)，即在實(shí)際調(diào)制過程中同時(shí)存在相位調(diào)制和強(qiáng)度調(diào)制兩種效應(yīng)，這增加了精確測(cè)量硅光調(diào)制器射頻半波電壓的難度。當(dāng)前針對(duì)硅光調(diào)制器射頻半波電壓的測(cè)試，主要是基于眼圖翻轉(zhuǎn)測(cè)試法。眼圖翻轉(zhuǎn)測(cè)試法很難準(zhǔn)確地觀測(cè)到眼圖變化的拐點(diǎn)，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果很粗糙，并且，眼圖翻轉(zhuǎn)測(cè)試法很難測(cè)量高頻調(diào)制下硅光調(diào)制器的射頻半波電壓。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種射頻半波電壓的測(cè)量方法、裝置及系統(tǒng)。

本申請(qǐng)實(shí)施例的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種射頻半波電壓的測(cè)量方法，包括：

生成測(cè)量參數(shù)，所述測(cè)量參數(shù)包括光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)；

對(duì)所述光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制處理，得到多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)；

根據(jù)所述多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)和預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)，計(jì)算得到與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)誤差結(jié)果；

基于所述多個(gè)誤差結(jié)果確定射頻半波電壓。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種射頻半波電壓的測(cè)量裝置，包括：

生成模塊，用于生成測(cè)量參數(shù)，所述測(cè)量參數(shù)包括光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)；

調(diào)制模塊，用于對(duì)所述光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制處理，得到多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)；

計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)和預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)，計(jì)算得到與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)誤差結(jié)果；

確定模塊，用于基于所述多個(gè)誤差結(jié)果確定射頻半波電壓。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種射頻半波電壓的測(cè)量系統(tǒng)，包括：

激光器，用于發(fā)射光信號(hào)至被測(cè)的硅光調(diào)制器；

脈沖碼源發(fā)生器，用于生成多個(gè)不同幅度的調(diào)制電壓信號(hào)，并將所述多個(gè)不同幅度的調(diào)制電壓信號(hào)傳輸至所述硅光調(diào)制器；

雙通道數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用于將直流電壓信號(hào)傳輸至所述硅光調(diào)制器；

所述硅光調(diào)制器，用于對(duì)所述光信號(hào)、直流電壓信號(hào)和多個(gè)不同幅度的調(diào)制電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制處理，得到多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)；

測(cè)量模塊，用于根據(jù)所述多個(gè)擾動(dòng)電流信號(hào)和預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)，計(jì)算得到與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)誤差結(jié)果；并基于所述多個(gè)誤差結(jié)果確定射頻半波電壓。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種射頻半波電壓的測(cè)量設(shè)備，包括：

處理器；以及