[發明專利]一種射頻半波電壓的測量方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202011129788.8
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112327035B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發明（設計）人: 陳宏剛;胡蕾蕾;張博;梁雪瑞;李鳳;甘霖飛;胡毅;羅勇;胡強高
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 張李靜;張穎玲

本申請提供一種射頻半波電壓的測量方法、裝置及系統，所述方法包括：生成測量參數，所述測量參數包括光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號；對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號進行調制處理，得到多個擾動電流信號；根據所述多個擾動電流信號和預先構造的基準正交函數，計算得到與所述基準正交函數對應的多個誤差結果；基于所述多個誤差結果確定射頻半波電壓。

技術領域

本申請涉及光通信互連技術領域，涉及但不限于一種射頻半波電壓的測量方法、裝置及系統。

背景技術

硅光子技術由于可以兼容現有的互補金屬氧化物半導體(CMOS，ComplementaryMetal?Oxide?Semiconductor)技術，實現低成本，小封裝的高速光電混合集成器件，受到了越來越多的關注。其中，在數據中心光互連應用場景中，硅光調制器作為實現光信號高速調制的核心光器件，已經實現小規模化的商用。

硅材料的等離子色散效應包括電折射和電吸收兩種效應，即在實際調制過程中同時存在相位調制和強度調制兩種效應，這增加了精確測量硅光調制器射頻半波電壓的難度。當前針對硅光調制器射頻半波電壓的測試，主要是基于眼圖翻轉測試法。眼圖翻轉測試法很難準確地觀測到眼圖變化的拐點，導致測量結果很粗糙，并且，眼圖翻轉測試法很難測量高頻調制下硅光調制器的射頻半波電壓。

發明內容

有鑒于此，本申請實施例提供一種射頻半波電壓的測量方法、裝置及系統。

本申請實施例的技術方案是這樣實現的：

本申請實施例提供一種射頻半波電壓的測量方法，包括：

生成測量參數，所述測量參數包括光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號；

對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號進行調制處理，得到多個擾動電流信號；

根據所述多個擾動電流信號和預先構造的基準正交函數，計算得到與所述基準正交函數對應的多個誤差結果；

基于所述多個誤差結果確定射頻半波電壓。

本申請實施例提供一種射頻半波電壓的測量裝置，包括：

生成模塊，用于生成測量參數，所述測量參數包括光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號；

調制模塊，用于對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調制電壓信號進行調制處理，得到多個擾動電流信號；

計算模塊，用于根據所述多個擾動電流信號和預先構造的基準正交函數，計算得到與所述基準正交函數對應的多個誤差結果；

確定模塊，用于基于所述多個誤差結果確定射頻半波電壓。

本申請實施例提供一種射頻半波電壓的測量系統，包括：

激光器，用于發射光信號至被測的硅光調制器；

脈沖碼源發生器，用于生成多個不同幅度的調制電壓信號，并將所述多個不同幅度的調制電壓信號傳輸至所述硅光調制器；

雙通道數模轉換器，用于將直流電壓信號傳輸至所述硅光調制器；

所述硅光調制器，用于對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的調制電壓信號進行調制處理，得到多個擾動電流信號；

測量模塊，用于根據所述多個擾動電流信號和預先構造的基準正交函數，計算得到與所述基準正交函數對應的多個誤差結果；并基于所述多個誤差結果確定射頻半波電壓。

本申請實施例提供一種射頻半波電壓的測量設備，包括：

處理器；以及