[發(fā)明專利]一種射頻半波電壓的測量方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011129788.8 | 申請日: | 2020-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN112327035B | 公開(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳宏剛;胡蕾蕾;張博;梁雪瑞;李鳳;甘霖飛;胡毅;羅勇;胡強(qiáng)高 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢光迅科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/00 | 分類號: | G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 張李靜;張穎玲 |
| 地址: | 430074 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射頻 電壓 測量方法 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種射頻半波電壓的測量方法,其特征在于,所述方法包括:
生成測量參數(shù),所述測量參數(shù)包括光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號;
對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號進(jìn)行調(diào)制處理,得到多個擾動電流信號;
根據(jù)預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)對所述多個擾動電流信號分別進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,計算得到多個不同幅度的射頻半波電壓下與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對應(yīng)的多個誤差結(jié)果;
基于對所述多個誤差結(jié)果進(jìn)行曲線擬合得到的誤差曲線,確定射頻半波電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述直流電壓信號包括第一直流電壓信號和第二直流電壓信號;
所述對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號進(jìn)行調(diào)制處理,得到多個擾動電流信號,包括:
對所述第一直流電壓信號進(jìn)行相位偏移處理,得到低頻正弦功率抖動信號;
基于所述第二直流電壓信號和所述多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號對所述光信號進(jìn)行調(diào)制處理,得到所述光信號的多個相位調(diào)制信號;
基于所述低頻正弦功率抖動信號,對所述光信號的多個相位調(diào)制信號進(jìn)行干擾處理,得到多個低頻擾動光信號;
對所述多個低頻擾動光信號進(jìn)行第一轉(zhuǎn)換處理,得到多個擾動電流信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基準(zhǔn)正交函數(shù)包括第一基準(zhǔn)正交函數(shù)和第二基準(zhǔn)正交函數(shù);
所述根據(jù)預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)對所述多個擾動電流信號分別進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,計算得到多個不同幅度的射頻半波電壓下與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對應(yīng)的多個誤差結(jié)果,包括:
根據(jù)所述多個擾動電流信號,獲取多個數(shù)字采樣信號;
將所述多個數(shù)字采樣信號分別與所述第一基準(zhǔn)正交函數(shù)進(jìn)行互相關(guān)積分運算,得到多個第一誤差結(jié)果;
將所述多個數(shù)字采樣信號分別與所述第二基準(zhǔn)正交函數(shù)進(jìn)行互相關(guān)積分運算,得到多個第二誤差結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述多個擾動電流信號,獲取多個數(shù)字采樣信號,包括:
對所述多個擾動電流信號進(jìn)行第二轉(zhuǎn)換處理,得到多個擾動電壓信號;
對所述多個擾動電壓信號進(jìn)行放大處理,得到多個放大擾動電壓信號;
對所述多個放大擾動電壓信號進(jìn)行采樣處理,得到多個數(shù)字采樣信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于對所述多個誤差結(jié)果進(jìn)行曲線擬合得到的誤差曲線,確定射頻半波電壓,包括:
分別對所述多個第一誤差結(jié)果和所述多個第二誤差結(jié)果進(jìn)行曲線擬合處理,得到第一擬合曲線函數(shù)和第二擬合曲線函數(shù);
基于所述第一擬合曲線函數(shù)和所述第二擬合曲線函數(shù),確定目標(biāo)值,其中,將所述目標(biāo)值代入所述第一擬合曲線函數(shù)得到的第一值與將所述目標(biāo)值代入所述第二擬合曲線函數(shù)得到的第二值相等;
將所述目標(biāo)值確定為射頻半波電壓。
6.一種射頻半波電壓的測量裝置,其特征在于,所述裝置包括:
生成模塊,用于生成測量參數(shù),所述測量參數(shù)包括光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號;
調(diào)制模塊,用于對所述光信號、直流電壓信號和多個不同幅度的射頻調(diào)制電壓信號進(jìn)行調(diào)制處理,得到多個擾動電流信號;
計算模塊,用于根據(jù)預(yù)先構(gòu)造的基準(zhǔn)正交函數(shù)對所述多個擾動電流信號分別進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,計算得到多個不同幅度的射頻半波電壓下與所述基準(zhǔn)正交函數(shù)對應(yīng)的多個誤差結(jié)果;
確定模塊,用于基于對所述多個誤差結(jié)果進(jìn)行曲線擬合得到的誤差曲線,確定射頻半波電壓。
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