[發(fā)明專利]振鏡的偏轉率的測量方法、裝置、系統(tǒng)及計算機存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011128799.4
• 申請日: 2020-10-20
• 公開（公告）號: CN112261394B
• 公開（公告）日: 2022-07-22
• 發(fā)明（設計）人: 龐鳳穎
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: H04N9/31
• 分類號: H04N9/31
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權代理事務所 44287
• 代理人: 郭春芳

本發(fā)明公開了一種振鏡的偏轉率的測量方法，所述振鏡的偏轉率的測量方法包括：獲取投影儀的振鏡偏轉時所述投影儀投影的第一投影圖像；獲取所述振鏡未偏轉時所述投影儀投影的第二投影圖像；根據(jù)所述第一投影圖像和所述第二投影圖像確定圖像偏移量；根據(jù)所述圖像偏移量獲取所述振鏡的偏轉率。本發(fā)明還公開了一種振鏡的偏轉率的測量裝置、系統(tǒng)及計算機存儲介質，通過振鏡偏轉時的投影圖像和振鏡未偏轉時的投影圖像，計算出圖像的偏移量，進而確定振鏡的偏轉率，測試人員根據(jù)偏轉率即可知曉振鏡的偏轉效果是否合格，無需測試人員肉眼觀測，提高了振鏡的檢測效率，并且檢測結果更加準確。

技術領域

本發(fā)明涉及振鏡偏轉技術領域，尤其涉及振鏡的偏轉率的測量方法、裝置、系統(tǒng)及計算機存儲介質。

背景技術

數(shù)字光處理技術(DLP，Digital Light Processing)投影系統(tǒng)包括發(fā)光部件、數(shù)字微鏡元件(DMD，Digital Micromirror Device)、振鏡以及其他光學元件和結構部件。其中，振鏡用于增加圖像的解析度，在將產(chǎn)品小型化的同時提高圖像的清晰度。

在投影儀出廠時，需要對振鏡的偏轉效果進行檢測，以確保投影儀在投影時的圖像高清晰度。振鏡的偏轉效果一般由測試人員肉眼觀測投影出的圖像，并根據(jù)經(jīng)驗來判斷偏轉效果是否合格，使得振鏡的檢測效率較低。

上述內容僅用于輔助理解本發(fā)明的技術方案，并不代表承認上述內容是現(xiàn)有技術。

發(fā)明內容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種振鏡的偏轉率的測量方法，旨在通過投影圖像計算振鏡的偏轉率，以檢測振鏡的偏轉效果是否合格，提高檢測效率。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種振鏡的偏轉率的測量方法，所述振鏡的偏轉率的測量方法包括：

獲取投影儀的振鏡偏轉時所述投影儀投影的第一投影圖像；

獲取所述振鏡未偏轉時所述投影儀投影的第二投影圖像；

根據(jù)所述第一投影圖像和所述第二投影圖像確定圖像偏移量；

根據(jù)所述圖像偏移量獲取所述振鏡的偏轉率。

可選地，所述根據(jù)所述圖像偏移量獲取所述振鏡的偏轉率的步驟包括：

獲取預設標準偏移量；

根據(jù)所述預設標準偏移量和所述圖像偏移量確定所述振鏡的偏轉率。

可選地，所述根據(jù)所述第一投影圖像和所述第二投影圖像確定圖像偏移量的步驟包括：

獲取所述第一投影圖像中的第一特征像素點；

確定所述第二投影圖像中的第二特征像素點；

根據(jù)所述第一特征像素點的坐標和所述第二特征像素點的坐標確定所述圖像偏移量。

可選地，所述根據(jù)所述第一特征像素點的坐標和所述第二特征像素點的坐標確定所述圖像偏移量的步驟包括：

根據(jù)所述第一特征像素點的橫向坐標值和所述第二特征像素點的橫向坐標值確定橫向子偏移量；

根據(jù)所述第一特征像素點的縱向坐標值和所述第二特征像素點的縱向坐標值確定縱向子偏移量，其中，所述圖像偏移量包括所述橫向子偏移量以及所述縱向子偏移量，所述偏轉率包括橫向子偏轉率和縱向子偏轉率，根據(jù)所述橫向子偏移量獲取所述橫向子偏轉率，根據(jù)所述縱向子偏移量獲取所述縱向子偏轉率。

可選地，所述獲取所述第一投影圖像中的第一特征像素點的步驟包括：

確定所述第一投影圖像的中心位置；

根據(jù)所述中心位置確定所述第一特征像素點。

可選地，所述確定所述第二投影圖像中的第二特征像素點的步驟包括：