[發明專利]振鏡的偏轉率的測量方法、裝置、系統及計算機存儲介質有效
| 申請號： | 202011128799.4 | 申請日： | 2020-10-20 |
| 公開（公告）號： | CN112261394B | 公開（公告）日： | 2022-07-22 |
| 發明（設計）人： | 龐鳳穎 | 申請（專利權）人： | 歌爾光學科技有限公司 |
| 主分類號： | H04N9/31 | 分類號： | H04N9/31 |
| 代理公司： | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人： | 郭春芳 |
| 地址： | 261031 山東省濰坊市高新區東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 偏轉 測量方法 裝置 系統 計算機 存儲 介質 | ||
1.一種振鏡的偏轉率的測量方法，其特征在于，所述振鏡的偏轉率的測量方法包括：
獲取投影儀的振鏡偏轉時所述投影儀投影的第一投影圖像；
獲取所述振鏡未偏轉時所述投影儀投影的第二投影圖像；
獲取所述第一投影圖像中的第一特征像素點；
確定所述第二投影圖像中的第二特征像素點；
根據所述第一特征像素點的橫向坐標值和所述第二特征像素點的橫向坐標值確定橫向子偏移量，和/或根據所述第一特征像素點的縱向坐標值和所述第二特征像素點的縱向坐標值確定縱向子偏移量；
根據圖像偏移量獲取所述振鏡的偏轉率，其中，所述圖像偏移量包括所述橫向子偏移量和/或所述縱向子偏移量，所述偏轉率包括橫向子偏轉率和/或縱向子偏轉率，根據所述橫向子偏移量獲取所述橫向子偏轉率，和/或根據所述縱向子偏移量獲取所述縱向子偏轉率。
2.如權利要求1所述的振鏡的偏轉率的測量方法，其特征在于，所述根據所述圖像偏移量獲取所述振鏡的偏轉率的步驟包括：
獲取預設標準偏移量；
根據所述預設標準偏移量和所述圖像偏移量確定所述振鏡的偏轉率。
3.如權利要求1所述的振鏡的偏轉率的測量方法，其特征在于，所述獲取所述第一投影圖像中的第一特征像素點的步驟包括：
確定所述第一投影圖像的中心位置；
根據所述中心位置確定所述第一特征像素點。
4.如權利要求1所述的振鏡的偏轉率的測量方法，其特征在于，所述確定所述第二投影圖像中的第二特征像素點的步驟包括：
確定所述第一特征像素點所在的第一圖像區域；
獲取所述第二投影圖像中與所述第一圖像區域的相似度大于預設閾值的第二圖像區域；
確定所述第二圖像區域中的所述第二特征像素點。
5.一種振鏡的偏轉率的測量裝置，其特征在于，所述振鏡的偏轉率的測量裝置包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的振鏡的偏轉率的測量程序，所述振鏡的偏轉率的測量程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至4中任一項所述的振鏡的偏轉率的測量方法的步驟。
6.一種振鏡的偏轉率的測量系統，其特征在于，所述振鏡的偏轉率的測量系統包括：
半透明幕布，用于顯示投影儀發出的投影圖像；
圖像采集裝置，設置于所述半透明幕布背離所述投影儀的一側，并用于采集所述半透明幕布上顯示的投影圖像；
如權利要求5所述的振鏡的偏轉率的測量裝置，用于獲取所述圖像采集裝置采集的所述投影圖像。
7.一種計算機存儲介質，其特征在于，所述計算機存儲介質上存儲有振鏡的偏轉率的測量程序，所述振鏡的偏轉率的測量程序被處理器執行時實現如權利要求1至4中任一項所述的振鏡的偏轉率的測量方法的步驟。
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