[發明專利]一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統及其測試方法在審
| 申請號: | 202011127111.0 | 申請日: | 2020-10-20 |
| 公開(公告)號: | CN112327133A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發明(設計)人: | 李桂華 | 申請(專利權)人: | 南京尚孚電子電路有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R15/22;G01N25/20;G01D21/02 |
| 代理公司: | 南京泰普專利代理事務所(普通合伙) 32360 | 代理人: | 竇賢宇 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 電路板 高溫 散熱 測試 系統 及其 方法 | ||
本發明公開了一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統及其測試方法,屬于鋁基電路板制作領域;一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統包括:數據檢測模塊、A/D轉換模塊、數據輸出模塊、輸出隔離模塊、以及上位機;本發明通過數據檢測模塊進行檢測鋁基電路板上導電孔之間的阻抗,且對導電孔施加特定電流,從而檢測導電孔之間的溫度,且將阻抗信號與溫度信號通過A/D轉換模塊和數據輸出模塊輸出至上位機系統,從而進行計算、比較、分類,從而可以得到鋁基電路板的散熱效率;同時在進行信號傳輸的過程中,由于電壓之間的相互流動,通過將基準電壓與工作電壓之間完全隔離,從而可以保證傳輸信號的穩定性與安全性。
技術領域
本發明涉及鋁基電路板制作領域,尤其是一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統及其測試方法。
背景技術
隨著科學技術和人們對物質生活的不斷提高,印制板電子產品日新月異;液晶顯示器用的背光源電路板產品正由LCD向鋁基LED進行變更;鋁基LED產品席卷重要的背光源電子產品領域,而混合材質LED線路板是鋁基LED背光源線路板的升級產品。混合材質線路板是在一個平面上有兩種不同的材質結合,一邊是鋁質板材,一邊是鋁基銅面板材。
但現有技術中的鋁基電路板制作完成時,多數制造商只是進行簡單的質量問題檢測和通電測試,這對鋁基電路板的檢測大大不夠,在鋁基電路板使用過程中,有多數用戶的損耗原因為高壓產生過熱,導致鋁基電路板老化加快,從而降低鋁基電路板的使用壽命,同時在鋁基電路板制作過程中,由于操作不當,導致鋁基電路板上導電孔之間的阻抗太低,從而導致在工作中,高壓損壞鋁基電路板上的元器件。
發明內容
發明目的:提供一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統及其測試方法,以解決上述問題。
技術方案:一種用于鋁基電路板的高溫散熱測試系統,包括:
數據檢測模塊,用于進行鋁基電路板上導電孔的溫度值和阻抗值檢測;
A/D轉換模塊,用于進行接收檢測信號的模數轉換;
數據輸出模塊,用于進行輸出模擬信號量至上位機進行計算比較;
輸出隔離模塊,用于進行輸出模擬信號量傳輸至上位機過程中的光電隔離;
上位機,用于進行鋁基電路板上導電孔的溫度值和阻抗的計算、比較、以及分類。
在一個實施例中,數據檢測模塊包括:電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8、電阻R9、放大器U2B、電容C2、極性電容C5、極性電容C6、電阻R10、電容C3、電容C4、可調電阻RV1、可控穩壓源D1;
所述放大器U2B的5號引腳與所述電阻R1的一端連接且輸入電壓,所述電阻R1的另一端與所述電阻R2的一端連接,所述電阻R2的另一端同時與所述電阻R3的一端和所述電阻R4的一端連接,所述放大器U2B的6號引腳與7號引腳連接且與電阻R6的一端連接,所述放大器U2B的8號引腳與所述極性電容C5的一端連接且輸入工作電壓,所述放大器U2B的4號引腳接地,所述放大器U2B的5號引腳與8號引腳連接,所述電阻R6的另一端同時與所述電阻R7的一端、所述電阻R8的一端和所述電容C2的一端連接,所述電阻R3的另一端同時與所述電容C2的另一端和所述電阻R9的一端連接,所述電阻R5的另一端同時與所述電阻R7的另一端、所述電容C3的一端和所述電容C4的一端連接,所述電阻R9的另一端與所述電容C3的另一端連接且輸出,所述電阻R8的另一端與所述電容C4的另一端連接且輸出,所述極性電容C6的一端同時與所述極性電容C5的一端和所述電阻R10的一端連接,所述極性電容C5的另一端和所述極性電容C5的另一端連接且接地,所述可調電阻RV1的一端同時與所述電阻R10的另一端和所述可控穩壓源D1的2號引腳連接且輸出電壓,所述可調電阻RV1的控制端與所述可控穩壓源D1的1號引腳連接,所述可調電阻RV1的另一端和所述可控穩壓源D1的3號引腳連接且接地。
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