[發明專利]硬件木馬檢測方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 202011119225.0
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112016137A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 王濱;周少鵬;王星;萬里;畢志城;王旭;徐文淵;冀曉宇
• 申請（專利權）人: 杭州海康威視數字技術股份有限公司
• 主分類號: G06F21/76
• 分類號: G06F21/76
• 代理公司: 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415
• 代理人: 楊春香

1.一種硬件木馬檢測方法，其特征在于，該方法應用于電子設備，包括：

獲得所述電子設備內第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應的檢測參數；所述第一電路模塊的結構和所述第二電路模塊的結構滿足預設的相似度條件；所述第一電路模塊為被確定不存在硬件木馬的模塊，所述第二電路模塊為被確定可能存在硬件木馬的可疑模塊；

依據所述第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應的檢測參數確定所述第一電路模塊和第二電路模塊之間的檢測參數偏離程度；

當所述檢測參數偏離程度大于或等于設定檢測閾值時，確定所述第二電路模塊存在硬件木馬，否則，確定所述第二電路模塊不存在硬件木馬；所述設定檢測閾值是基于第一電路模塊和第二電路模塊在均不存在硬件木馬時在同一標準電壓下分別對應的標準參數確定的。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲得電子設備內第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應的檢測參數包括：

針對每一測試電壓，

獲得所述第一電路模塊在該測試電壓下的第一動態電流，依據第一動態電流與已獲得的電路最大工作頻率確定所述第一電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數；

獲得所述第二電路模塊在該測試電壓下的第二動態電流，依據第二動態電流與所述電路最大工作頻率確定所述第二電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述依據第一動態電流與已獲得的最大工作頻率確定所述第一電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數包括：計算第一動態電流與已獲得的最大工作頻率之間的第一比值，將所述第一比值確定為所述第一電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數；

所述依據第二動態電流與最大工作頻率確定所述第二電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數包括：計算第二動態電流與已獲得的最大工作頻率之間的第二比值，將所述第二比值確定為所述第二電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數。

4.根據權利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述依據所述第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應的檢測參數確定所述第一電路模塊和第二電路模塊之間的檢測參數偏離程度包括：

針對每一測試電壓，確定該測試電壓對應的檢測參數偏離值；該測試電壓對應的檢測參數偏離值通過設定坐標系中與該測試電壓對應的測試點至標準直線之間的距離表征；該測試電壓對應的測試點的水平坐標值為第一值、垂直坐標值為第二值；所述第一電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數和所述第二電路模塊在該測試電壓下對應的檢測參數中的一個為所述第一值，另一個為所述第二值；所述標準直線上任一點的水平坐標值與垂直坐標值相同；

依據各測試電壓對應的檢測參數偏離值確定所述檢測參數偏離程度。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述依據各測試電壓對應的檢測參數偏離值確定所述檢測參數偏離程度包括：

按照以下公式計算所述檢測參數偏離程度：

其中，表示所述檢測參數偏離程度，表示第個測試電壓對應的檢測參數偏離值；表示第一電路模塊在第個測試電壓下對應的檢測參數，表示第二電路模塊在第個測試電壓下對應的檢測參數；M大于等于1，表示測試電壓的最大數量。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二電路模塊通過以下方式被確定為可能存在硬件木馬的可疑模塊：

當所述第二電路模塊在指定時間段內被使用的次數小于第一設定次數閾值，則確定所述第二電路模塊為可能存在硬件木馬的可疑模塊；

所述第一電路模塊通過以下方式被確定為不存在硬件木馬的模塊：

當所述第一電路模塊在指定時間段內被使用的次數大于第二設定次數閾值，則確定所述第一電路模塊為不存在硬件木馬的模塊；所述第一設定次數閾值小于或等于所述第二設定次數閾值。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一電路模塊和第二電路模塊處于所述電子設備的同一電路層次，所述電子設備的電路系統被配置至少一個電路層次。