[發(fā)明專利]硬件木馬檢測方法、裝置及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011119225.0
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112016137A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王濱;周少鵬;王星;萬里;畢志城;王旭;徐文淵;冀曉宇
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州海康威視數(shù)字技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G06F21/76
• 分類號: G06F21/76
• 代理公司: 北京博思佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 楊春香

本申請?zhí)峁┝擞布抉R檢測方法、裝置及電子設(shè)備。本申請中，通過借助電路層次結(jié)構(gòu)中第一電路模塊和第二電路模塊的本身特性（在同一測試電壓下的檢測參數(shù)），并依據(jù)第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應(yīng)的檢測參數(shù)確定第一電路模塊和第二電路模塊之間的檢測參數(shù)偏離程度；當(dāng)檢測參數(shù)偏離程度大于或等于設(shè)定檢測閾值時(shí)，確定第二電路模塊存在硬件木馬，否則，確定所述第二電路模塊不存在硬件木馬，實(shí)現(xiàn)了第二電路模塊是否存在硬件木馬的檢測，無需借助黃金模型（不存在硬件木馬的原始模塊），節(jié)約了硬件木馬檢測的時(shí)間和成本，也簡化了硬件木馬的檢測流程。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及信息安全技術(shù)，特別涉及硬件木馬檢測方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

硬件木馬，是指集成電路（IC）、電子系統(tǒng)等設(shè)計(jì)中被故意植入或由設(shè)計(jì)者無意留下的冗余程序，其在特殊條件下被觸發(fā)，可起到破壞性的作用，比如篡改或破壞電路中參數(shù)，導(dǎo)致電路功能改變、敏感信息泄露或者拒絕提供服務(wù)等。

對于很多設(shè)備，假若存在硬件木馬，則會產(chǎn)生嚴(yán)重危害。以物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備為例，因?yàn)槲锫?lián)網(wǎng)設(shè)備處于平臺系統(tǒng)與用戶終端之間，假若物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備存在硬件木馬，則會對平臺系統(tǒng)和用戶終端產(chǎn)生嚴(yán)重危害。因此，一種快速、準(zhǔn)確檢測硬件木馬是當(dāng)前亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實(shí)施例提供了硬件木馬監(jiān)測方法、裝置及電子設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)檢測硬件木馬。

本申請實(shí)施例提供了一種硬件木馬檢測方法，該方法應(yīng)用于電子設(shè)備，包括：

獲得所述電子設(shè)備內(nèi)第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應(yīng)的檢測參數(shù)；所述第一電路模塊的結(jié)構(gòu)和所述第二電路模塊的結(jié)構(gòu)滿足預(yù)設(shè)的相似度條件；所述第一電路模塊為被確定不存在硬件木馬的模塊，所述第二電路模塊為被確定可能存在硬件木馬的可疑模塊；

依據(jù)所述第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應(yīng)的檢測參數(shù)確定所述第一電路模塊和第二電路模塊之間的檢測參數(shù)偏離程度；

當(dāng)所述檢測參數(shù)偏離程度大于或等于設(shè)定檢測閾值時(shí)，確定所述第二電路模塊存在硬件木馬，否則，確定所述第二電路模塊不存在硬件木馬；所述設(shè)定檢測閾值是基于第一電路模塊和第二電路模塊在之前均不存在硬件木馬時(shí)在同一標(biāo)準(zhǔn)電壓下分別對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)確定的。

可選地，所述獲得電子設(shè)備內(nèi)第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應(yīng)的檢測參數(shù)包括：

針對每一測試電壓，

獲得所述第一電路模塊在該測試電壓下的第一動態(tài)電流，依據(jù)第一動態(tài)電流與已獲得的電路最大工作頻率確定所述第一電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)；

獲得所述第二電路模塊在該測試電壓下的第二動態(tài)電流，依據(jù)第二動態(tài)電流與已獲得的電路最大工作頻率確定所述第二電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)。

可選地，所述依據(jù)第一動態(tài)電流與已獲得的最大工作頻率確定所述第一電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)包括：計(jì)算第一動態(tài)電流與已獲得的最大工作頻率之間的第一比值，將所述第一比值確定為所述第一電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)；

所述依據(jù)第二動態(tài)電流與已獲得的最大工作頻率確定所述第二電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)包括：計(jì)算第二動態(tài)電流與已獲得的最大工作頻率之間的第二比值，將所述第二比值確定為所述第二電路模塊在該測試電壓下對應(yīng)的檢測參數(shù)。

可選地，所述依據(jù)所述第一電路模塊和第二電路模塊在同一測試電壓下分別對應(yīng)的檢測參數(shù)確定所述第一電路模塊和第二電路模塊之間的檢測參數(shù)偏離程度包括：