[發(fā)明專利]一種快速測定單晶高溫合金初熔溫度的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011116560.5
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112304844B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭敏;王濤;黃太文;昌花婷;張軍;劉林;楊文超;蘇海軍
• 申請（專利權(quán)）人: 西北工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08;G01N25/00
• 代理公司: 北京高沃律師事務(wù)所 11569
• 代理人: 趙琪

1.一種快速測定單晶高溫合金初熔溫度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

利用差示掃描量熱儀測定待測單晶高溫合金的DSC初熔溫度及固相線溫度；

沿軸向在待測單晶高溫合金試樣的表面設(shè)置多個(gè)測溫點(diǎn)，然后利用定向凝固爐對待測單晶高溫合金試樣進(jìn)行連續(xù)變化溫度梯度熱處理，所述待測單晶高溫合金試樣沿軸向包括加熱端和冷卻端，所述加熱端設(shè)置的加熱溫度在所述固相線溫度以下且在DSC初熔溫度20℃以上，待加熱溫度穩(wěn)定后保溫，沿所述待測單晶高溫合金試樣的軸向形成連續(xù)變化溫度梯度，根據(jù)測溫點(diǎn)的位置和保溫過程中測溫點(diǎn)的熱處理溫度，繪制熱處理溫度隨待測單晶高溫合金試樣軸向位置的變化曲線；

將連續(xù)變化溫度梯度熱處理后的待測單晶高溫合金試樣進(jìn)行縱向切割，得到縱截面金相試樣，利用光學(xué)顯微鏡對所述縱截面金相試樣進(jìn)行拍照，得到不同軸向位置處的縱截面金相照片，對所述縱截面金相照片的孔隙率進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，繪制孔隙率隨待測單晶高溫合金試樣軸向位置的變化曲線；

將所述熱處理溫度隨待測單晶高溫合金試樣軸向位置的變化曲線以及孔隙率隨待測單晶高溫合金試樣軸向位置的變化曲線進(jìn)行整合，得到整合圖；所述整合圖以待測單晶高溫合金試樣的軸向位置為X軸，以熱處理溫度和孔隙率作為雙Y軸，得到孔隙率與熱處理溫度之間的對應(yīng)關(guān)系；確定所述整合圖中孔隙率在第一個(gè)上升階段的最大斜率位置，所述最大斜率位置處對應(yīng)的熱處理溫度為單晶高溫合金的初熔溫度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測單晶高溫合金試樣的形狀為棒狀。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述保溫過程中，采用熱電偶記錄保溫過程中測溫點(diǎn)的實(shí)時(shí)溫度變化，以保溫過程中的該點(diǎn)的平均溫度作為該測溫點(diǎn)的熱處理溫度。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的方法，其特征在于，采用插值或擬合的數(shù)據(jù)處理方法繪制熱處理溫度隨待測單晶高溫合金試樣軸向位置的變化曲線。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，各所述測溫點(diǎn)沿軸向在待測單晶高溫合金試樣的表面呈等間距分布。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的方法，其特征在于，所述測溫點(diǎn)的數(shù)量在4個(gè)以上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，利用Image-Pro-Plus圖像分析軟件對所述縱截面金相照片的孔隙率進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述保溫的時(shí)間為1～2h。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述連續(xù)變化溫度梯度熱處理前，還包括將所述定向凝固爐抽真空。