[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體芯片定位方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011115287.4 | 申請日: | 2020-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN112216640B | 公開(公告)日: | 2021-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李正大;張正;王順;廖晶 | 申請(專利權(quán))人: | 高視科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68 |
| 代理公司: | 惠州市超越知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 陳文福 |
| 地址: | 215163 江蘇省蘇州市高新區(qū)嘉陵江路19*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 芯片 定位 方法 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體芯片定位方法,其特征在于,包括:
獲取待定位的目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的初始圖像,根據(jù)所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的初始圖像獲得梯度圖像;
確定所述梯度圖像中包含完成邊界過渡的預(yù)設(shè)大小的目標(biāo)區(qū)域,確定所述目標(biāo)區(qū)域的圖像邊緣模糊距離;
根據(jù)所述圖像邊緣模糊距離獲得探測滑動框,具體包括如下步驟:首先確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片對應(yīng)的預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息;然后根據(jù)所述預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息和所述圖像邊緣模糊距離獲得滑動內(nèi)框的尺寸信息;最后根據(jù)所述預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息和所述滑動內(nèi)框的尺寸信息獲得探測滑動框,所述探測滑動框的探測區(qū)域?yàn)樗鲱A(yù)設(shè)滑動外框和所述滑動內(nèi)框構(gòu)成的邊框夾層;
根據(jù)所述探測滑動框?qū)λ鎏荻葓D像進(jìn)行探測,獲得所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片定位方法,其特征在于,
所述根據(jù)所述探測滑動框?qū)λ鎏荻葓D像進(jìn)行探測,獲得所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置,包括:
根據(jù)第一預(yù)設(shè)探測步長確定所述探測滑動框在所述梯度圖像中的多個探測位置;
確定所述探測滑動框在所述梯度圖像中各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度;
根據(jù)所述探測滑動框在各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
3.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體芯片定位方法,其特征在于,
所述根據(jù)所述探測滑動框在各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置,包括:
從所述梯度圖像的所有探測位置中確定定位響應(yīng)強(qiáng)度最大的第一目標(biāo)探測位置;
將所述探測滑動框在所述第一目標(biāo)探測位置上對應(yīng)的滑動框位置確定為所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
4.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體芯片定位方法,其特征在于,
所述根據(jù)所述探測滑動框在各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置,包括:
從所述多個探測位置中確定定位響應(yīng)強(qiáng)度最大的目標(biāo)探測位置;
根據(jù)所述探測滑動框在所述目標(biāo)探測位置上對應(yīng)的框內(nèi)區(qū)域確定粗探測區(qū)域;
根據(jù)第二預(yù)設(shè)探測步長確定所述探測滑動框在所述粗探測區(qū)域中的多個探測位置;
確定所述探測滑動框在所述粗探測區(qū)域中各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度;
從所述粗探測區(qū)域的所有探測位置中確定定位響應(yīng)強(qiáng)度最大的第二目標(biāo)探測位置;
將所述探測滑動框在所述第二目標(biāo)探測位置上對應(yīng)的滑動框位置確定為所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
5.一種半導(dǎo)體芯片定位裝置,其特征在于,包括:
梯度圖像獲得模塊,用于獲取待定位的目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的初始圖像,根據(jù)所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的初始圖像獲得梯度圖像;
邊緣模糊距離確定模塊,用于確定所述梯度圖像中包含完成邊界過渡的預(yù)設(shè)大小的目標(biāo)區(qū)域,確定所述目標(biāo)區(qū)域的圖像邊緣模糊距離;
探測框獲得模塊,用于根據(jù)所述圖像邊緣模糊距離獲得探測滑動框,所述探測框獲得模塊包括:外框尺寸確定子模塊,用于確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片對應(yīng)的預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息;內(nèi)框尺寸確定子模塊,用于根據(jù)所述預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息和所述圖像邊緣模糊距離獲得滑動內(nèi)框的尺寸信息;探測框獲得子模塊,用于根據(jù)所述預(yù)設(shè)滑動外框的尺寸信息和所述滑動內(nèi)框的尺寸信息獲得探測滑動框,所述探測滑動框的探測區(qū)域?yàn)樗鲱A(yù)設(shè)滑動外框和所述滑動內(nèi)框構(gòu)成的邊框夾層;
定位模塊,用于根據(jù)所述探測滑動框?qū)λ鎏荻葓D像進(jìn)行探測,獲得所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
6.如權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體芯片定位裝置,其特征在于,
所述定位模塊包括:
探測位置確定子模塊,用于根據(jù)第一預(yù)設(shè)探測步長確定所述探測滑動框在所述梯度圖像中的多個探測位置;
定位響應(yīng)強(qiáng)度確定子模塊,用于確定所述探測滑動框在所述梯度圖像中各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度;
定位子模塊,用于根據(jù)所述探測滑動框在各個探測位置上對應(yīng)的定位響應(yīng)強(qiáng)度確定所述目標(biāo)半導(dǎo)體芯片的定位位置。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





