[發明專利]一種固態硬盤老化產生壞塊的解析方法、裝置

在審

• 申請號: 202011109054.3
• 申請日: 2020-10-16
• 公開（公告）號: CN112216338A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 杜賓
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 李舜江

1.一種固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，包括如下步驟：

老化測試過程將壞塊信息存儲于存儲器；

將存放壞塊的存儲器進行地址劃分；

按劃分的地址分塊提取壞塊信息；

將提取的壞塊信息按照壞塊結構進行解析；

將解析后的壞塊信息寫入數據庫。

2.根據權利要求1所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，將存放壞塊的存儲器進行地址劃分的步驟之前還包括：

檢測老化測試是否完成，若是，執行步驟：將存放壞塊的存儲器進行地址劃分；若否，繼續執行老化測試，并且老化測試過程將壞塊信息存儲于存儲器。

3.根據權利要求1所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，將存放壞塊的存儲器進行地址劃分的步驟包括：

存放壞塊的存儲器進行地址劃分，并將存儲器的空余位用全F補充。

4.根據權利要求1所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，老化測試過程將壞塊信息存儲于存儲器的步驟之前包括：

設計壞塊結構，壞塊信息按照設計的壞塊結構進行存儲，其中，壞塊信息中包括block信息、lun信息、ce信息、channel信息、壞塊產生的原因信息、第一次掃描產生壞塊時的cycle、當前壞塊的類型、當前壞塊是第幾次老化測試產生的壞塊。

5.根據權利要求4所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，按劃分的地址分塊提取壞塊信息的步驟包括：

按劃分的地址提取每一地址段的壞塊信息的值。

6.根據權利要求5所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析方法，其特征在于，將提取的壞塊信息按照壞塊結構進行解析的步驟包括：

按照壞塊結構將提取的每一地址段的壞塊信息的值從高到低位進行解析。

7.一種固態硬盤老化產生壞塊的解析裝置，其特征在于，執行模塊、地址劃分模塊、壞塊信息提取模塊、解析模塊、寫入模塊；

執行模塊，用于老化測試過程將壞塊信息存儲于存儲器；

地址劃分模塊，用于將存放壞塊的存儲器進行地址劃分；

壞塊信息提取模塊，用于按劃分的地址分塊提取壞塊信息；

解析模塊，用于將提取的壞塊信息按照壞塊結構進行解析；

寫入模塊，用于將解析后的壞塊信息寫入數據庫。

8.根據權利要求7所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析裝置，其特征在于，該裝置還包括檢測模塊；

檢測模塊，用于檢測老化測試是否完成，若是，輸出信息到地址劃分模塊；若否，輸出信息到執行模塊。

9.根據權利要求7所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析裝置，其特征在于，地址劃分模塊，具體用于存放壞塊的存儲器進行地址劃分，并將存儲器的空余位用全F補充。

10.根據權利要求7所述的固態硬盤老化產生壞塊的解析裝置，其特征在于，設計模塊，用于設計壞塊結構；

執行模塊，用于將壞塊信息按照設計的壞塊結構進行存儲，其中，壞塊信息中包括block信息、lun信息、ce信息、channel信息、壞塊產生的原因信息、第一次掃描產生壞塊時的cycle、當前壞塊的類型、當前壞塊是第幾次老化測試產生的壞塊。