[發明專利]測量裝置和傳感器封裝體

在審

• 申請號: 202011102532.8
• 申請日: 2020-10-15
• 公開（公告）號: CN112665616A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: U·奧塞勒克納
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G01D5/14
• 分類號: G01D5/14;G01R33/022;G01B7/30
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 閆昊

1.一種測量裝置，包括：

第一軟磁元件(12₁)；

第二軟磁元件(12₂)；

與所述第一軟磁元件(12₁)機械耦聯的磁性元件(14)，所述磁性元件構造成產生磁場(18)；和

用于檢測所述磁場(18)的傳感器裝置(22)，所述傳感器裝置布置成使得所述第一軟磁元件(14)與所述傳感器裝置(22)之間的相對運動導致所述傳感器裝置(22)的位置處的所述磁場(18)的變化，其中所述傳感器裝置(22)被構造用于確定所述變化；

其中所述傳感器裝置(22)布置在所述第一軟磁元件(12₁)與所述第二軟磁元件(12₂)之間。

2.根據權利要求1所述的測量裝置，其中所述第二軟磁元件(12₂)設定成引起疊加在所述磁場上的干擾場的扭曲(44₂)，所述扭曲與所述干擾場的由所述第一軟磁元件(12₁)引起的扭曲(44₁)相反。

3.根據權利要求1或2所述的測量裝置，其中所述第二軟磁元件(12₁)被構造用于：在標稱的運行狀態下并且在與所述第一軟磁元件(12₁)相互作用時，在外部的并且關于所述相對運動的徑向的干擾磁場的作用下，將所述干擾磁場的在所述傳感器裝置上的軸向分量減小至少30％。

4.根據前述權利要求中任一項所述的測量裝置，其中所述相對運動(44₂)包括相對旋轉運動，并且其中通過所述第二軟磁元件(12₂)的軟磁特性對所述磁場(18)的第二影響沿著所述相對旋轉運動的旋轉軸線(34)與所述傳感器裝置(22)對稱地延續通過所述第一軟磁元件(12₁)的軟磁特性對所述磁場(18)的第一影響(44₁)。

5.根據前述權利要求中任一項所述的測量裝置，其中所述第一軟磁元件(12₁)圍繞旋轉軸線(34)旋轉地支承，其中所述第二軟磁元件(12₂)的面積形心布置在所述旋轉軸線(34)上。

6.根據前述權利要求中任一項所述的測量裝置，其中所述相對運動包括相對旋轉運動，并且其中所述第一軟磁元件(12₁)和所述第二軟磁元件(12₁)圍繞所述相對旋轉運動的旋轉軸線(34)旋轉對稱地形成。

7.根據前述權利要求中任一項所述的測量裝置，其中所述相對運動包括圍繞旋轉軸線(34)的相對旋轉運動，并且其中所述傳感器裝置(22)具有至少三個傳感器元件(36)，所述至少三個傳感器元件被設定用于檢測所述磁場(18)；

其中所述至少三個傳感器元件(36)圍繞布置在所述旋轉軸線(34)上的圓心布置在具有第一半徑(r₁)的圓形軌道上或所述圓形軌道內；

其中所述第二軟磁元件的面向所述傳感器裝置的主側圍繞所述相對旋轉運動的旋轉軸線(34)旋轉對稱地形成，并且具有第二半徑(r₂)；并且

其中所述第二半徑(r₂)大于所述第一半徑(r₁)。

8.根據前述權利要求中任一項所述的測量裝置，其中所述傳感器裝置(22)包括多個形成為磁性角度傳感器的傳感器元件(36)；其中所述傳感器裝置(22)被構造用于在使用梯度測量原理的情況下評估所述傳感器元件。