[發(fā)明專利]蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011099453.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112419228B | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許志偉;姜涌;吳文鑫;鄒志豪;林鑫杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 高視科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/136 |
| 代理公司: | 北京維昊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11804 | 代理人: | 李強(qiáng);李波 |
| 地址: | 215011 江蘇省蘇州市高新區(qū)嘉陵江路19*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 蓋板 立體 邊緣 缺陷 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,所述檢測(cè)方法包括:
獲取所述蓋板的立體邊緣圖像;
根據(jù)所述立體邊緣圖像,通過多次均值濾波獲得多個(gè)中間圖像,并且根據(jù)所述立體邊緣圖像和所述多個(gè)中間圖像獲得中間缺陷圖像;
根據(jù)所述中間缺陷圖像,通過圖像增強(qiáng)獲得缺陷凸顯圖像;
根據(jù)所述缺陷凸顯圖像,提取立體邊緣處的缺陷的圖像;
其中,根據(jù)所述立體邊緣圖像,通過多次均值濾波獲得多個(gè)中間圖像,并且根據(jù)所述立體邊緣圖像和所述多個(gè)中間圖像獲得所述中間缺陷圖像包括:
分別使用多個(gè)尺寸依次遞增的濾波核對(duì)所述立體邊緣圖像進(jìn)行均值濾波,獲得多個(gè)中間圖像;
將立體邊緣圖像分別與多個(gè)中間圖像中的每一個(gè)按像素做差,得到多個(gè)做差后的圖像;
將所述多個(gè)做差后的圖像按像素求和并歸一化而獲得所述中間缺陷圖像;
其中,通過圖像增強(qiáng)獲得所述缺陷凸顯圖像包括:
遍歷所述中間缺陷圖像的所有像素,將當(dāng)前像素的當(dāng)前灰度值和與當(dāng)前像素鄰近的像素區(qū)域范圍內(nèi)的所有像素的灰度值均值相減;
若相減后的絕對(duì)值大于閾值,則將當(dāng)前像素的灰度值z(mì)(x,y)賦值為當(dāng)前灰度值z(mì)(x,y)與前一個(gè)像素的灰度值z(mì)(x-1,y)或z(x,y-1)的和,否則將當(dāng)前像素的灰度值z(mì)(x,y)賦值為0,其中x,y為當(dāng)前像素的坐標(biāo);
在遍歷所有像素后得到第一增強(qiáng)圖像,所述第一增強(qiáng)圖像中的各個(gè)像素的灰度值為e(x,y),通過公式f(x,y)=e(x,y)2得到第二增強(qiáng)圖像,其中f(x,y)代表所述第二增強(qiáng)圖像在(x,y)坐標(biāo)處的灰度值;以及
根據(jù)增強(qiáng)后的所述第一增強(qiáng)圖像和所述第二增強(qiáng)圖像計(jì)算得到所述缺陷凸顯圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,所述根據(jù)所述缺陷凸顯圖像,提取所述立體邊緣處的缺陷的圖像包括:通過對(duì)所述缺陷凸顯圖像進(jìn)行閾值化分割來提取所述缺陷的圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,在所述獲取所述蓋板的立體邊緣圖像之前,所述檢測(cè)方法還包括:
采集蓋板的圖像;
根據(jù)所述蓋板的圖像,確定所述蓋板的立體邊緣圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,在采集蓋板的圖像之后,所述檢測(cè)方法還包括:
通過高斯濾波對(duì)采集的所述蓋板的圖像進(jìn)行濾波。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,所述根據(jù)所述蓋板的圖像,確定所述蓋板的立體邊緣圖像包括:根據(jù)所述蓋板的圖像和蓋板參考圖像確定所述蓋板的立體邊緣圖像。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,根據(jù)所述蓋板的圖像和蓋板參考圖像確定所述蓋板的立體邊緣圖像包括:
在所述蓋板參考圖像中以一像素點(diǎn)為參考中心取一參考區(qū)域;
根據(jù)所述參考區(qū)域,通過搜索算法在所述蓋板的圖像中確定與所述參考中心相對(duì)應(yīng)的定位點(diǎn);
根據(jù)所述定位點(diǎn)和所述參考中心確定所述定位點(diǎn)相對(duì)于所述參考中心的偏移;
根據(jù)所述偏移和所述蓋板參考圖像中的立體邊緣的位置確定所述蓋板圖像的立體邊緣圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的蓋板立體邊緣缺陷的檢測(cè)方法,其中,所述參考中心為所述蓋板參考圖像中的攝像孔的中心,所述參考區(qū)域?yàn)橐运鰯z像孔的中心為中心的長(zhǎng)方形區(qū)域。
8.一種電子設(shè)備,包括:
一個(gè)或多個(gè)處理器;以及
存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令由所述一個(gè)或多個(gè)處理器運(yùn)行時(shí),使得所述電子設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的方法。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),包括計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令由一個(gè)或多個(gè)處理器運(yùn)行時(shí),執(zhí)行如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的方法。
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