[發明專利]一種多頻電成像的數據參數反演方法和裝置

有效

• 申請號: 202011094099.8
• 申請日: 2020-10-14
• 公開（公告）號: CN112253090B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發明（設計）人: 于增輝;盧濤;劉耀偉;王芝環;賈立柱;歐陽帥玉;劉保銀;張中慶
• 申請（專利權）人: 中海油田服務股份有限公司
• 主分類號: E21B47/002
• 分類號: E21B47/002;G06F30/20
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 吳曉霞;栗若木

本文公開了一種多頻電成像的數據參數反演方法，包括，步驟1，將多頻電成像設備測量到的阻抗信號轉換為電阻率值，并修正電阻率值；步驟2，根據修正后的地層電阻率和預先建立的井眼環境影響因素仿真庫，進行反演確定井眼因素參數；步驟3，根據井眼因素參數校正所測量到的阻抗信號；步驟4，根據校正后的阻抗信號和預先建立的地層參數仿真庫，進行反演確定地層參數；步驟5，判斷所確定的井眼因素參數和地層參數與測量到的阻抗信號之間的誤差是否符合預定的第一誤差標準；如果符合，則所確定的井眼因素參數和地層參數確定為所述數據參數；如果不符合，則更新地層電阻率返回步驟2。

技術領域

本公開涉及但不限于油田開發技術領域，特別是涉及到一種多頻電成像的數據參數反演方法和裝置。

背景技術

成像測井設備(成像測井儀)具備高密度的陣列鈕扣電極排列，能夠提供高分辨率以及高井眼覆蓋率的井壁成像圖，其成像解釋揭開了油氣解釋的新篇章，從成像圖中能夠直觀地獲取巖性，地層的沉積構造以及裂縫特征等地質信息。成像測井技術在解決當下開發難度日益增大的油氣勘探開發中發揮著日益重要的作用。

電成像測井技術發展于20世紀80年代。斯倫貝謝公司推出了第一代微電阻率掃描成像儀FMS，用于水基泥漿井中的成像，FMS在8.5in井眼中測量的井壁覆蓋率為20％。為了提高井壁覆蓋率，斯倫貝謝公司1991年研制出了全井眼地層微電阻率掃描成像測井儀FMI，該儀器在它的每個推靠臂上裝有一個主極板和折頁極板，儀器在8.5in井眼中測量可以達到80％的井壁覆蓋率，提供的地層信息十分豐富。在2013年，斯倫貝謝公司又推出了新一代的高分辨率電成像儀器FMI-HD，能夠適用于部分油基泥漿環境，同時在電子線路方面有重大的改進。繼斯倫貝謝之后，哈里伯頓公司在1995年推出了微電阻率井壁成像測井儀EMI，EMI是在六臂傾角技術的基礎上發展起來的，具有六個極板雙排150個電極結構。隨后哈里伯頓公司又推出了EMI改進型的微電阻率成像測井儀XRMI，電阻率測量范圍達到了0.2-10000Ωm。隨后阿特拉斯公司也推出了STARII型6極板144紐扣電極結構的井壁微電阻率成像測井儀，對于8.5in井眼測量的井壁覆蓋率為60％。2019年貝克休斯最新推出的STAR系列儀器STAR-XR在井眼覆蓋率方面提升了30％。國內中海油服在推出單頻油基電成像測井儀OGIT的基礎上，研制出適用于非導電型油基泥漿環境下的多頻電成像測井儀MFIT，并且兼有水基環境下的測量功能，能夠同時獲取三種工作頻率下的地層電性響應信息。

隨著海上勘探逐漸走向深層，高溫高壓、泥漿體系多樣化，導致井眼環境異常惡劣，同時在某些環境下還會出現儀器卡頓、極板貼靠等原因導致的部分極板圖像模糊等測井圖像質量下降的情況，對地層特征的認識有著較為嚴重的干擾。目前的單頻電成像測量已無法很好的滿足復雜井況下的高質量成像測量，因此，多頻電成像測量成為一種發展趨勢，因其多種頻率、多探測深度的測量特點，提供了更為豐富的測井信息，能夠適應復雜井眼和地層環境下的測量需求，通過多頻數據處理獲取高質量的成像資料，為地層評價和地質解釋提供更為可靠的測井資料。另外由于泥漿多樣化、極板貼靠不佳、泥餅覆蓋等因素經常會導致電成像圖像模糊，地層特征弱化等現象。

發明內容

以下是對本文詳細描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權利要求的保護范圍。

本公開實施例提供了一種多頻電成像的數據參數反演方法和裝置，能夠解決由環境引起的導致電成像圖像模糊，地層特征弱化等現象，提升所獲取的地層參數的真實度。

本公開實施例提供一種多頻電成像的數據參數反演方法，包括，

步驟1，根據預設的電阻率-阻抗轉換關系將多頻電成像設備測量到的阻抗信號轉換為電阻率值，根據不同頻率電阻率值的探測特性，修正所述電阻率值；

步驟2，將修正后的電阻率值作為地層電阻率，根據所述地層電阻率，利用預先建立的井眼環境影響因素仿真庫，進行反演確定井眼因素參數；

步驟3，根據所述井眼因素參數和所述預先建立的井眼環境影響因素仿真庫，對所測量到的阻抗信號進行校正；