[發(fā)明專利]一種多頻電成像的數(shù)據(jù)參數(shù)反演方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011094099.8
• 申請(qǐng)日: 2020-10-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112253090B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于增輝;盧濤;劉耀偉;王芝環(huán);賈立柱;歐陽(yáng)帥玉;劉保銀;張中慶
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中海油田服務(wù)股份有限公司
• 主分類號(hào): E21B47/002
• 分類號(hào): E21B47/002;G06F30/20
• 代理公司: 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 吳曉霞;栗若木

1.一種多頻電成像的數(shù)據(jù)參數(shù)反演方法，其特征在于，包括，

步驟1，根據(jù)預(yù)設(shè)的電阻率-阻抗轉(zhuǎn)換關(guān)系將多頻電成像設(shè)備測(cè)量到的阻抗信號(hào)轉(zhuǎn)換為電阻率值，根據(jù)不同頻率電阻率值的探測(cè)特性，修正所述電阻率值；

步驟2，將修正后的電阻率值作為地層電阻率，根據(jù)所述地層電阻率，利用預(yù)先建立的井眼環(huán)境影響因素仿真庫(kù)，進(jìn)行反演確定井眼因素參數(shù)；

步驟3，根據(jù)所述井眼因素參數(shù)和所述預(yù)先建立的井眼環(huán)境影響因素仿真庫(kù)，對(duì)所測(cè)量到的阻抗信號(hào)進(jìn)行校正；

步驟4，根據(jù)校正后的阻抗信號(hào)，利用預(yù)先建立的地層參數(shù)仿真庫(kù)，進(jìn)行反演確定地層參數(shù)，所述地層參數(shù)至少包括：地層電阻率；

步驟5，根據(jù)所述井眼因素參數(shù)和所述地層參數(shù)，建立多維度地層模型，根據(jù)所述多維度地層模型確定第一測(cè)井響應(yīng)；判斷所述第一測(cè)井響應(yīng)與所測(cè)量到的阻抗信號(hào)之間的誤差是否符合預(yù)定的第一誤差標(biāo)準(zhǔn)；如果符合，確定所述井眼因素參數(shù)和所述地層參數(shù)為所述數(shù)據(jù)參數(shù)；如果不符合，則將步驟4中所確定的地層參數(shù)中的地層電阻率作為步驟2中的所述地層電阻率，返回步驟2；

其中，所述預(yù)設(shè)的電阻率-阻抗轉(zhuǎn)換關(guān)系根據(jù)以下方式確定：

設(shè)置均勻無(wú)限厚地層模型，改變所述均勻無(wú)限厚地層模型中的地層電阻率，利用數(shù)值仿真算法計(jì)算所述多頻電成像設(shè)備在多個(gè)頻率下對(duì)應(yīng)的阻抗響應(yīng)信號(hào)，建立所述多頻電成像設(shè)備的阻抗響應(yīng)信號(hào)與地層電阻率信號(hào)轉(zhuǎn)換關(guān)系，即所述電阻率-阻抗轉(zhuǎn)換關(guān)系；其中，所述均勻無(wú)限厚地層模型的井徑為第一預(yù)設(shè)常數(shù)，泥漿電阻率等于地層電阻率，泥漿介電常數(shù)等于地層介電常數(shù)，圍巖電阻率等于地層電阻率、極板與井壁間隙為第二預(yù)設(shè)常數(shù)；

所述根據(jù)不同頻率電阻率值的探測(cè)特性，修正所述電阻率值，包括：

根據(jù)預(yù)先建立的不同頻率電阻曲線差值的大小與電阻率偏移量的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述電阻率值對(duì)應(yīng)的地層電阻率偏移值，根據(jù)所述地層電阻率偏移值修正所述電阻率值；

所述預(yù)先建立的井眼環(huán)境影響因素仿真庫(kù)根據(jù)以下方式建立：

通過(guò)改變井眼因素參數(shù)、地層電阻率和地層介電常數(shù)，建立多個(gè)不同的井眼因素模型；全部井眼因素模型構(gòu)建井眼因素模型庫(kù)；通過(guò)數(shù)值仿真算法計(jì)算井眼因素模型庫(kù)中各井眼因素模型對(duì)應(yīng)的第二測(cè)井響應(yīng)，根據(jù)所述井眼因素模型庫(kù)和所述第二測(cè)井響應(yīng)建立井眼環(huán)境影響因素仿真庫(kù)；其中，所述井眼因素模型庫(kù)中各井眼因素模型是不設(shè)置圍巖的地層模型；

所述預(yù)先建立的地層參數(shù)仿真庫(kù)根據(jù)以下方式建立：

通過(guò)改變地質(zhì)特征參數(shù)，建立多個(gè)不同的地層參數(shù)模型；全部地層參數(shù)模型構(gòu)建地層參數(shù)模型庫(kù)；利用數(shù)值仿真算法計(jì)算所述地層參數(shù)模型庫(kù)中各地層參數(shù)模型對(duì)應(yīng)的第三測(cè)井響應(yīng)，根據(jù)所述地層參數(shù)模型庫(kù)和所述第三測(cè)井響應(yīng)建立地層參數(shù)仿真庫(kù)；

其中，所述地質(zhì)特征參數(shù)至少包括以下之一：層厚、測(cè)量點(diǎn)位置、地層電阻率、地層介電常數(shù)、圍巖電阻率和圍巖介電常數(shù)；所述地層參數(shù)模型庫(kù)中的地層參數(shù)模型是井徑為第三預(yù)設(shè)常數(shù)，泥漿電阻率等于地層電阻率，泥漿介電常數(shù)等于地層介電常數(shù)，極板與井壁間隙為第四預(yù)設(shè)常數(shù)的地層模型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述井眼因素參數(shù)包括以下一種或多種：井徑、泥漿電阻率、泥漿介電常數(shù)、極板與井壁間隙；

所述地層參數(shù)還包括以下一種或多種：地層介電常數(shù)、圍巖電阻率和圍巖介電常數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據(jù)預(yù)設(shè)的電阻率-阻抗轉(zhuǎn)換關(guān)系將多頻電成像設(shè)備測(cè)量到的阻抗信號(hào)轉(zhuǎn)換為電阻率值，包括：

根據(jù)測(cè)量到的阻抗信號(hào)的阻抗值和對(duì)應(yīng)的工作頻率，查找預(yù)設(shè)的阻抗信號(hào)-電阻率轉(zhuǎn)換表，如果能找到，則查找到的電阻率值為所述電阻率值；如果不能找到，則根據(jù)預(yù)設(shè)的阻抗信號(hào)-電阻率轉(zhuǎn)換表，通過(guò)數(shù)值差值方法將測(cè)量到的阻抗信號(hào)轉(zhuǎn)換為所述電阻率值。