[發明專利]一種多頻電成像的數據參數反演方法和裝置

有效

• 申請號: 202011094099.8
• 申請日: 2020-10-14
• 公開（公告）號: CN112253090B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發明（設計）人: 于增輝;盧濤;劉耀偉;王芝環;賈立柱;歐陽帥玉;劉保銀;張中慶
• 申請（專利權）人: 中海油田服務股份有限公司
• 主分類號: E21B47/002
• 分類號: E21B47/002;G06F30/20
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 吳曉霞;栗若木

1.一種多頻電成像的數據參數反演方法，其特征在于，包括，

步驟1，根據預設的電阻率-阻抗轉換關系將多頻電成像設備測量到的阻抗信號轉換為電阻率值，根據不同頻率電阻率值的探測特性，修正所述電阻率值；

步驟2，將修正后的電阻率值作為地層電阻率，根據所述地層電阻率，利用預先建立的井眼環境影響因素仿真庫，進行反演確定井眼因素參數；

步驟3，根據所述井眼因素參數和所述預先建立的井眼環境影響因素仿真庫，對所測量到的阻抗信號進行校正；

步驟4，根據校正后的阻抗信號，利用預先建立的地層參數仿真庫，進行反演確定地層參數，所述地層參數至少包括：地層電阻率；

步驟5，根據所述井眼因素參數和所述地層參數，建立多維度地層模型，根據所述多維度地層模型確定第一測井響應；判斷所述第一測井響應與所測量到的阻抗信號之間的誤差是否符合預定的第一誤差標準；如果符合，確定所述井眼因素參數和所述地層參數為所述數據參數；如果不符合，則將步驟4中所確定的地層參數中的地層電阻率作為步驟2中的所述地層電阻率，返回步驟2；

其中，所述預設的電阻率-阻抗轉換關系根據以下方式確定：

設置均勻無限厚地層模型，改變所述均勻無限厚地層模型中的地層電阻率，利用數值仿真算法計算所述多頻電成像設備在多個頻率下對應的阻抗響應信號，建立所述多頻電成像設備的阻抗響應信號與地層電阻率信號轉換關系，即所述電阻率-阻抗轉換關系；其中，所述均勻無限厚地層模型的井徑為第一預設常數，泥漿電阻率等于地層電阻率，泥漿介電常數等于地層介電常數，圍巖電阻率等于地層電阻率、極板與井壁間隙為第二預設常數；

所述根據不同頻率電阻率值的探測特性，修正所述電阻率值，包括：

根據預先建立的不同頻率電阻曲線差值的大小與電阻率偏移量的對應關系，確定所述電阻率值對應的地層電阻率偏移值，根據所述地層電阻率偏移值修正所述電阻率值；

所述預先建立的井眼環境影響因素仿真庫根據以下方式建立：

通過改變井眼因素參數、地層電阻率和地層介電常數，建立多個不同的井眼因素模型；全部井眼因素模型構建井眼因素模型庫；通過數值仿真算法計算井眼因素模型庫中各井眼因素模型對應的第二測井響應，根據所述井眼因素模型庫和所述第二測井響應建立井眼環境影響因素仿真庫；其中，所述井眼因素模型庫中各井眼因素模型是不設置圍巖的地層模型；

所述預先建立的地層參數仿真庫根據以下方式建立：

通過改變地質特征參數，建立多個不同的地層參數模型；全部地層參數模型構建地層參數模型庫；利用數值仿真算法計算所述地層參數模型庫中各地層參數模型對應的第三測井響應，根據所述地層參數模型庫和所述第三測井響應建立地層參數仿真庫；

其中，所述地質特征參數至少包括以下之一：層厚、測量點位置、地層電阻率、地層介電常數、圍巖電阻率和圍巖介電常數；所述地層參數模型庫中的地層參數模型是井徑為第三預設常數，泥漿電阻率等于地層電阻率，泥漿介電常數等于地層介電常數，極板與井壁間隙為第四預設常數的地層模型。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述井眼因素參數包括以下一種或多種：井徑、泥漿電阻率、泥漿介電常數、極板與井壁間隙；

所述地層參數還包括以下一種或多種：地層介電常數、圍巖電阻率和圍巖介電常數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據預設的電阻率-阻抗轉換關系將多頻電成像設備測量到的阻抗信號轉換為電阻率值，包括：

根據測量到的阻抗信號的阻抗值和對應的工作頻率，查找預設的阻抗信號-電阻率轉換表，如果能找到，則查找到的電阻率值為所述電阻率值；如果不能找到，則根據預設的阻抗信號-電阻率轉換表，通過數值差值方法將測量到的阻抗信號轉換為所述電阻率值。