[發明專利]一種多面尺寸測量方法

在審

• 申請號: 202011093869.7
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112275657A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 呂波
• 申請（專利權）人: 珠海市科迪電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/10
• 分類號: B07C5/10;B07C5/36
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 盧澤明

本發明提供一種多面尺寸測量方法，將被測產品放置在第一tray盤上，自動依次控制進行上表面外形尺寸測量、側面外形尺寸測量，在側面外形尺寸測量前還先進行下表面外形尺寸測量，其中在側面外形尺寸測量過程中，被測產品被控制進行旋轉，針對其不同側面分別進行側面外形尺寸測量，至此被測產品的六個外表面均完成尺寸測量，測量效率快，適合批量生產中的全檢工作；且對于測量結果不一樣的被測產品實施分類管理，不會竄料，保證輸向下游的tray盤上的產品質量一致。

技術領域

本發明屬于電子產品尺寸測量流程技術領域，尤其涉及一種多面尺寸測量方法。

背景技術

在3C電子產品領域需要對物料的外形輪廓尺寸、斜面角度尺寸或外形圓弧尺寸等進行多方位的測量，包括頂面、背面和四個側面，對每個面的測量結果進行判斷，進而提升生產的質量。

隨著對此類3C電子產品的生產質量要求越來越高，很多產品在生產時均會要求對其多個面進行尺寸測量，但是目前的測量方法主要是采用二次元與三次元測量儀器分開獨立測量的方法，針對每個面的測量需要在不同的測量設備上完成，測量步驟比較分散，在不同設備之間的移料也容易對產品造成額外的人為傷害；在此測量方法的基礎上，測量速度非常慢，只能作為工廠生產活動中的QC首件確認與IPQC抽檢使用，且隨著操作員的技術熟練程度與測量方法差異會導致測量結果不一致，存在測量錯誤的風險，因此這種測量方法無法實現一次性的多面尺寸測量目的，無法適應批量生產中的全檢工作。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術存在的不足，提供一種多面尺寸測量方法，解決了現有技術中無法對被測產品實施一次性多面尺寸測量的瓶頸問題，克服了測量效率低，測量誤差大的問題。

為了實現上述目的，本發明提供一種多面尺寸測量方法，包括以下步驟：

步驟S1：將裝有被測產品的第一tray盤放置在上料機上，控制第一提取裝置提取至少一個被測產品、并將被測產品放置于第一測試平臺，控制第一測量裝置對被測產品的上表面進行外形尺寸測量；

步驟S2：控制第一提取裝置將上表面測量合格的被測產品放回第一tray盤上，控制第一tray盤輸向第二提取裝置；

步驟S3：控制第二提取裝置提取被測產品、并將被測產品放置于第二測試平臺，控制第二測量裝置對被測產品的側面進行外形尺寸測量；

步驟S4：控制第三提取裝置將側面測量合格的被測產品放在良品tray盤上，控制良品tray盤輸向下料機。

進一步地，在步驟S3中：

第二提取裝置提取被測產品后，先經過第三測量裝置，所述第三測量裝置被配置為對被測產品的下表面進行外形尺寸測量，下表面測量后再將被測產品放置在第二測試平臺。

進一步地，在步驟S1中，第一提取裝置提取被測產品后，將被測產品按順時針旋轉90°后再放置在第一測試平臺上。

進一步地，在步驟S2中，所述第一測量裝置逐個對被測產品的上表面進行外形尺寸測量，將每個被測產品的測量結果發送至控制器，控制器控制與被測產品對應的第一提取裝置將上表面測量合格的被測產品放回第一tray盤上、將上表面測量不合格的被測產品放至第二tray盤上。

進一步地，在步驟S3中，控制所述第二測試平臺帶動被測產品進行沿同一順時針或者逆時針方向的多次90°旋轉，對于被測產品的每個側面，通過第二測量裝置對其進行外形尺寸測量。

進一步地，在步驟S4中，所述第二測量裝置將被測產品的側面測量結果發送至控制器，控制器控制與被測產品對應的第三提取裝置將側面測量合格的被測產品放在良品tray盤上、將側面測量不合格的被測產品放在不良品tray盤上。