[發明專利]一種多面尺寸測量方法

在審

• 申請號: 202011093869.7
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112275657A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 呂波
• 申請（專利權）人: 珠海市科迪電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/10
• 分類號: B07C5/10;B07C5/36
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 盧澤明

1.一種多面尺寸測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1：將裝有被測產品的第一tray盤放置在上料機上，控制第一提取裝置提取至少一個被測產品、并將被測產品放置于第一測試平臺，控制第一測量裝置對被測產品的上表面進行外形尺寸測量；

步驟S2：控制第一提取裝置將上表面測量合格的被測產品放回第一tray盤上，控制第一tray盤輸向第二提取裝置；

步驟S3：控制第二提取裝置提取被測產品、并將被測產品放置于第二測試平臺，控制第二測量裝置對被測產品的側面進行外形尺寸測量；

步驟S4：控制第三提取裝置將側面測量合格的被測產品放在良品tray盤上，控制良品tray盤輸向下料機。

2.如權利要求1所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S3中：

第二提取裝置提取被測產品后，先經過第三測量裝置，所述第三測量裝置被配置為對被測產品的下表面進行外形尺寸測量，下表面測量后再將被測產品放置在第二測試平臺。

3.如權利要求2所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S1中，第一提取裝置提取被測產品后，將被測產品按順時針旋轉90°后再放置在第一測試平臺上。

4.如權利要求3所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S2中，所述第一測量裝置逐個對被測產品的上表面進行外形尺寸測量，將每個被測產品的測量結果發送至控制器，控制器控制與被測產品對應的第一提取裝置將上表面測量合格的被測產品放回第一tray盤上、將上表面測量不合格的被測產品放至第二tray盤上。

5.如權利要求4所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S3中，控制所述第二測試平臺帶動被測產品進行沿同一順時針或者逆時針方向的多次90°旋轉，對于被測產品的每個側面，通過第二測量裝置對其進行外形尺寸測量。

6.如權利要求5所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S4中，所述第二測量裝置將被測產品的側面測量結果發送至控制器，控制器控制與被測產品對應的第三提取裝置將側面測量合格的被測產品放在良品tray盤上、將側面測量不合格的被測產品放在不良品tray盤上。

7.如權利要求6所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，在步驟S2之后還包括步驟S201：將空的第一tray盤輸送至所述第三提取裝置的下料區，所述下料區分為良品下料區和不良品下料區，第三提取裝置將側面測量合格的被測產品放在良品下料區上的第一tray盤、即良品tray盤上，第三提取裝置將側面測量不合格的被測產品放在不良品下料區上的第一tray盤、即不良品tray盤上。

8.如權利要求2至7任一項所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，所述第一測量裝置依次對放置在第一測試平臺上的被測產品上表面進行外形尺寸測量。

9.如權利要求8所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，所述第三測量裝置依次對第二提取裝置所提取的被測產品下表面進行外形尺寸測量。

10.如權利要求9所述的一種多面尺寸測量方法，其特征在于，所述第二測量裝置同時對放置在第二測試平臺上的被測產品側面進行外形尺寸測量。