[發明專利]放射性探測系統及用于探測器的測量方法

有效

• 申請號: 202011089362.4
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112630815B
• 公開（公告）日: 2023-09-29
• 發明（設計）人: 王仲奇;柏磊;苗強;邵婕文;司宇;王思佳
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167;G01T7/00;G01B11/00
• 代理公司: 北京市創世宏景專利商標代理有限責任公司 11493
• 代理人: 王鵬鑫

一種放射性探測系統，包括：探測器，所述探測器用于對放射源的放射性進行測量；控制器，所述控制器根據所述探測器和所述放射源的位置信息發出控制信號；調節裝置，所述調節裝置接收來自所述控制器的控制信號，并將所述探測器和/或所述放射源向基于所述控制信號的預定位置移動；位置測量裝置，所述位置測量裝置測量所述探測器和所述放射源的位置并生成位置數據，所述位置測量裝置傳輸所述位置數據至所述控制器；其中，所述控制器將所述位置數據與所述放射源和所述探測器的測量結果配對。本發明通過控制器實現探測過程的自動控制和數據采集，提高探測效率，通過位置測量裝置獲取探測器和放射源的精確位置信息，降低調節精度引起的誤差。

技術領域

本發明涉及探測器測量技術領域，具體涉及一種放射性探測系統及用于探測器的測量方法。

背景技術

伽瑪定量測量技術是核科學與技術領域的重要技術，在許多方面有著廣泛的應用前景和應用需求?，F有分析技術中，要得到測量對象中特定放射性物質的含量，通常需要使用標準樣品對測量裝置進行刻度，即通過對標準樣品的測量，建立測量計數率與放射性物質的含量(放射性核素的活度)之間的對應關系，實現計量標準從標準樣品向測量結果的傳遞。

標準樣品刻度技術需要選用與待測樣品幾何形態、核素一致、介質相同但放射性物質含量可以不同的標準樣品。這樣對于一種測量對象，原則上就需要配置一套標準樣品。在整個核材料循環中，進行定量測量的對象種類繁多，同時標準樣品的制作、成本、使用范圍都存在很大的局限性，因此為諸多種類的測量對象配置相應的標準樣品幾乎是不可能的。

為了改善這種局面，一種被稱為“無源刻度”的刻度方法，逐步得到深入地研究和廣泛地應用。這種無源刻度方法通過建立探測器的計算模型(這個過程通常被稱為“探測器表征”)，采用模擬計算的方法，將測量結果不確定度追溯源頭由標準樣品轉移至標準點源，從而顯著降低了定量測量分析技術對標準樣品的依賴，拓寬了定量測量分析技術的應用范圍。

實際測量與模擬計算的迭代進行是目前實現探測器表征的最佳途徑，而利用探測器對標準放射性點源的精準定位測量是實現實際測量與模擬計算迭代操作的關鍵技術。

在目前實際的探測器表征中，與模擬計算參數相一致的精準定位測量控制要求，給控制系統帶來許多復雜的要求。為了實現探測器表征，通?；蛘邩嫿ㄒ粋€非常復雜的控制臺架或者對操作者提出很高的操作要求。

發明內容

為了解決上述技術問題中的至少一個方面，本發明的實施例提供了一種放射性探測系統及用于探測器的測量方法。

根據本發明的一個方面提供了一種放射性探測系統，其中，包括：探測器，所述探測器用于對放射源的放射性進行測量；控制器，所述控制器根據所述探測器和所述放射源的位置信息發出控制信號；調節裝置，所述調節裝置接收來自所述控制器的控制信號，并將所述探測器和/或所述放射源向基于所述控制信號的預定位置移動；位置測量裝置，所述位置測量裝置測量所述探測器和所述放射源的位置并生成位置數據，所述位置測量裝置傳輸所述位置數據至所述控制器；其中，所述控制器將所述位置數據與所述放射源和所述探測器的測量結果配對。

可選地，還包括承載件，所述承載件用于放置放射源，所述位置測量裝置通過獲取所述承載件的圖像確定所述放射源的位置和姿態。

可選地，所述調節裝置設置成能夠沿預定路徑移動所述承載件。

可選地，所述承載件和所述探測器上均設置測位點，所述位置測量裝置通過獲取所述測位點的圖像來確定所述承載件和所述探測器的位置。

可選地，所述位置測量裝置包括：相機，用于拍攝所述測位點的圖像，所述位置測量裝置基于所述測位點的圖像生成所述探測器和所述放射源的位置數據；光筆，用于與所述探測器和所述放射源接觸，所述相機拍攝所述光筆在多個接觸點時的圖像，所述位置測量裝置通過在所述多個接觸點時的所述光筆的圖像確定所述探測器和所述放射源在其坐標系內的映射關系。