[發明專利]放射性探測系統及用于探測器的測量方法有效
| 申請號: | 202011089362.4 | 申請日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號: | CN112630815B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發明(設計)人: | 王仲奇;柏磊;苗強;邵婕文;司宇;王思佳 | 申請(專利權)人: | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號: | G01T1/167 | 分類號: | G01T1/167;G01T7/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京市創世宏景專利商標代理有限責任公司 11493 | 代理人: | 王鵬鑫 |
| 地址: | 102413 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 放射性 探測 系統 用于 探測器 測量方法 | ||
1.一種放射性探測系統(10),其中,包括:
探測器(100),所述探測器(100)用于對放射源(20)的放射性進行測量;
控制器(200),所述控制器(200)根據所述探測器(100)和所述放射源(20)的位置信息發出控制信號;
調節裝置(300),所述調節裝置(300)接收來自所述控制器(200)的控制信號,并將所述探測器(100)和/或所述放射源(20)向基于所述控制信號的預定位置移動;
位置測量裝置(400),所述位置測量裝置(400)測量所述探測器(100)和所述放射源(20)的位置并生成位置數據,所述位置測量裝置(400)傳輸所述位置數據至所述控制器(200);
其中,所述控制器(200)將所述位置數據與所述放射源(20)和所述探測器(100)的測量結果配對;
其中,用戶通過所述控制器(200)輸入參數,該參數基于對探測器(100)的表征測量方案產生,其中,包括待測的標準點源即所述放射源(20)的特征能量,以及所述放射源(20)和所述探測器(100)的預設位置,所述控制器(200)基于該參數生成用于控制所述調節裝置(300)操作的控制信號,所述調節裝置(300)基于接收到的控制信號向預設位置移動所述探測器(100)和所述放射源(20),當所述調節裝置(300)完成移動調節過程后,所述位置測量裝置(400)對所述探測器(100)和所述放射源(20)的最終位置進行測量,并基于測量結果生成位置數據,該位置數據即為與所述探測器(100)的測量結果和所述放射源(20)的能量對應的精確位置數據,所述位置測量裝置(400)將位置數據傳輸至所述控制器(200),并由所述控制器(200)利用蒙特卡羅方法基于獲取的位置數據和所述放射源(20)的特征能量進行探測效率的模擬計算。
2.根據權利要求1所述的系統(10),其中,還包括承載件(500),所述承載件(500)用于放置放射源(20),所述位置測量裝置(400)通過獲取所述承載件(500)的圖像確定所述放射源(20)的位置和姿態。
3.根據權利要求2所述的系統(10),其中,所述調節裝置(300)設置成能夠沿預定路徑移動所述承載件(500)。
4.根據權利要求3所述的系統(10),其中,所述承載件(500)和所述探測器(100)上均設置測位點,所述位置測量裝置(400)通過獲取所述測位點的圖像來確定所述承載件(500)和所述探測器(100)的位置。
5.根據權利要求4所述的系統(10),其中,所述位置測量裝置(400)包括:
相機(410),用于拍攝所述測位點的圖像,所述位置測量裝置(400)基于所述測位點的圖像生成所述探測器(100)和所述放射源(20)的位置數據;
光筆,用于與所述探測器(100)和所述放射源(20)接觸,所述相機(410)拍攝所述光筆在多個接觸點時的圖像,所述位置測量裝置(400)通過在所述多個接觸點時的所述光筆的圖像確定所述探測器(100)和所述放射源(20)在其坐標系內的映射關系。
6.根據權利要求5所述的系統(10),其中,所述光筆包括測針和本體,所述測針用于接觸所述探測器(100)和所述放射源(20),所述本體上具有標定點,所述相機(410)拍攝所述標定點獲取所述光筆的圖像。
7.根據權利要求6所述的系統(10),其中,所述位置測量裝置(400)還包括紅外光源(420),所述測位點和所述標定點上均設置有靶片(421),所述位置測量裝置(400)通過所述相機(410)捕獲所述靶片(421)反射的紅外光線以確定所述測位點和所述標定點的位置。
8.根據權利要求1所述的系統(10),其中,所示調節裝置(300)包括機械臂(310),所述機械臂(310)基于所述控制信號移動所述放射源(20)。
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