[發(fā)明專利]一種生產(chǎn)線中顯示器故障的實時檢測方法、存儲介質(zhì)和裝置

在審

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• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112215816A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋彥金
• 申請（專利權(quán)）人: 四川極速智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/90
• 代理公司: 成都華風專利事務(wù)所(普通合伙) 51223
• 代理人: 張巨箭

本發(fā)明公開了一種生產(chǎn)線中顯示器故障的實時檢測方法、存儲介質(zhì)和裝置，方法包括：獲取顯示器圖像，所述顯示器圖像的背景包括純色背景、漸變色背景和柵格背景；利用純色背景的顯示器圖像進行純色故障檢測；利用漸變色背景的顯示器圖像進行漸變色故障檢測；利用柵格背景的顯示器圖像進行柵格故障檢測。本發(fā)明分別獲取具有不同背景的顯示器圖像(純色背景、漸變色背景和柵格背景)，對顯示器的不同故障進行檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示器檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種生產(chǎn)線中顯示器故障的實時檢測方法、存儲介質(zhì)和裝置。

背景技術(shù)

液晶顯示技術(shù)在電子信息產(chǎn)業(yè)中得到了廣泛應用，在促進經(jīng)濟發(fā)展方式轉(zhuǎn)變、推動產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)優(yōu)化升級、帶動高新技術(shù)發(fā)展等方面發(fā)揮著重要的作用。伴隨著微電子技術(shù)的迅速發(fā)展，液晶顯示器(Liquid crystal display，LCD)正朝著大畫面、低功耗、輕薄化、高分辨率的方向發(fā)展。

這樣的趨勢在帶來高視覺效果和便攜性等諸多優(yōu)點的同時也會使LCD產(chǎn)生各種顯示缺陷的幾率大大增加。例如，LCD背光模組中廣泛采用的冷陰極熒光燈管(Cold CathodeFluorescent Lamp，CCFL)，當尺寸較大時，光管的中間位置和兩端易產(chǎn)生亮度和顏色的不均勻現(xiàn)象。而由于采用超薄玻璃基板，使LCD在制作過程中極易發(fā)生翹曲，由此會引起顯示上的光學不均勻缺陷，這對大尺寸LCD的生產(chǎn)工藝和缺陷檢測技術(shù)提出了挑戰(zhàn)。對于新一代的顯示器，傳統(tǒng)的人眼缺陷檢測方法很難滿足生產(chǎn)效率、檢測質(zhì)量以及低成本的要求，因此研究快速、客觀、符合人眼判斷標準的自動機器視覺缺陷檢測方法成為發(fā)展液晶顯示技術(shù)的迫切要求和難點所在。

目前絕大多數(shù)的LCD生產(chǎn)廠商在生產(chǎn)線中檢測顯示器缺陷時，仍然沿用傳統(tǒng)人工視覺檢測(Human Visual Inspection，HVI)方法。本發(fā)明提供一種生產(chǎn)線中顯示器缺陷的檢測方法，能有效取代人工視覺檢測(HVI)方法，并解決生產(chǎn)線中工人因受主觀因素的影響以及外界環(huán)境干擾而使得顯示器檢測的誤差較大的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種生產(chǎn)線中顯示器故障的實時檢測方法、存儲介質(zhì)和裝置，有效取代人工視覺檢測(HVI)方法，并解決生產(chǎn)線中工人因受主觀因素的影響以及外界環(huán)境干擾而使得顯示器檢測的誤差較大的問題。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：

本發(fā)明的第一方面，提供一種生產(chǎn)線中顯示器故障的實時檢測方法，包括：

獲取顯示器圖像，所述顯示器圖像的背景包括純色背景、漸變色背景和柵格背景；

利用純色背景的顯示器圖像進行純色故障檢測；

利用漸變色背景的顯示器圖像進行漸變色故障檢測；

利用柵格背景的顯示器圖像進行柵格故障檢測。

進一步地，所述方法還包括：

設(shè)置獲取圖片相機的的參數(shù)，包括相機從開啟到關(guān)閉的時間、采集圖片的速度、像素大小和內(nèi)存空間。

進一步地，所述方法還包括：

在進行純色故障檢測、漸變色故障檢測和柵格故障檢測之前，利用所述顯示器圖像對顯示器進行開機檢測。

進一步地，所述開機檢測包括：

將采集的所有圖片統(tǒng)一進行類型轉(zhuǎn)換；

抓取一張經(jīng)過類型轉(zhuǎn)換的圖片；

分別提取圖片中每個通道的像素值，得到不同通道下的像素陣列；

依次計算每個通道下的像素均值是否小于某個閾值T₁；