[發明專利]被加工物的加工方法在審
| 申請號: | 202011083265.4 | 申請日: | 2020-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN112670241A | 公開(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發明(設計)人: | 山本直子 | 申請(專利權)人: | 株式會社迪思科 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 喬婉;于靖帥 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 加工 方法 | ||
1.一種被加工物的加工方法,在對具有基板和延展性材料層的被加工物進行加工時使用,該基板具有正面和背面,該延展性材料層包含具有延展性的延展性材料且設置于該基板的該正面或該背面上,其中,
該被加工物的加工方法包含如下的步驟:
帶粘貼步驟,將帶粘貼在該被加工物的該基板側;
保持步驟,按照使該延展性材料層露出的方式隔著該帶而利用保持工作臺對該被加工物進行保持;以及
切削步驟,在實施了該保持步驟之后,使該保持工作臺與切削刀具相對地移動,使該切削刀具切入該延展性材料層和該基板,從而對該被加工物進行切削,
在該切削步驟中,按照該切削刀具的位于該切削刀具相對于該保持工作臺的移動方向的前方側的一部分從該延展性材料層朝向該基板而切入的方式使該切削刀具旋轉。
2.根據權利要求1所述的被加工物的加工方法,其中,
該被加工物包含:
該基板,其在該正面側設置有多個器件;以及
該延展性材料層,其設置于該基板的背面上,
該延展性材料層由金屬膜構成。
3.根據權利要求2所述的被加工物的加工方法,其中,
該被加工物的加工方法還包含如下的位置檢測步驟:在實施了該保持步驟之后且在實施該切削步驟之前,根據隔著該保持工作臺和該帶對該基板的該正面進行拍攝而得到的圖像,對使該切削刀具切入的位置進行檢測。
4.根據權利要求1至3中的任意一項所述的被加工物的加工方法,其中,
該被加工物包含由碳化硅構成的該基板。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社迪思科,未經株式會社迪思科許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011083265.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:將力從凸輪軸傳遞到輸出裝置的設備
- 下一篇:紡機的散熱構件的清掃裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





