[發明專利]薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統

在審

• 申請號: 202011077265.3
• 申請日: 2020-10-10
• 公開（公告）號: CN112198341A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 李波
• 申請（專利權）人: 珠海格力新元電子有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R27/02
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;金淼

本發明提供一種薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統，薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭包括殼體、多個觸片、連接線路和通信接口；連接線路設置于殼體內，殼體開設一開口，通信接口設置于開口內，通信接口與連接線路電連接，觸片排列設置于殼體的一面，各觸片與連接線路電連接，觸片的形狀為長條形。長條形的觸片能夠增大測試觸點的接觸面積，有效提高測試高阻值鍍層的穩定性，并且由于觸頭通過通信接口與主機連接，不同型號的觸頭的觸片之間的間距不同，這樣，可根據測試網格尺寸需求更換的測試觸頭，獲得對應型號的測試觸頭，系統可自動獲取該型號的測試觸頭的電阻計算參數，從而測得當前測試方阻值，使得系統可匹配不同形狀的網格安全膜。

技術領域

本發明涉及金屬鍍層電阻測試技術領域，特別涉及一種薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統。

背景技術

在測試薄膜金屬鍍層方塊的電阻(簡稱方阻)時，常規測試方法通常有兩種：兩針法和四針法。行業內比較常用的是采用四探針法測試。金屬鍍層方阻一般幾歐姆到十幾歐姆，采用四針法測試更準確。方阻測試頭采用4根圓柱形1mm銅棒作為觸電接觸進行測試。一方面：由于標準方阻儀固定的測試觸頭，可以滿足傳統的低阻值十幾歐姆以下鍍層方阻測試，在測試高阻值幾十歐姆方阻時，高方阻值膜鍍層薄與與圓柱形小觸頭接觸不穩定，導致測試方阻值變化較大，無法得到一個精確的值。另一方面：由于測試觸頭固定尺寸，當觸頭測試多變的網格安全膜時，一臺設備無法匹配安全膜三角形、六邊形、正方形等多變安全膜網格區域測試。。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統。

一種薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，包括：殼體、多個觸片、連接線路和通信接口；

所述連接線路設置于所述殼體內，所述殼體開設一開口，所述通信接口設置于所述開口內，所述通信接口與所述連接線路電連接，所述觸片排列設置于所述殼體的一面，各所述觸片與所述連接線路電連接，所述觸片的形狀為長條形。

在其中一個實施例中，各所述觸片相互平行。

在其中一個實施例中，各所述觸片為紫銅鍍金片。

在其中一個實施例中，所述觸片的數量為四個。

在其中一個實施例中，四個所述觸片包括依次排列的第一觸片、第二觸片、第三觸片和第四觸片，所述第二觸片和所述第三觸片位于所述第一觸片和所述第四觸片之間，所述第一觸片和所述第二觸片之間的距離等于所述第三觸片和所述第四觸片之間的距離。

在其中一個實施例中，還包括觸發按鈕，所述觸發按鈕設置于所述殼體的一側的表面，所述觸發按鈕與所述連接線路電連接。

在其中一個實施例中，所述通信接口為RJ45接口。

一種薄膜金屬鍍層電阻測試系統，包括主機，還包括上述任一實施例中所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，所述主機與所述薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭電連接。

在其中一個實施例中，所述主機包括電阻測試儀和控制模塊，所述控制模塊與所述電阻測試儀電連接，所述電阻測試儀與所述薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭的所述通信接口電連接。

在其中一個實施例中，所述控制模塊包括觸摸控制屏。

上述薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統，長條形的觸片能夠增大測試觸點的接觸面積，有效提高測試高阻值鍍層的穩定性，并且由于觸頭通過通信接口與主機連接，不同型號的觸頭的觸片之間的間距不同，這樣，可根據測試網格尺寸需求更換的測試觸頭，獲得對應型號的測試觸頭，系統可自動獲取該型號的測試觸頭的電阻計算參數，從而測得當前測試方阻值，使得系統可匹配不同形狀的網格安全膜，使得測試更為靈活。

附圖說明

圖1為一個實施例中的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭的立體結構示意圖；