[發明專利]薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭及測試系統

在審

• 申請號: 202011077265.3
• 申請日: 2020-10-10
• 公開（公告）號: CN112198341A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 李波
• 申請（專利權）人: 珠海格力新元電子有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R27/02
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;金淼

1.一種薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，包括：殼體、多個觸片、連接線路和通信接口；

所述連接線路設置于所述殼體內，所述殼體開設一開口，所述通信接口設置于所述開口內，所述通信接口與所述連接線路電連接，所述觸片排列設置于所述殼體的一面，各所述觸片與所述連接線路電連接，所述觸片的形狀為長條形。

2.根據權利要求1所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，各所述觸片相互平行。

3.根據權利要求1所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，各所述觸片為紫銅鍍金片。

4.根據權利要求1所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，所述觸片的數量為四個。

5.根據權利要求4所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，四個所述觸片包括依次排列的第一觸片、第二觸片、第三觸片和第四觸片，所述第二觸片和所述第三觸片位于所述第一觸片和所述第四觸片之間，所述第一觸片和所述第二觸片之間的距離等于所述第三觸片和所述第四觸片之間的距離。

6.根據權利要求1所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，還包括觸發按鈕，所述觸發按鈕設置于所述殼體的一側的表面，所述觸發按鈕與所述連接線路電連接。

7.根據權利要求1-6任一項中所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，其特征在于，所述通信接口為RJ45接口。

8.一種薄膜金屬鍍層電阻測試系統，包括主機，其特征在于，還包括權利要求1-7任一項中所述的薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭，所述主機與所述薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭電連接。

9.根據權利要求8所述的薄膜金屬鍍層電阻測試系統，其特征在于，所述主機包括電阻測試儀和控制模塊，所述控制模塊與所述電阻測試儀電連接，所述電阻測試儀與所述薄膜金屬鍍層電阻測試觸頭的所述通信接口電連接。

10.根據權利要求9所述的薄膜金屬鍍層電阻測試系統，其特征在于，所述控制模塊包括觸摸控制屏。